<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">zldm</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Заводская лаборатория. Диагностика материалов</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Industrial laboratory. Diagnostics of materials</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1028-6861</issn><issn pub-type="epub">2588-0187</issn><publisher><publisher-name>ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">zldm-25</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Программное обеспечение атомно-эмиссионного спектрального анализа. Программа «Атом»</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Software for Atomic Emission Spectral Analysis. «Atom» Software</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Гаранин</surname><given-names>В. Г.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Garanin</surname><given-names>V. G.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">vs@vmk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Неклюдов</surname><given-names>О. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Nekludov</surname><given-names>O. A.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">vs@vmk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Петроченко</surname><given-names>Д. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Petrochenko</surname><given-names>D. V.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">vs@vmk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Семёнов</surname><given-names>З. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Semenov</surname><given-names>Z. V.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">vs@vmk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Панкратов</surname><given-names>С. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Pankratov</surname><given-names>S. V.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">vs@vmk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ващенко</surname><given-names>П. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Vashchenko</surname><given-names>P. V.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">vs@vmk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>ООО «ВМК-Оптоэлектроника»</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>ООО «ВМК-Оптоэлектроника»; Институт автоматики и электрометрии СО РАН</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2015</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>01</day><month>01</month><year>2015</year></pub-date><volume>81</volume><issue>1</issue><fpage>121</fpage><lpage>127</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Гаранин В.Г., Неклюдов О.А., Петроченко Д.В., Семёнов З.В., Панкратов С.В., Ващенко П.В., 2015</copyright-statement><copyright-year>2015</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Гаранин В.Г., Неклюдов О.А., Петроченко Д.В., Семёнов З.В., Панкратов С.В., Ващенко П.В.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Garanin V.G., Nekludov O.A., Petrochenko D.V., Semenov Z.V., Pankratov S.V., Vashchenko P.V.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.zldm.ru/jour/article/view/25">https://www.zldm.ru/jour/article/view/25</self-uri><abstract><p>Показаны основные возможности программного обеспечения «Атом» - важного инструмента для автоматизации атомно-эмиссионного спектрального анализа в лабораториях, использующих спектроаналитические приборы производства компании «ВМК-Оптоэлектроника».</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The main features of the «Atom» software as an important tool in automation of atomic-emission spectral analysis performed in the laboratories on the devices produced by the «VMK-Optoelectronika» company are presented.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>атомно-эмиссионный спектральный анализ</kwd><kwd>программное обеспечение</kwd><kwd>многоканальные спектрометры</kwd><kwd>анализатор МАЭС</kwd><kwd>автоматизация</kwd><kwd>software for atomic emission spectroscopy</kwd><kwd>multichannel spectrometers</kwd><kwd>MAES analyzer</kwd><kwd>automation</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гаранин В. Г., Неклюдов О. А., Петроченко Д. В., Смирнов А. В. «Атом» - программное обеспечение анализатора МАЭС / Аналитика и контроль. 2005. Т. 9. № 2. С. 116 - 124.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гаранин В. Г., Неклюдов О. А., Петроченко Д. В., Смирнов А. В. «Атом» - программное обеспечение анализатора МАЭС / Аналитика и контроль. 2005. Т. 9. № 2. С. 116 - 124.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гаранин В. Г., Неклюдов О. А., Петроченко Д. В. Программное обеспечение для автоматизации атомно-эмиссионного спектрального анализа - пакет «Атом» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. Специальный выпуск. С. 18 - 25.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гаранин В. Г., Неклюдов О. А., Петроченко Д. В. Программное обеспечение для автоматизации атомно-эмиссионного спектрального анализа - пакет «Атом» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. Специальный выпуск. С. 18 - 25.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гаранин В. Г., Неклюдов О. А., Петроченко Д. В. и др. Программное обеспечение атомно-эмиссионного спектрального анализа (программа «Атом»)» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 69 - 74.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гаранин В. Г., Неклюдов О. А., Петроченко Д. В. и др. Программное обеспечение атомно-эмиссионного спектрального анализа (программа «Атом»)» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 69 - 74.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лабусов В. А. Приборы и комплексы для атомно-эмиссионного спектрального анализа компании «ВМК-Оптоэлектроника». Современное состояние / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 12 - 21.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лабусов В. А. Приборы и комплексы для атомно-эмиссионного спектрального анализа компании «ВМК-Оптоэлектроника». Современное состояние / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 12 - 21.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лабусов В. А., Гаранин В. Г., Шелпакова И. Р. Многоканальные анализаторы атомно-эмиссионных спектров. Современное состояние и аналитические возможности / Жур. аналит. химии. 2012. Т. 67. № 7. С. 697 - 707.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лабусов В. А., Гаранин В. Г., Шелпакова И. Р. Многоканальные анализаторы атомно-эмиссионных спектров. Современное состояние и аналитические возможности / Жур. аналит. химии. 2012. Т. 67. № 7. С. 697 - 707.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Шелпакова И. Р., Гаранин В. Г., Чанышева Т. А. Аналитические возможности многоканального анализатора эмиссионных спектров (МАЭС) в спектральном анализе / Аналитика и контроль. 1998. № 1(3). С. 33 - 40.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Шелпакова И. Р., Гаранин В. Г., Чанышева Т. А. Аналитические возможности многоканального анализатора эмиссионных спектров (МАЭС) в спектральном анализе / Аналитика и контроль. 1998. № 1(3). С. 33 - 40.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Семенов З. В., Неклюдов О. А., Строков И. И., Гаранин В. Г. Автоматизация атомно-эмиссионного спектрального анализа с использованием видеоконтроля / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 78 - 81.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Семенов З. В., Неклюдов О. А., Строков И. И., Гаранин В. Г. Автоматизация атомно-эмиссионного спектрального анализа с использованием видеоконтроля / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 78 - 81.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Шаталов И. Г., Лабусов В. А., Неклюдов О. А., Панкратов С. В. Автоматическое профилирование многоканальных спектрометров с анализаторами МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 74 - 77.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Шаталов И. Г., Лабусов В. А., Неклюдов О. А., Панкратов С. В. Автоматическое профилирование многоканальных спектрометров с анализаторами МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 74 - 77.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Панкратов С. В., Лабусов В. А., Неклюдов О. А., Ващенко П. В. Автоматическое профилирование спектрометров с анализаторами МАЭС с использованием формы спектральных линий / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 128 - 134.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Панкратов С. В., Лабусов В. А., Неклюдов О. А., Ващенко П. В. Автоматическое профилирование спектрометров с анализаторами МАЭС с использованием формы спектральных линий / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 128 - 134.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Панкратов С. В., Лабусов В. А., Неклюдов О. А. Качественный элементный анализ вещества с использованием функции кросс-корреляции / Аналитика и контроль. 2013. Т. 17. № 1. С. 33 - 40.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Панкратов С. В., Лабусов В. А., Неклюдов О. А. Качественный элементный анализ вещества с использованием функции кросс-корреляции / Аналитика и контроль. 2013. Т. 17. № 1. С. 33 - 40.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гаранин В. Г., Неклюдов О. А. Новые возможности определения примесного состава металлов и порошковых проб с учетом фракционного поступления элементов в дуговой разряд / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 55 - 61.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гаранин В. Г., Неклюдов О. А. Новые возможности определения примесного состава металлов и порошковых проб с учетом фракционного поступления элементов в дуговой разряд / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 55 - 61.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Шаталов И. Г., Косых В. П., Лабусов В. А., Неклюдов О. А. Алгоритм обработки последовательности атомно- эмиссионных спектров во времени для снижения пределов обнаружения элементов / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2011. Т. 77. № 7. С. 38 - 43.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Шаталов И. Г., Косых В. П., Лабусов В. А., Неклюдов О. А. Алгоритм обработки последовательности атомно- эмиссионных спектров во времени для снижения пределов обнаружения элементов / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2011. Т. 77. № 7. С. 38 - 43.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Семенов З. В., Лабусов В. А., Неклюдов О. А., Ващенко П. В. Алгоритм обработки последовательностей спектров для сцинтилляционного атомно-эмиссионного спектрального анализа / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 135 - 142.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Семенов З. В., Лабусов В. А., Неклюдов О. А., Ващенко П. В. Алгоритм обработки последовательностей спектров для сцинтилляционного атомно-эмиссионного спектрального анализа / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 135 - 142.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Васильева И. Е., Шабанова Е. В., Бусько А. Е., Кунаев А. Б. Методика определения содержания золота и серебра в геологических образцах с использованием сцинтилляционного атомно-эмиссионного анализа с высоким временным разрешением / Аналитика и контроль. 2010. Т. 14. № 4. С. 201 - 213.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Васильева И. Е., Шабанова Е. В., Бусько А. Е., Кунаев А. Б. Методика определения содержания золота и серебра в геологических образцах с использованием сцинтилляционного атомно-эмиссионного анализа с высоким временным разрешением / Аналитика и контроль. 2010. Т. 14. № 4. С. 201 - 213.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бокк Д. Н., Лабусов В. А., Зарубин И. А. Определение неметаллических включений в металлических сплавах способом атомно-эмиссионного спектрального анализа с искровым возбуждением / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 92 - 97.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Бокк Д. Н., Лабусов В. А., Зарубин И. А. Определение неметаллических включений в металлических сплавах способом атомно-эмиссионного спектрального анализа с искровым возбуждением / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 92 - 97.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
