zldmЗаводская лаборатория. Диагностика материаловIndustrial laboratory. Diagnostics of materials1028-68612588-0187ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»zldm-100Research ArticleИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И СВОЙСТВ ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ И КОНТРОЛЯSTRUCTURE AND PROPERTIES INVESTIGATION PHYSICAL METHODS OF INVESTIGATION AND MONITORINGВлияние высокотемпературного отжига на анизотропию микротвердости кристаллов семейства лангаситаThe Effect of High-Temperature Annealing on the Microhardness Anisotropy in Crystals of the Langasite (La3Ga5SiO14) FamilyКугаенкоО. М.KugaenkoO. M.crystalxxi@misis.ruТоршинаЕ. С.TorshinaE. S.crystalxxi@misis.ruПетраковВ. С.PetrakovV. S.crystalxxi@misis.ruБузановО. А.BuzanovO. A.noemail@neicon.ruСахаровС. А.SakharovS. A.noemail@neicon.ruНИТУ «МИСиС»Russian FederationОАО «Фомос-Материалс»Russian Federation2015010720158173441Copyright © Кугаенко О.М., Торшина Е.С., Петраков В.С., Бузанов О.А., Сахаров С.А., 20152015Кугаенко О.М., Торшина Е.С., Петраков В.С., Бузанов О.А., Сахаров С.А.Kugaenko O.M., Torshina E.S., Petrakov V.S., Buzanov O.A., Sakharov S.A.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://www.zldm.ru/jour/article/view/100

Исследована микротвердость монокристаллов семейства лантан-галлиевого силиката тригонального класса симметрии 32 пространственной группы Р321 по методу Кнуппа. Обнаружена анизотропия микротвердости II рода (микротвердость различных кристаллографических плоскостей кристалла) на кристаллографических плоскостях (1120), (0110), (0001). Изучено влияние высокотемпературного отжига на восстановление отпечатка после индентирования по методу Кнуппа. Установлено влияние атмосферы отжига на анизотропию микротвердости II рода на основных кристаллографических плоскостях (1120), (0110), (0001) монокристаллов семейства лангасита.

Microhardness of the single crystals from the family of lanthanum gallium silicate (trigonal symmetry class 32, space group P321) is studied by Knoop method. The microhardness anisotropy of the II kind (the microhardness of different crystallographic planes of the crystal) is observed on the crystallographic planes (1120), (0110), (0001. The effect of high temperature annealing on the imprint recovery after indentation is studied by Knoop method. The influence of annealing atmosphere on the microhardness anisotropy of the II kind is observed for the main crystallographic planes (1120), (0110), (0001) of the single crystals of the langasite family.

microhardnessmicrohardness anisotropyKnoop methodmass transfersingle crystals of the langasite familyannealing in vacuum and in airatomic-force microscopy (AFM)микротвердостьанизотропия микротвердостиметод Кнуппамассопереносмонокристаллы семейства лангаситаотжиг в вакууме и на воздухеатомно-силовой микроскоп (АСМ)ReferencesГринев Б.В., Дубовик М.Ф., Толмачев А.В. Оптические монокристаллы сложных оксидных соединений. - Харьков: Институт монокристаллов, 2002. - 251 с.Гринев Б.В., Дубовик М.Ф., Толмачев А.В. Оптические монокристаллы сложных оксидных соединений. - Харьков: Институт монокристаллов, 2002. - 251 с.Mill B.V., Pisarevsky Yu.V. Langasite-type materials: from discovery to present state / Proc. 2000 IEEE Inter. Frequency Control Symp. 2000. P. 133 - 144.Mill B.V., Pisarevsky Yu.V. Langasite-type materials: from discovery to present state / Proc. 2000 IEEE Inter. Frequency Control Symp. 2000. P. 133 - 144.Милль Б.В., Буташин А.В., Ходжабагян Г.Г. и др. Модифицированные редкоземельные галлаты со структурой Ca3Ga2Ge4O14 / Доклады Академии Наук СССР. 1982. Т. 264. № 6.С. 1385- 1389.Милль Б.В., Буташин А.В., Ходжабагян Г.Г. и др. Модифицированные редкоземельные галлаты со структурой Ca3Ga2Ge4O14 / Доклады Академии Наук СССР. 1982. Т. 264. № 6.С. 1385- 1389.Кугаенко О.М., Уварова С.С., Бузанов О.А. и др. Основные теплофизические параметры монокристаллов лангасита (LajGajSiO14, лангатата (La3Ta0,5Ga5,5O14) и катангасита (Ca3Ga2Ge4O14) в интервале температур от комнатной до 1000 °С / Известия РАН. Серия физическая. 2012. Т. 76. С. 1406- 1411.Кугаенко О.М., Уварова С.С., Бузанов О.А. и др. Основные теплофизические параметры монокристаллов лангасита (LajGajSiO14, лангатата (La3Ta0,5Ga5,5O14) и катангасита (Ca3Ga2Ge4O14) в интервале температур от комнатной до 1000 °С / Известия РАН. Серия физическая. 2012. Т. 76. С. 1406- 1411.Андреев И.А. Монокристаллы семейства лангасита - необычное сочетание свойств для применения в акустоэлектронике / Журнал технической физики. 2006. Т. 76. № 76. С. 80-86.Андреев И.А. Монокристаллы семейства лангасита - необычное сочетание свойств для применения в акустоэлектронике / Журнал технической физики. 2006. Т. 76. № 76. С. 80-86.Аронова А.М., Бережкова Г. В., Буташин А.В. и др. Прочность и пластичность монокристаллов La3Ga5SiO14 / Кристаллография. 1990. С. 93.Аронова А.М., Бережкова Г. В., Буташин А.В. и др. Прочность и пластичность монокристаллов La3Ga5SiO14 / Кристаллография. 1990. С. 93.Кугаенко О.М., Уварова С. С., Бузанов О.А. и др. Пластическая деформация пьезоэлектрических кристаллов лантан-галлиевого танталата при циклических механических воздействиях / Деформация и разрушение материалов. 2012. № 2. С. 16-21.Кугаенко О.М., Уварова С. С., Бузанов О.А. и др. Пластическая деформация пьезоэлектрических кристаллов лантан-галлиевого танталата при циклических механических воздействиях / Деформация и разрушение материалов. 2012. № 2. С. 16-21.Колесников Ю.В., Морозов Е.М. Механика контактного разрушения. - М.: Наука, 1989. - 224 с.Колесников Ю.В., Морозов Е.М. Механика контактного разрушения. - М.: Наука, 1989. - 224 с.Sakharov S., Pisarevsky Y., Medvedev A. Surface and volume defects in langasite crystals / Proc. IEEE International Frequency Control Symposium. 1995. P. 642 - 646.Sakharov S., Pisarevsky Y., Medvedev A. Surface and volume defects in langasite crystals / Proc. IEEE International Frequency Control Symposium. 1995. P. 642 - 646.Доморощина Е.H., Кузьмичева Г.М., Рыбаков В.Б., Дубовский А.Б., Тюнина Е.А., Степанов С.Ю. Связь между условиями выращивания, строением и оптическими свойствами кристаллов лангасита - La3Ga5SiO14 / Перспективные материалы. 2004. № 4. С. 17 - 30.Доморощина Е.H., Кузьмичева Г.М., Рыбаков В.Б., Дубовский А.Б., Тюнина Е.А., Степанов С.Ю. Связь между условиями выращивания, строением и оптическими свойствами кристаллов лангасита - La3Ga5SiO14 / Перспективные материалы. 2004. № 4. С. 17 - 30.Бузанов О.А., Диденко И.С., Козлова Н.С., Скрылева Е.А., Козлова А.П., Симинел Н.А. Влияние изотермического отжига на оптические параметры лантан-галлиевого танталата / Известия вузов. Материалы электронной техники. 2012. № 1. С. 22-25.Бузанов О.А., Диденко И.С., Козлова Н.С., Скрылева Е.А., Козлова А.П., Симинел Н.А. Влияние изотермического отжига на оптические параметры лантан-галлиевого танталата / Известия вузов. Материалы электронной техники. 2012. № 1. С. 22-25.Физико-химические свойства окислов. Справочник под редакцией Г.В. Самсонова. - М.: Металлургия, 1978. - 472 с.Физико-химические свойства окислов. Справочник под редакцией Г.В. Самсонова. - М.: Металлургия, 1978. - 472 с.Кугаенко О.М., Петраков В.С., Сагалова Т. Б. и др. Рентгеноструктурные исследования температурной устойчивости структуры кристаллов семейства лангасита / Сборник материалов Третьей международной молодежной научной школы-семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии) и актуальные проблемы рентгеновской оптики». - В. Новгород, 2011. С. 68 - 69.Кугаенко О.М., Петраков В.С., Сагалова Т. Б. и др. Рентгеноструктурные исследования температурной устойчивости структуры кристаллов семейства лангасита / Сборник материалов Третьей международной молодежной научной школы-семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии) и актуальные проблемы рентгеновской оптики». - В. Новгород, 2011. С. 68 - 69.Акчурин М.Ш., Галстян В.Г., Регель В.Р., Рожанский В.Н. Микрокадотолюминесцентное исследование перемещения точечных дефектов при индентировании тугоплавких кристаллов / Поверхность. Физика, химия, механика. 1983. № 3. С. 119-123.Акчурин М.Ш., Галстян В.Г., Регель В.Р., Рожанский В.Н. Микрокадотолюминесцентное исследование перемещения точечных дефектов при индентировании тугоплавких кристаллов / Поверхность. Физика, химия, механика. 1983. № 3. С. 119-123.Акчурин М.Ш., Галстян В.Г., Регель В.Р. О природе деформирования кристаллов сосредоточенной нагрузкой. РЭМ исследования / Изв. АН СССР. Сер. Физика. 1991. Т. 5. № 8. С. 1556- 1567.Акчурин М.Ш., Галстян В.Г., Регель В.Р. О природе деформирования кристаллов сосредоточенной нагрузкой. РЭМ исследования / Изв. АН СССР. Сер. Физика. 1991. Т. 5. № 8. С. 1556- 1567.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.