<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">zldm</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Заводская лаборатория. Диагностика материалов</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Industrial laboratory. Diagnostics of materials</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1028-6861</issn><issn pub-type="epub">2588-0187</issn><publisher><publisher-name>ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">zldm-203</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И СВОЙСТВ ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ И КОНТРОЛЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>STRUCTURE AND PROPERTIES INVESTIGATION PHYSICAL METHODS OF INVESTIGATION AND MONITORING</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>МЕТОД ИЗГОТОВЛЕНИЯ МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИХ ШЛИФОВ ДЛЯ ДИФРАКЦИИ ОБРАТНОРАССЕЯННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Method of Metallographic Sample Preparation for Electron Backscatter Diffraction(EBSD)</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Завдовеев</surname><given-names>А. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Zavdoveev</surname><given-names>A. V.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">avzavdoveev@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Пашинская</surname><given-names>Е. Г.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Pashinskaya</surname><given-names>E. G.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Варюхин</surname><given-names>В. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Varyukin</surname><given-names>V. N.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Бурховецкий</surname><given-names>В. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Burhovetcky</surname><given-names>V. V.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Верцанова</surname><given-names>Е. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Vertsanova</surname><given-names>E. V.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Максакова</surname><given-names>А. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Maksakova</surname><given-names>A. A.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Институт электросварки им. Е. О. Патона НАН Украины</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>Донецкий физико-технический институт им. А. А. Галкина НАН Украины</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-3"><institution>ТОВ «Мелитэк»</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2016</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>01</day><month>02</month><year>2016</year></pub-date><volume>82</volume><issue>2</issue><fpage>32</fpage><lpage>35</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Завдовеев А.В., Пашинская Е.Г., Варюхин В.Н., Бурховецкий В.В., Верцанова Е.В., Максакова А.А., 2016</copyright-statement><copyright-year>2016</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Завдовеев А.В., Пашинская Е.Г., Варюхин В.Н., Бурховецкий В.В., Верцанова Е.В., Максакова А.А.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Zavdoveev A.V., Pashinskaya E.G., Varyukin V.N., Burhovetcky V.V., Vertsanova E.V., Maksakova A.A.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.zldm.ru/jour/article/view/203">https://www.zldm.ru/jour/article/view/203</self-uri><abstract><p>Предложен новый метод изготовления металлографических шлифов для проведения экспериментов по дифракции обратнорассеянных электронов (ДОЭ) в камере сканирующего электронного микроскопа. Метод позволяет проводить холодную заливку металлических образцов в токопроводящий наполнитель для последующей подготовки шлифов и электрополировки. Металлический образец заливают композитом, состоящим из самотвердеющей пластмассы «Протокрил-М», порошка карбонильного железа и железных стружек дисперсностью порядка 100 мкм, что обеспечивает достаточную проводимость не только для съемки образца в сканирующем микроскопе, но и для электрополировки. В отличие от самотвердеющих, токопроводящих копмозитов, требующих нагрева до 150 °C, предложенный композит полимеризуется уже при комнатной температуре.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>A new method of manufacturing metallographic samples for electron backscatter diffraction (EBSD) in a chamber of scanning electron microscope is developed. An important feature of the method consists in the possibility of cold pouring of metal samples into conductive filler for subsequent preparation of the samples and electropolishing. The metal sample is poured with a composite consisting of a self-hardening plastic “Protokril M,” carbonyl iron powder and iron turnings about 100 μm which provide sufficient conductivity not only for shooting of the sample in a scanning microscope, but also for electropolishing. The developed composite unlike self-hardening conductive analogues that require heating to 150°C polymerizes at room temperature which is an important advantage.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>металлографические шлифы</kwd><kwd>дифракция обратнорассеянных электронов</kwd><kwd>сталь</kwd><kwd>медь</kwd><kwd>титан</kwd><kwd>алюминий</kwd><kwd>metallographic samples</kwd><kwd>electron backscattered diffraction</kwd><kwd>steel</kwd><kwd>copper</kwd><kwd>titanium</kwd><kwd>aluminum</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Варюхин В. H., Пашинская Е. Г., Завдовеев А. В., Бурховецкий В. В. Возможности метода дифракции обратнорассеянных электронов для анализа структуры деформированных материалов. - Киев: Наукова Думка, 2014. - 104 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Варюхин В. H., Пашинская Е. Г., Завдовеев А. В., Бурховецкий В. В. Возможности метода дифракции обратнорассеянных электронов для анализа структуры деформированных материалов. - Киев: Наукова Думка, 2014. - 104 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Вассерман Г. Текстуры металлических материалов. - М.: Металлургия, 1969. - 655 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Вассерман Г. Текстуры металлических материалов. - М.: Металлургия, 1969. - 655 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Sample preparation for EBSD - oxford instruments. [Электронный ресурс]: URL: http://www.ebsd.com/index.php/ebsd-analysis/ebsd-expe-rimental-techniques/sample-preparation.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sample preparation for EBSD - oxford instruments. [Электронный ресурс]: URL: http://www.ebsd.com/index.php/ebsd-analysis/ebsd-expe-rimental-techniques/sample-preparation.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Nowell M., Witt R., True B. EBSD Sample Preparation: Techniques, Tips and Tricks / Microsc. Microanal. Vol. 11. Suppl. 2. 2005. P. 504 505.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Nowell M., Witt R., True B. EBSD Sample Preparation: Techniques, Tips and Tricks / Microsc. Microanal. Vol. 11. Suppl. 2. 2005. P. 504 505.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пат. 2009267 РФ. МПК С23С8/00. Способ изготовления металлографических шлифов/ Шулов В. А., Ремнев Г. Е., Ночовная Н. А., Полякова И. Г., Лишутин Б. Ю. Заявл. 06.03.1992; опубл. 15.03.1994.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Пат. 2009267 РФ. МПК С23С8/00. Способ изготовления металлографических шлифов/ Шулов В. А., Ремнев Г. Е., Ночовная Н. А., Полякова И. Г., Лишутин Б. Ю. Заявл. 06.03.1992; опубл. 15.03.1994.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ConduFast, Struers [Электронный ресурс]: URL: https://e-shop.stru-ers.com/DK/EN/products/Mounting/Diamond_cut-off_wheels/ ConduFast_1_kg(40100039).aspx</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ConduFast, Struers [Электронный ресурс]: URL: https://e-shop.stru-ers.com/DK/EN/products/Mounting/Diamond_cut-off_wheels/ ConduFast_1_kg(40100039).aspx</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
