Михаил Викторович Кудряшов
603022, г. Нижний Новгород, пр. Гагарина, д. 23
Mikhail V Kudryashov
603022, Nizhny Novgorod, pr. Gagarina, 23
Николай Викторович Сомов
603022, г. Нижний Новгород, пр. Гагарина, д. 23
Nikolay V Somov
603022, Nizhny Novgorod, pr. Gagarina, 23
При исследовании поглощения рентгеновского излучения, как правило, предполагают, что линейный коэффициент поглощения постоянен во всем объеме исследуемого образца. Однако он может меняться в различных частях кристалла, например, вследствие дефектов, неоднородного вхождения примесных и допирующих элементов. В работе представлены результаты исследования особенностей поглощения рентгеновского излучения кристаллическим образцом сферической формы в предположении, что коэффициент поглощения описывается некоей функцией координат. Предложены методы коррекции дифракционных данных для подобных кристаллов и численного расчета поправок на поглощение для интенсивностей рефлексов. Показано, что неоднородность поглощения в сферическом образце может оказывать существенное влияние на интенсивность рефлексов, регистрируемых при проведении дифракционного эксперимента в рамках рентгеноструктурного анализа (РСА). Установлено, что коэффициент ослабления дифрагированного пучка зависит от направления градиента коэффициента поглощения. Полученные результаты могут быть использованы при проведении прецизионного РСА кристаллов некоторых твердых растворов. Результаты моделирования поглощения рентгеновского излучения образцами с разными законами изменения могут применяться при выявлении образцов с неоднородным составом.
When studying the absorption of X-rays, that the linear absorption coefficient is usually assumed constant throughout the entire volume of the sample under study. However, it can vary in different parts of the crystal, e.g., due to defects present or inhomogeneous inclusion of impurity and doping elements. The results of studying the features of X-ray absorption by a spherical crystalline sample under an assumption that the absorption coefficient is described by a certain function of coordinates are presented. Methods for correcting the diffraction data for such crystals, as well as numerical calculations of the absorption corrections for reflection intensities are proposed. It is shown that the inhomogeneity of absorption in a spherical sample can have a significant effect on the intensity of reflections recorded during a diffraction experiment in the framework of X-ray diffraction analysis (XKD). It is revealed that the attenuation coefficient of a diffracted beam depends on the direction of the absorption coefficient gradient. The results obtained can be used in precision X-ray diffraction analysis of the crystals of some solid solutions. The results of modeling the absorption of X-ray radiation by the samples with different laws of change in the absorption coefficient can be used to identify samples with an inhomogeneous composition.
The authors declare that there are no conflicts of interest present.