zldmЗаводская лаборатория. Диагностика материаловIndustrial laboratory. Diagnostics of materials1028-68612588-0187ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»zldm-317Research ArticleОБМЕН ОПЫТОМEXCHANGE OF EXPERIENCEКонтроль функциональных слоев ВТСП-2 с помощью текстурной приставки рентгеновского дифрактометра «Дифрей-401»ПьянковаЛ. А.difray@sinstr.ruЕлохинВ. А.difray@sinstr.ruАрхиповС. Н.difray@sinstr.ruКомиссаровА. А.difray@sinstr.ruАвдиенкоА. А.AAAvdienko@rosatom.ruПарфировО. В.noemail@neicon.ruКривицкийС. Е.noemail@neicon.ruАО «Научные приборы»Russian FederationАО «Русский сверхпроводник»Russian FederationНИИ технической физики и автоматизацииRussian Federation20160110201682104446Copyright © Пьянкова Л.А., Елохин В.А., Архипов С.Н., Комиссаров А.А., Авдиенко А.А., Парфиров О.В., Кривицкий С.Е., 20162016Пьянкова Л.А., Елохин В.А., Архипов С.Н., Комиссаров А.А., Авдиенко А.А., Парфиров О.В., Кривицкий С.Е.Пьянкова Л.А., Елохин В.А., Архипов С.Н., Комиссаров А.А., Авдиенко А.А., Парфиров О.В., Кривицкий С.Е.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://www.zldm.ru/jour/article/view/317ReferencesWu X. D., Foltin S. R., Arendt P. N., et al. Properties of Y Ва2Си3O7 x thick films on flexible buffered metallic substrates / Appl. Phys. Lett. 1995. Vol. 67. P. 2397-2400.Wu X. D., Foltin S. R., Arendt P. N., et al. Properties of Y Ва2Си3O7 x thick films on flexible buffered metallic substrates / Appl. Phys. Lett. 1995. Vol. 67. P. 2397-2400.Arendt P. N., Foltin S. R., Wu X. D., et al. Fabrication of biaxially oriented YSZ on polycrystalline substrates / AIP Conf. Proc. Vol. 824. P. 743-747.Arendt P. N., Foltin S. R., Wu X. D., et al. Fabrication of biaxially oriented YSZ on polycrystalline substrates / AIP Conf. Proc. Vol. 824. P. 743-747.Стекольщиков А. А., Максимова Л. H., Архипов C. H., Пьянкова Л. А., Сидохин Е. Ф. Рентгенодифрактометрический комплекс «ДИФРЕИ-402» для определения криолитового отношения, фторидов кальция и магния в электролитах ВАЗА / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2006. Т. 72. № 9. С. 34 - 36.Стекольщиков А. А., Максимова Л. H., Архипов C. H., Пьянкова Л. А., Сидохин Е. Ф. Рентгенодифрактометрический комплекс «ДИФРЕИ-402» для определения криолитового отношения, фторидов кальция и магния в электролитах ВАЗА / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2006. Т. 72. № 9. С. 34 - 36.Лобанов М. Л., Юровских А. С., Кардонина Н. И., Русаков Г. М. Методы исследования текстур в материалах: учеб.-метод. пособие. - Екатеринбург: Изд-во урал. ун-та, 2014. - 115 с.Лобанов М. Л., Юровских А. С., Кардонина Н. И., Русаков Г. М. Методы исследования текстур в материалах: учеб.-метод. пособие. - Екатеринбург: Изд-во урал. ун-та, 2014. - 115 с.Шамрай В. Ф., Лифшиц В. А., Серебряный В. H., Грушко О. Е., Гордеев А. С. Опыт использования дифрактометра ДРОН-7 с приставкой ПГТМ для исследования текстур / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2009. Т. 75. № 1. С. 32 - 35.Шамрай В. Ф., Лифшиц В. А., Серебряный В. H., Грушко О. Е., Гордеев А. С. Опыт использования дифрактометра ДРОН-7 с приставкой ПГТМ для исследования текстур / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2009. Т. 75. № 1. С. 32 - 35.
The authors declare that there are no conflicts of interest present.