<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">zldm</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Заводская лаборатория. Диагностика материалов</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Industrial laboratory. Diagnostics of materials</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1028-6861</issn><issn pub-type="epub">2588-0187</issn><publisher><publisher-name>ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">zldm-3</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Приборы и комплексы компании «ВМК-Оптоэлектроника» для атомно-эмиссионного спектрального анализа. Современное состояние</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Devices and Systems for Atomic Emission Spectroscopy Produced by «VMK-Optoelektronika»: State-of-the-Art</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Лабусов</surname><given-names>В. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Labusov</surname><given-names>V. A.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">labusov@vmk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>ООО «ВМК-Оптоэлектроника»; Институт автоматики и электрометрии СО РАН; Новосибирский государственный технический университет</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2015</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>01</day><month>01</month><year>2015</year></pub-date><volume>81</volume><issue>1</issue><fpage>12</fpage><lpage>21</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Лабусов В.А., 2015</copyright-statement><copyright-year>2015</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Лабусов В.А.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Labusov V.A.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.zldm.ru/jour/article/view/3">https://www.zldm.ru/jour/article/view/3</self-uri><abstract><p>Представлен обзор приборов и комплексов на их основе, производимых компанией «ВМК-Оптоэлектроника»: многоканальных анализаторов эмиссионных спектров МАЭС на основе многокристальных сборок линейных твердотельных детекторов; многоканальных спектрометров «Гранд», «Гранд-Эксперт», «Фаворит», «Экспресс» и «Колибри»; генераторов электрических дуговых и искровых разрядов «Везувий» и «Шаровая молния»; спектроаналитических штативов «Глобула» и «Кристалл»; электродуговой установки для анализа порошковых проб методом просыпки-вдувания «Поток» и других. Приведены их технические характеристики.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>A review of the devices and systems on their base developed and produced by «VMK-Optoelektronika»: multichannel analyzers of emission spectra (MAES) based on multichip assemblies of linear solid-state detectors; Grand, Grand-Ékspert, Favorit, Ékspress, and Kolibri multichannel spectrometers; Vezuvii and Sharovaya Molniya electric-arc and spark-discharge generators; Globula and Kristall spectroanalytical instruments; Potok electric-arc facility for powder analysis using tspill-injection method, etc. are presented. Technical characteristics of the reviewed equipment are listed and discussed.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>атомно-эмиссионный спектральный анализ</kwd><kwd>спектрометры</kwd><kwd>анализаторы спектров</kwd><kwd>многоэлементные твердотельные детекторы</kwd><kwd>линейки детекторов</kwd><kwd>источники возбуждения спектров</kwd><kwd>atomic emission spectroscopy (AES)</kwd><kwd>spectrometers</kwd><kwd>spectrum analyzers</kwd><kwd>multi-element solid-state detectors</kwd><kwd>detector arrays</kwd><kwd>spectrum excitation sources</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гаранин В. Г., Неклюдов О. А., Петроченко Д. В. и др. Программное обеспечение атомно-эмиссионного спектрального анализа (программа «Атом») / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 69 - 74.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гаранин В. Г., Неклюдов О. А., Петроченко Д. В. и др. Программное обеспечение атомно-эмиссионного спектрального анализа (программа «Атом») / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 69 - 74.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лабусов В. А., Бехтерев А. В. Линейки фотодиодов - базовые элементы многоканальных анализаторов атомно-эмиссионных спектров / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. Специальный выпуск. С. 7 - 12.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лабусов В. А., Бехтерев А. В. Линейки фотодиодов - базовые элементы многоканальных анализаторов атомно-эмиссионных спектров / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. Специальный выпуск. С. 7 - 12.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бабин С. А., Лабусов В. А., Селюнин Д. О., Дзюба А. А. Быстродействующие анализаторы МАЭС на основе линеек БЛПП-2000 / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 108 - 113.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Бабин С. А., Лабусов В. А., Селюнин Д. О., Дзюба А. А. Быстродействующие анализаторы МАЭС на основе линеек БЛПП-2000 / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 108 - 113.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лабусов В. А., Гаранин В. Г., Шелпакова И. Р. Многоканальные анализаторы атомно-эмиссионных спектров. Современное состояние и аналитические возможности / Журн. аналит. химии. 2012. Т. 67. № 7. С. 697 - 707.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лабусов В. А., Гаранин В. Г., Шелпакова И. Р. Многоканальные анализаторы атомно-эмиссионных спектров. Современное состояние и аналитические возможности / Журн. аналит. химии. 2012. Т. 67. № 7. С. 697 - 707.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Селюнин Д. О., Бабин С. А., Лабусов В. А. Высокоскоростные анализаторы МАЭС с интерфейсом Gigabit Ethernet / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 39 - 43.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Селюнин Д. О., Бабин С. А., Лабусов В. А. Высокоскоростные анализаторы МАЭС с интерфейсом Gigabit Ethernet / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 39 - 43.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лабусов В. А., Путьмаков А. Н., Саушкин М. С. и др. Многоканальный спектрометр «Колибри-2» и его использование для одновременного определения щелочных и щелочноземельных металлов методом пламенной фотометрии / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. Специальный выпуск. С. 35 - 39.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лабусов В. А., Путьмаков А. Н., Саушкин М. С. и др. Многоканальный спектрометр «Колибри-2» и его использование для одновременного определения щелочных и щелочноземельных металлов методом пламенной фотометрии / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. Специальный выпуск. С. 35 - 39.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Зарубин И. А., Гаранин В. Г., Лабусов В. А. Применение малогабаритного спектрометра «Колибри-2» в атомно-эмиссионном анализе / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 86 - 89.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Зарубин И. А., Гаранин В. Г., Лабусов В. А. Применение малогабаритного спектрометра «Колибри-2» в атомно-эмиссионном анализе / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 86 - 89.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Путьмаков А. Н., Зарубин И. А., Бурумов И. Д., Селюнин Д. О. Спектрометр «Павлин» для пламенного атомно-эмиссионного спектрального анализа / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 105 - 108.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Путьмаков А. Н., Зарубин И. А., Бурумов И. Д., Селюнин Д. О. Спектрометр «Павлин» для пламенного атомно-эмиссионного спектрального анализа / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 105 - 108.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лабусов В. А., Семенов З. В., Зарубин И. А. и др. Система спектрального контроля нанесения многослойных диэлектрических покрытий / Измерительная техника. 2013. № 12. С. 11 - 14.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лабусов В. А., Семенов З. В., Зарубин И. А. и др. Система спектрального контроля нанесения многослойных диэлектрических покрытий / Измерительная техника. 2013. № 12. С. 11 - 14.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лабусов В. А. Комплексы приборов для атомно-эмиссионного спектрального анализа на основе спектрометра «Гранд» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2008. Т. 74. № 4. С. 21 - 29.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лабусов В. А. Комплексы приборов для атомно-эмиссионного спектрального анализа на основе спектрометра «Гранд» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2008. Т. 74. № 4. С. 21 - 29.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лабусов В. А., Путьмаков А. Н., Зарубин И. А., Гаранин В. Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 7 - 13.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лабусов В. А., Путьмаков А. Н., Зарубин И. А., Гаранин В. Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 7 - 13.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Боровиков В. М., Петроченко Д. В., Путьмаков А. Н., Селюнин Д. О. Универсальный генератор «Везувий-3» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 62 - 66.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Боровиков В. М., Петроченко Д. В., Путьмаков А. Н., Селюнин Д. О. Универсальный генератор «Везувий-3» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 62 - 66.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гаранин В. Г., Ращенко В. В. Программируемые генераторы для возбуждения атомно-эмиссионных спектров «Шаровая молния» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 54 - 58.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гаранин В. Г., Ращенко В. В. Программируемые генераторы для возбуждения атомно-эмиссионных спектров «Шаровая молния» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 54 - 58.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Семенов З. В., Неклюдов О. А., Строков И. И., Гаранин В. Г. Автоматизация атомно-эмиссионного спектрального анализа с использованием видеоконтроля / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 78 - 81.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Семенов З. В., Неклюдов О. А., Строков И. И., Гаранин В. Г. Автоматизация атомно-эмиссионного спектрального анализа с использованием видеоконтроля / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 78 - 81.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Путьмаков А. Н., Печуркин В. И., Попков В. А., Селюнин Д. О. Универсальный спектроаналитический штатив «Кристалл» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 66 - 68.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Путьмаков А. Н., Печуркин В. И., Попков В. А., Селюнин Д. О. Универсальный спектроаналитический штатив «Кристалл» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 66 - 68.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Смолин Д. В., Лабусов В. А., Гаранин В. Г., Кузнецов С. Н. Двухимпульсный лазерный источник возбуждения атомно-эмиссионных спектров / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 58 - 61.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Смолин Д. В., Лабусов В. А., Гаранин В. Г., Кузнецов С. Н. Двухимпульсный лазерный источник возбуждения атомно-эмиссионных спектров / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 58 - 61.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Тагильцев А. П., Тагильцева Е. А. Дуговые плазмотроны для спектрального анализа / Научные ведомости Белгородского государственного университета. Серия физико-математических наук. 2006. Т. 12. № 6(26). С. 122 - 135.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Тагильцев А. П., Тагильцева Е. А. Дуговые плазмотроны для спектрального анализа / Научные ведомости Белгородского государственного университета. Серия физико-математических наук. 2006. Т. 12. № 6(26). С. 122 - 135.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Видюк М. В., Герасимов В. А, Лабусов В. А. и др. Спектральный комплекс для прямого атомно-эмиссионного анализа порошковых проб - ДДП-спектрометр / Материалы VII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности». Новосибирск, 2006. С. 67 - 69.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Видюк М. В., Герасимов В. А, Лабусов В. А. и др. Спектральный комплекс для прямого атомно-эмиссионного анализа порошковых проб - ДДП-спектрометр / Материалы VII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности». Новосибирск, 2006. С. 67 - 69.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Зарубин И. А., Лабусов В. А., Бокк Д. Н. Оптимальная система освещения входной щели многоканальных спектрометров «Гранд» и «Экспресс» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 114 - 116.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Зарубин И. А., Лабусов В. А., Бокк Д. Н. Оптимальная система освещения входной щели многоканальных спектрометров «Гранд» и «Экспресс» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 114 - 116.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
