<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">zldm</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Заводская лаборатория. Диагностика материалов</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Industrial laboratory. Diagnostics of materials</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1028-6861</issn><issn pub-type="epub">2588-0187</issn><publisher><publisher-name>ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.26896/1028-6861-2019-85-10-35-42</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">zldm-1082</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И СВОЙСТВ. ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ И КОНТРОЛЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>TESTING OF STRUCTURE AND PARAMETERS. PHYSICAL METHODS OF TESTING AND QUALITY CONTROL</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Установки для рентгеновского контроля (обзор)</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Design of X-ray units for inspection applications (review)</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Потрахов</surname><given-names>Н. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Potrakhov</surname><given-names>N. N.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Николай Николаевич Потрахов</p><p>197376, Санкт-Петербург, ул. Профессора Попова 5</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Nikolay N. Potrakhov</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Бессонов</surname><given-names>В. Б.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Bessonov</surname><given-names>V. B.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Виктор Борисович Бессонов</p><p>197376, Санкт-Петербург, ул. Профессора Попова 5</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Victor B. Bessonov</p><p>Ul. Professora Popova 5, St. Petersburg, 197376</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ободовский</surname><given-names>А. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Obodovskiy</surname><given-names>A. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Анатолий Владимирович Ободовский</p><p>197376, Санкт-Петербург, ул. Профессора Попова 5</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Anatoliy V. Obodovskiy</p><p>Ul. Professora Popova 5, St. Petersburg, 197376</p></bio><email xlink:type="simple">obodovsky@yandex.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Грязнов</surname><given-names>А. Ю.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Gryaznov</surname><given-names>A. Yu.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Артем Юрьевич Грязнов</p><p>197376, Санкт-Петербург, ул. Профессора Попова 5</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Artem Yu. Gryaznov</p><p>Ul. Professora Popova 5, St. Petersburg, 197376</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Клонов</surname><given-names>В. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Klonov</surname><given-names>V. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Владимир Валерьевич Клонов</p><p>197376, Санкт-Петербург, ул. Профессора Попова 5</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Vladimir V. Klonov</p><p>Ul. Professora Popova 5, St. Petersburg, 197376</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Мазуров</surname><given-names>А. И.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Mazurov</surname><given-names>А. I.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Анатолий Иванович Мазуров</p><p>198188, Санкт-Петербург, Волхонское ш., квартал 2, д. 4Б</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Anatoliy I. Mazurov</p><p>Volhonskoe shosse, kvartal 2, d. 4B, St. Petersburg, 198188</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» имени В.И. Ульянова (Ленина)</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>St. Petersburg Electrotechnical University ETU «LETI»</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru"><institution>НИПК Электрон</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>NIPK Elektron</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2019</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>29</day><month>10</month><year>2019</year></pub-date><volume>85</volume><issue>10</issue><fpage>35</fpage><lpage>42</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Потрахов Н.Н., Бессонов В.Б., Ободовский А.В., Грязнов А.Ю., Клонов В.В., Мазуров А.И., 2019</copyright-statement><copyright-year>2019</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Потрахов Н.Н., Бессонов В.Б., Ободовский А.В., Грязнов А.Ю., Клонов В.В., Мазуров А.И.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Potrakhov N.N., Bessonov V.B., Obodovskiy A.V., Gryaznov A.Y., Klonov V.V., Mazurov А.I.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.zldm.ru/jour/article/view/1082">https://www.zldm.ru/jour/article/view/1082</self-uri><abstract><p>Представлен обзор конструктивных элементов (отдельных компонентов, печатных плат и др.) рентгеновских систем для контроля изделий электронной техники. Приведены основные принципы построения подобных систем и типовой состав оборудования для обеспечения минимально необходимой функциональности. Среди основных технических характеристик выделена разрешающая способность, зависящая от размеров пикселя, толщины слоя сцинтиллятора детектора рентгеновского излучения и размеров эффективного фокусного пятна рентгеновской трубки. Проведен сравнительный анализ преимуществ и недостатков разборных (открытого типа) и отпаянных (закрытого типа) рентгеновских трубок — одного из основных узлов подобных систем. Представлены структурная схема разборной рентгеновской трубки, характеристики отечественных и зарубежных разработок. Отмечены основные недостатки систем на основе разборных трубок: большие габариты и масса, относительная сложность конструкции, наличие вакуум-плотных разборных соединений, необходимость откачной системы с высоким вакуумом и высоковольтной тренировки узлов трубки после их замены. Приведены конструкции отпаянной микрофокусной рентгеновской трубки БС и источника излучения на ее основе (параметры отдельных конструктивных элементов: диаметр и длина металлостеклянного баллона — 75 и 315, диаметр и длина медной анодной трубы — 10 и 100 мм). Вольфрамовая мишень нанесена на бериллиевую подложку (выходное окно рентгеновской трубки) толщиной 0,2 мм, минимальное фокусное расстояние при рентгеновской съемке — 0,5 мм. При сравнении характеристик разборной рентгеновской трубки с постоянной откачкой и рентгеновской трубки, отпаянной от вакуумного поста, сделан вывод об успешности использования последней в современных системах рентгеновского контроля.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>A review of the structural elements (individual components, printed circuit boards, etc.) of X-ray systems intended for inspection of electronic products is presented. The basic principles of constructing such systems and typical composition of the equipment capable of providing the minimum necessary functionality are considered. Among the main technical characteristics an emphasis is made on the resolution power, which depends on the pixel size and thickness of the scintillator layer of the X-ray detector, as well as on the size of the effective focal spot of the X-ray tube. Comparative analysis of the advantages and shortcomings of clastic (open type) and sealed (closed type) X-ray tubes – one of the main nodes of such systems-is carried out. A structural diagram of a clastic X-ray tube is presented along with and the characteristics of domestic and foreign developments. The main disadvantages of the systems based on clastic tubes are considered. Large dimensions, large weight, relative complexity of the construction, presence of the vacuum-tight collapsible connections, the necessity of using a pumping system providing high vacuum, the necessity of high-voltage training of the tube assemblies after their replacement, and high cost are noted separately. The design of sealed off BS microfocus X-ray tube and radiation sources on their base which can be used in the development of domestic X-ray systems are briefly described. The diameter and length of the metal-glass cylinder tube are 75 and 315 mm, and the diameter and length of the copper anode tube 10 and 100 mm, respectively. A tungsten target is deposited on a beryllium substrate (X-ray tube exit window) with a thickness of 0.2 mm. The minimum focal length during x-ray photography is 0.5 mm. A comparative analysis of the characteristics of a clastic (collapsible) X-ray tube with continuous pumping and an X-ray tube sealed from an exhaust cart revealed the possibility of successful use of sealed tubes in modern X-ray systems used for inspection applications.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>рентгеновские системы</kwd><kwd>рентгеновская трубка с постоянной откачкой</kwd><kwd>отпаянная рентгеновская трубка</kwd><kwd>неразрушающий контроль</kwd><kwd>инспекция</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>X-ray systems</kwd><kwd>open X-ray tube</kwd><kwd>closed X-ray tube</kwd><kwd>non-destructive testing</kwd><kwd>inspection</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пирогова Е. В. Проектирование и технология печатных плат: учеб. для вузов. — М.: Форум, 2005. — 560 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pirogova E. V. PCB Design and Technology. — Moscow: Forum, 2005. — 560 p. [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Баканов Г. Ф., Соколов С. С., Суходольский В. Ю. Основы конструирования технологии радиоэлектронных средств. — М.: Akademia, 2007. — 363 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bakanov G. F., Sokolov S. S., Sukhodolskiy V. Yu. Basics of designing radio electronic technology. — Moscow: Akademia, 2007. — 363 p. [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Коледов Л. А. Технология и конструкции микросхем, микропроцессоров и микросборок: учеб. для вузов. — СПб.: Лань, 2008. — 400 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Koledov L. A. Technology and design of microcircuits, microprocessors and microassemblies. — St. Petersburg: Lan’, 2008. — 400 p. [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Шмаков М. Выбор системы рентгеновского контроля. Взгляд технолога / Технологии в электронной промышленности. 2006. № 4. С. 33 – 40.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Shmakov M. The choice of x-ray control system. Technologist’s view / Tekhnol. Élektron. Promyshl. 2006. N 4. P. 33 – 40 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гаранин А. Критерии выбора установки рентгеновского контроля: необходимо и достаточно / Электроника. Наука. Технология. Бизнес. 2012. № 6. С. 170 – 177.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Garanin A. Criteria for choosing an X-ray unit: necessary and sufficient / Élektron. Nauka. Tekhnol. Biznes. 2012. N 6. P. 170 – 177 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Артемьев Б. В., Буклей А. А. Радиационный контроль: учеб. пособие / Под. общ. ред. В. В. Клюева. — М.: Спектр, 2013. — 192 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Artemyev B. V., Bukley A. A. Radiation monitoring: study guide. — Moscow: Spektr, 2013. — 192 p. [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Грязнов А. Ю., Жамова К. К., Бессонов В. Б., Лившиц А. О., Кунашик Е. С. Методика получения псевдоцветных рентгеновских изображений в двухэнергетичной рентгенографии / Биотехносфера. 2014. № 3(33). С. 17 – 20.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gryaznov A. Yu., Zhamova K. K., Bessonov V. B., Livshits A. O., Kunashik E. S. Methods of obtaining pseudo-color X-ray images in dual-energy X-ray / Biotekhnosfera. 2014. N 3(33). P. 17 – 20 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Staroverov N. E., Kholopova E. D., Gryaznov A. Yu., Zhamova K. K. Development of digital processing method of microfocus X-ray images / Journal of Physics: Conference Series. 2017. Vol. 808. N 1. P. 34 – 38.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Staroverov N. E., Kholopova E. D., Gryaznov A. Yu., Zhamova K. K. Development of digital processing method of microfocus X-ray images / Journal of Physics: Conference Series. 2017. Vol. 808. N 1. P. 34 – 38.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Свидетельство о государственной регистрации программы на ЭВМ № 2018612318. Программа управления динамическим детектором рентгеновского излучения / Ободовский А. В., Бессонов В. Б., Ларионов И. А., Клонов В. В. Заявка № 2017663475 от 25.12.2017. Регистрация 15.02.2018.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Computer program state registration certificate N 2018612318. The program control dynamic X-ray detector / Obodovskiy A. V., Bessonov V. B., Larionov I. A., Klonov V. V. 25.12.17 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Иванов С. А., Щукин Г. А. Рентгеновские трубки технического назначения. — Л.: Энергоатомиздат, 1989. — 200 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ivanov S. A., Shchukin G. A. X-ray tubes for technical purposes. — Leningrad: Énergoatomizdat, 1989. — 200 p. [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Heinrich K., Newbury D., Yakowitz H. (eds.). Use of Monte Carlo calculations in electron probe microanalysis and scanning electron microscopy: proceedings of a workshop held at the National Bureau of Standards. — Gaithersburg, Maryland, 1975. — 164 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Heinrich K., Newbury D., Yakowitz H. (eds.). Use of Monte Carlo calculations in electron probe microanalysis and scanning electron microscopy: proceedings of a workshop held at the National Bureau of Standards. — Gaithersburg, Maryland, 1975. — 164 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Иванов С. А., Чигак Ф. Ф. Рентгеновские трубки с мишенями «прострельного» типа и характеристики их излучения / Приборы для исследования физических свойств материала. — Киев: Наукова думка, 1974. С. 61 – 65.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ivanov S. A., Chigak F. F. X-ray tubes with targets of a «shooting through» type and characteristics of their radiation / Instruments for studying the physical properties of a material. — Kiev: Naukova dumka, 1974. P. 61 – 65 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Drouin D., Couture A., Joly D. CASINO V2.42 — A Fast and Easy-to-use Modeling Tool for Scanning Electron Microscopy and Microanalysis Users / Scanning. 2007. Vol. 29. P. 92 – 101.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Drouin D., Couture A., Joly D. CASINO V2.42 — A Fast and Easy-to-use Modeling Tool for Scanning Electron Microscopy and Microanalysis Users / Scanning. 2007. Vol. 29. P. 92 – 101.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Быстров Ю. А., Иванов С. А. Рентгеновская техника и ускорительные приборы: учеб. для вузов. — М.: Высшая школа, 1983. — 288 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bystrov Yu. A., Ivanov S. A. X-ray technology and accelerator devices. — Moscow: Vysshaya shkola, 1983. — 288 p. [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Подымский А. А. Мощные рентгеновские трубки для проекционной рентгенографии: дис. ... канд. тех. наук. — М., 2016. — 140 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Podymsky A. A. Powerful X-ray tubes for X-ray projection: Candidate’s Thesis. — Moscow, 2016. — 140 p. [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Иванов С. А., Иоффе Ю. К., Кириенко С. В. и др. Малогабаритные источники рентгеновского излучения / Обзоры по электронной технике. Сер. 4. 1987. Вып. 4.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ivanov S. A., Ioffe Yu. K., Kirienko S. V. Compact X-ray Sources / Obzory Élektron. Tekhn. Ser. 4. 1987. Issue 4 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Подымский А. А., Потрахов Н. Н. Микрофокусные рентгеновские трубки нового поколения / Контроль. Диагностика. 2017. № 4. С. 4 – 8.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Podymskiy A. A., Potrakhov N. N. New generation microfocus X-ray tubes / Kontrol. Diagnostika. 2017. N 4. P. 4 – 8 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пат. 2278440 РФ, МПК H01J35/02, H05G1/02, A61B6/03. Моноблок источника рентгеновского излучения. / Потрахов Н. Н., Мухин В. М.; заявитель и патентообладатель Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» имени В. И. Ульянова (Ленина) (RU). — № 200511181309/09; заявл. 20.04.05; опубл. 20.06.05. Бюл. № 17.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pat. 2278440 RF, MPK H01J35/02, H05G1/02, A61B6/03. X-ray source monoblock / Potrakhov N. N., Mukhin V. M.; applicant and owner St. Petersburg State Electro-Tech. Univ. «LETI» (RU). — N 200511181309/09; appl. 20.04.05; publ. 20.06.05. Byull. N 17 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бессонов В. Б., Ободовский А. В., Клонов В. В., Кострин Д. К. Микрофокусная компьютерная томография — новый метод исследования микроминиатюрных объектов / Евразийский союз ученых. 2014. № 5-3(5). С. 12 – 15.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bessonov V. B., Obodovskiy A. V., Klonov V. V., Kostrin D. K. Microfocal computed tomography — a new method for the study of microminiature objects / Evraz. Soyuz Uch. 2014. N 5 – 3 (5). P. 12 – 15 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit20"><label>20</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Hamamatsu — X-ray source. http://www.hamamatsu.com (дата обращения 20.12.2018).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Hamamatsu — X-ray source. http://www.hamamatsu.com (accessed 20.12.2018).</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
