<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">zldm</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Заводская лаборатория. Диагностика материалов</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Industrial laboratory. Diagnostics of materials</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1028-6861</issn><issn pub-type="epub">2588-0187</issn><publisher><publisher-name>ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">zldm-26</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Автоматическая градуировка спектрометров с анализаторами МАЭС по длинам волн (профилирование)</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Automatic Wavelength Calibration of the Spectrometers with MAES Analyzers (Profiling)</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Панкратов</surname><given-names>С. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Pankratov</surname><given-names>S. V.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">info@vmk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Лабусов</surname><given-names>В. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Labusov</surname><given-names>V. A.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">info@vmk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Неклюдов</surname><given-names>О. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Nekludov</surname><given-names>O. A.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">info@vmk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ващенко</surname><given-names>П. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Vashchenko</surname><given-names>P. V.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">info@vmk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»; Новосибирский государственный технический университет</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-3"><institution>ООО «ВМК-Оптоэлектроника»</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2015</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>01</day><month>01</month><year>2015</year></pub-date><volume>81</volume><issue>1</issue><fpage>128</fpage><lpage>134</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Панкратов С.В., Лабусов В.А., Неклюдов О.А., Ващенко П.В., 2015</copyright-statement><copyright-year>2015</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Панкратов С.В., Лабусов В.А., Неклюдов О.А., Ващенко П.В.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Pankratov S.V., Labusov V.A., Nekludov O.A., Vashchenko P.V.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.zldm.ru/jour/article/view/26">https://www.zldm.ru/jour/article/view/26</self-uri><abstract><p>Описана разработанная программа автоматического профилирования (градуировки по длине волны) спектрометров с анализаторами МАЭС, в которой реализована фильтрация экспериментальных значений по параметру качества. Для оценки этого параметра применена аналитическая функция, описывающая форму спектральных линий, учтены влияние слившихся спектральных линий и другие критерии. Интегральная оценка качества градуировочных точек позволяет в автоматическом режиме существенно снизить погрешность получаемого профилирования. Метод реализован в программе «Атом».</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>A software for automatic profiling (wavelength calibration) of the spectrometers with MAES analyzers which implements a quality filtering of experimental values is developed. This quality parameter is estimated using an analytic function describing the shape of spectral lines with allowance for the effect of merged spectral lines and other criteria. Integral evaluation of the quality of calibration points provides an automatic significant reduction of the profiling error. The method is implemented in the framework of the «Atom» program.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>функция кросс-корреляции</kwd><kwd>градуировка по длине волны</kwd><kwd>многоканальные спектрометры</kwd><kwd>атомно-эмиссионные спектры</kwd><kwd>анализаторы спектров</kwd><kwd>многоэлементные твердотельные детекторы</kwd><kwd>линейки фотодиодов</kwd><kwd>cross-correlation function</kwd><kwd>wavelength calibration</kwd><kwd>multichannel spectrometers</kwd><kwd>atomic emission spectra</kwd><kwd>spectrum analyzers</kwd><kwd>multi-element solid-state detectors</kwd><kwd>photodiode arrays</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лабусов В. А., Гаранин В. Г., Шелпакова И. Р. Многоканальные анализаторы атомно-эмиссионных спектров. Современное состояние и аналитические возможности / Журн. аналит. химии. 2012. Т. 67. № 7. С. 697 - 707.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лабусов В. А., Гаранин В. Г., Шелпакова И. Р. Многоканальные анализаторы атомно-эмиссионных спектров. Современное состояние и аналитические возможности / Журн. аналит. химии. 2012. Т. 67. № 7. С. 697 - 707.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лабусов В. А., Путьмаков А. Н., Зарубин И. А., Гаранин В. Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 7 - 13.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лабусов В. А., Путьмаков А. Н., Зарубин И. А., Гаранин В. Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 7 - 13.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гаранин В. Г., Неклюдов О. А., Петроченко Д. В. и др. Программное обеспечение атомно-эмиссионного спектрального анализа (программа «Атом») / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 69 - 74.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гаранин В. Г., Неклюдов О. А., Петроченко Д. В. и др. Программное обеспечение атомно-эмиссионного спектрального анализа (программа «Атом») / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 69 - 74.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Шаталов И. Г., Лабусов В. А., Неклюдов О. А., Панкратов С. В. Автоматическое профилирование многоканальных спектрометров с анализаторами МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 74 - 77.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Шаталов И. Г., Лабусов В. А., Неклюдов О. А., Панкратов С. В. Автоматическое профилирование многоканальных спектрометров с анализаторами МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 74 - 77.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Зайдель А. Н. Основы спектрального анализа. - М.: Наука, 1965.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Зайдель А. Н. Основы спектрального анализа. - М.: Наука, 1965.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ващенко П. В., Лабусов В. А. Восстановление формы одиночной спектральной линии в дуговых атомно-эмиссионных спектрах / Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности». Новосибирск, 2012. С. 61.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ващенко П. В., Лабусов В. А. Восстановление формы одиночной спектральной линии в дуговых атомно-эмиссионных спектрах / Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности». Новосибирск, 2012. С. 61.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
