zldmЗаводская лаборатория. Диагностика материаловIndustrial laboratory. Diagnostics of materials1028-68612588-0187ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»zldm-230Research ArticleАНАЛИЗ ВЕЩЕСТВАSUBSTANCES ANALYSISАтомно-эмиссионное определе ние цинка в полистиролеAto-mic-Emission Determination of Zinc in PolystyreneАхсановаО. Л.AkhsanovaO. L.ool1979@mail.ruЗагитовР. М.ZagitovR. M.noemail@neicon.ruТрифоноваО. М.TrifonovaO. M.noemail@neicon.ruПАО «Нижнекамскнефтехим»Russian Federation2016010420168242225Copyright © Ахсанова О.Л., Загитов Р.М., Трифонова О.М., 20162016Ахсанова О.Л., Загитов Р.М., Трифонова О.М.Akhsanova O.L., Zagitov R.M., Trifonova O.M.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://www.zldm.ru/jour/article/view/230

Описана методика атомно-эмиссионного определения цинка в полистирольных пластиках. Подобраны оптимальные условия регистрации спектров и состав спектрального буфера. Благодаря синтезированным градуировочным образцам, имитирующим состав исследуемых промышленных проб, удалось добиться снижения погрешности анализа до 15 % отн.

A procedure of atomic-emission determination of zinc in polystyrene plastics is presented. Optimal conditions of spectra recording and spectral buffer composition are specified. The use of synthesized calibration specimens imitating a matrix of considered industrial samples provided reduction of the error not of analysis up to 15 % rel.

atomic-emission analysisalternative current arcpolystyrenegraphite supporterstandard (reference)samplesатомно-эмиссионный анализдуга переменного токаполистиролграфитовая основастандартные образцыReferencesЦвайфель X., Маер Р. Д., Шиллер М. Добавки к полимерам / Пер. с англ. - СПб.: Профессия, 2010. - 1138 с.Цвайфель X., Маер Р. Д., Шиллер М. Добавки к полимерам / Пер. с англ. - СПб.: Профессия, 2010. - 1138 с.Егорова Е. И., Копернамусов В. Б. Основы технологии полистирольных пластиков. - СПб.: Химиздат, 2005. - 272 с.Егорова Е. И., Копернамусов В. Б. Основы технологии полистирольных пластиков. - СПб.: Химиздат, 2005. - 272 с.Маслова И. П. Химические добавки к полимерам: справочник. - М.: Химия, 1973.-272 с.Маслова И. П. Химические добавки к полимерам: справочник. - М.: Химия, 1973.-272 с.Вторичная переработка пластмасс / Под ред. Ф. Ла Мантия. Пер. с англ. - СПб.: Профессия, 2007. - 397 с.Вторичная переработка пластмасс / Под ред. Ф. Ла Мантия. Пер. с англ. - СПб.: Профессия, 2007. - 397 с.Отмахов В. И., Петрова Е. В. Оптимизация условий проведения атомно-эмиссионного спектрального анализа порошковых проб сложного состава на графитовой основе / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. С. 82 - 85.Отмахов В. И., Петрова Е. В. Оптимизация условий проведения атомно-эмиссионного спектрального анализа порошковых проб сложного состава на графитовой основе / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. С. 82 - 85.Ахсанова О. Л., Гилаева Г. В., Загитов Р. М., Никанорова В. Н. О некоторых возможностях улучшения метрологических характеристик методики атомно-эмиссионного анализа донных отложений / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 3. С. 16-18.Ахсанова О. Л., Гилаева Г. В., Загитов Р. М., Никанорова В. Н. О некоторых возможностях улучшения метрологических характеристик методики атомно-эмиссионного анализа донных отложений / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 3. С. 16-18.Комиссарова Л. H., Моисеенко Е. П., Заксас Н. П., Сапрыкин А. И. Прямой атомно-эмиссионный спектральный анализ оксида вольфрама с использованием дуги постоянного тока и двухструйной дуговой плазмы / Аналитика и контроль. 2010. Т. 14. №2. С. 73-81.Комиссарова Л. H., Моисеенко Е. П., Заксас Н. П., Сапрыкин А. И. Прямой атомно-эмиссионный спектральный анализ оксида вольфрама с использованием дуги постоянного тока и двухструйной дуговой плазмы / Аналитика и контроль. 2010. Т. 14. №2. С. 73-81.Спектральный анализ чистых веществ / Под ред. Х. И. Зильберштейна. - Л.: Химия, 1971. -415 с.Спектральный анализ чистых веществ / Под ред. Х. И. Зильберштейна. - Л.: Химия, 1971. -415 с.ГОСТ Р 50019.1-92. Графит. Метод определения насыпной плотности. - М., 1992. - 4 с.ГОСТ Р 50019.1-92. Графит. Метод определения насыпной плотности. - М., 1992. - 4 с.Кюрегян С. К. Эмиссионный спектральный анализ нефтепродуктов. - М.: Химия, 1969. - 296 с.Кюрегян С. К. Эмиссионный спектральный анализ нефтепродуктов. - М.: Химия, 1969. - 296 с.Заксас Н. П., Шелпакова И. Р., Герасимов В. Г. Атомно-эмиссионное определение микроэлементов в порошковых пробах разной природы с возбуждением спектров в двухструйном дуговом плазмотроне / Журн. аналит. химии. 2004. Т. 59. № 3. С. 254 - 260.Заксас Н. П., Шелпакова И. Р., Герасимов В. Г. Атомно-эмиссионное определение микроэлементов в порошковых пробах разной природы с возбуждением спектров в двухструйном дуговом плазмотроне / Журн. аналит. химии. 2004. Т. 59. № 3. С. 254 - 260.Лисиенко Д. Г., Домбровская М. А. Стандартные образцы состава графитового коллектора микропримесей: синтез, аттестация, применение / Аналитика и контроль. 2005. Т. 9. № 3. С. 285 - 294.Лисиенко Д. Г., Домбровская М. А. Стандартные образцы состава графитового коллектора микропримесей: синтез, аттестация, применение / Аналитика и контроль. 2005. Т. 9. № 3. С. 285 - 294.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.