zldmЗаводская лаборатория. Диагностика материаловIndustrial laboratory. Diagnostics of materials1028-68612588-0187ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»zldm-23Research ArticleСтатьиОптимальная система освещения входной щели многоканальных спектрометров «Гранд» и «Экспресс»Optimum System for Illuminating the Entrance Slit of Grand and Ékspress Multichannel SpectrometersЗарубинИ. А.ZarubinI. A.zarubin@vmk.ruЛабусовВ. А.LabusovV. A.noemail@neicon.ruБоккД. Н.BockD. N.noemail@neicon.ruИнститут автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»Russian FederationИнститут автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»; Новосибирский государственный технический университетRussian Federation201501012015811114116Copyright © Зарубин И.А., Лабусов В.А., Бокк Д.Н., 20152015Зарубин И.А., Лабусов В.А., Бокк Д.Н.Zarubin I.A., Labusov V.A., Bock D.N.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://www.zldm.ru/jour/article/view/23

Созданы ахроматы и система освещения входной щели на их основе для спектрометров с рабочим диапазоном 190 - 470 нм. Приведена зависимость остаточных хроматических аберраций ахроматов от длины волны. Показано, что на освещенность входной щели не влияет смещение разряда в пределах ±3 мм.

Achromatic lenses and a system for illuminating the entrance slit are developed for the spectrometers operating in the range of 190 - 470 nm. The dependence of the residual chromatic aberrations of the achromatic lenses on the wavelength is presented. It is shown that the illumination of the entrance slit is insensitive to the discharge displacement within ±3 mm.

система освещения входной щелиспектрометрлинзаахроматический конденсорZemaxillumination system for entrance slitspectrometerlensachromatic condenserZemaxReferencesПрокофьев В. К. Фотографические методы количественного спектрального анализа металлов и сплавов. Ч. 1. - М.: Гостехиздат, 1951. С. 156 - 162.Прокофьев В. К. Фотографические методы количественного спектрального анализа металлов и сплавов. Ч. 1. - М.: Гостехиздат, 1951. С. 156 - 162.Лабусов В. А., Путьмаков А. Н., Зарубин И. А., Гаранин В. Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 7 - 13.Лабусов В. А., Путьмаков А. Н., Зарубин И. А., Гаранин В. Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 7 - 13.Нагибина И. М., Прокофьев В. К. Спектральные приборы и техника спектроскопии. Изд. 2-е, доп. и перераб. - Л.: «Машиностроение», 1967. - 324 с.Нагибина И. М., Прокофьев В. К. Спектральные приборы и техника спектроскопии. Изд. 2-е, доп. и перераб. - Л.: «Машиностроение», 1967. - 324 с.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.