<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">zldm</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Заводская лаборатория. Диагностика материалов</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Industrial laboratory. Diagnostics of materials</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1028-6861</issn><issn pub-type="epub">2588-0187</issn><publisher><publisher-name>ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">zldm-387</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Спектрометр с источником микроволновой плазмы для одновременного многоэлементного атомно-эмиссионного анализа растворов</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Microwave Plasma Spectrometer for Simultaneous Multielement Atomic-Emission Analysis of Solutions</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Пелипасов</surname><given-names>О. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Pelipasov</surname><given-names>O. V.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">pelipasov@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Путьмаков</surname><given-names>А. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Put’Makov</surname><given-names>A. N.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Чернов</surname><given-names>К. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Chernov</surname><given-names>K. N.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Бурумов</surname><given-names>И. Д.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Burumov</surname><given-names>I. D.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Селюнин</surname><given-names>Д. О.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Selyunin</surname><given-names>D. O.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Боровиков</surname><given-names>В. М.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Borovikov</surname><given-names>V. M.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>Институт ядерной физики СОРАН</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2017</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>01</day><month>01</month><year>2017</year></pub-date><volume>83</volume><issue>1</issue><fpage>108</fpage><lpage>114</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Пелипасов О.В., Путьмаков А.Н., Чернов К.Н., Бурумов И.Д., Селюнин Д.О., Боровиков В.М., 2017</copyright-statement><copyright-year>2017</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Пелипасов О.В., Путьмаков А.Н., Чернов К.Н., Бурумов И.Д., Селюнин Д.О., Боровиков В.М.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Pelipasov O.V., Put’Makov A.N., Chernov K.N., Burumov I.D., Selyunin D.O., Borovikov V.M.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.zldm.ru/jour/article/view/387">https://www.zldm.ru/jour/article/view/387</self-uri><abstract><p>Описаны устройство и принцип работы спектрометра с микроволновой плазмой, предназначенного для элементного анализа неорганических и органических растворов. Источник возбуждения спектрометра работает на частоте 2,45 ГГц в атмосфере как атомарных, так и молекулярных газов. Плазма поддерживается полем моды TEM10. Пределы обнаружения большинства элементов с использованием данного спектрометра с аргоном в качестве плазмообразующего газа достигают 10 мкг/л.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>A design and principle of operation of a microwave plasma spectrometer for elemental analysis of inorganic and organic solutions are presented. The spectrometer operates at a frequency of 2.45 GHz inthe atmosphere of both atomic and molecular gases. The plasma is sustained by TEM10 mode field. The detection limits of the spectrometer (with argon as a plasma forming agent) attain 10 ^g/liter for most of the elements.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>atomic emission spectrometry</kwd><kwd>microwave plasma</kwd><kwd>spectrum excitation source</kwd><kwd>magnetron</kwd><kwd>resonator</kwd><kwd>spectrometer</kwd><kwd>analytical characteristics</kwd><kwd>атомно-эмиссионный спектральный анализ</kwd><kwd>микроволновая плазма</kwd><kwd>источник возбуждения спектров</kwd><kwd>магнетрон</kwd><kwd>резонатор</kwd><kwd>спектрометр</kwd><kwd>аналитические характеристики</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Yang W., Zhang H., Yu A., Jin Q. Microwave plasma torch analytical atomic spectrometry / Microchem. J. 2000. Vol. 66. P. 147 - 170.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Yang W., Zhang H., Yu A., Jin Q. Microwave plasma torch analytical atomic spectrometry / Microchem. J. 2000. Vol. 66. P. 147 - 170.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Jankowski K., Ramsza A., Reszke E. Microwave plasma cavities and applications / Invited Lecture No. 12. Proc. of Winter Conference of Plasma Spectrochemistry, Florida, 2010.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Jankowski K., Ramsza A., Reszke E. Microwave plasma cavities and applications / Invited Lecture No. 12. Proc. of Winter Conference of Plasma Spectrochemistry, Florida, 2010.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Hammer M. R. A magnetically excited microwave plasma source for atomic emission spectroscopy with performance approaching that of the inductively coupled plasma / Spectrochim. Acta. Part B. 2008. Vol. 63. P. 456-464.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Hammer M. R. A magnetically excited microwave plasma source for atomic emission spectroscopy with performance approaching that of the inductively coupled plasma / Spectrochim. Acta. Part B. 2008. Vol. 63. P. 456-464.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пелипасов О. В., Путьмаков А. Н. и др. Разработка и использование спектрометра с микроволновой плазмой для атомно-эмиссионного анализа растворов / Труды XV Международного симпозиума «Применение МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2016. С. 171-186.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Пелипасов О. В., Путьмаков А. Н. и др. Разработка и использование спектрометра с микроволновой плазмой для атомно-эмиссионного анализа растворов / Труды XV Международного симпозиума «Применение МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2016. С. 171-186.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Zaidi S., Vahidpour M., Duimstra J., et al. Characterization of a High-Power Microwave Induced Plasma inside an MP Torch using Emission Spectroscopy / 52nd Aerospace Sciences Meeting, AIAASciTech, (AIAA 2014-0393).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zaidi S., Vahidpour M., Duimstra J., et al. Characterization of a High-Power Microwave Induced Plasma inside an MP Torch using Emission Spectroscopy / 52nd Aerospace Sciences Meeting, AIAASciTech, (AIAA 2014-0393).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лабусов В. А., Путьмаков А. H., Зарубин И. А., Гаранин В. Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. №1.4. II. С. 7-13.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лабусов В. А., Путьмаков А. H., Зарубин И. А., Гаранин В. Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. №1.4. II. С. 7-13.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лабусов В. А., Гаранин В. Г., Шелпакова И. Р. Многоканальные анализаторы атомно-эмиссионных спектров. Современное состояние и аналитические возможности / Журн. аналит. химии. 2012. Т. 67. № 7. С. 697 - 707.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лабусов В. А., Гаранин В. Г., Шелпакова И. Р. Многоканальные анализаторы атомно-эмиссионных спектров. Современное состояние и аналитические возможности / Журн. аналит. химии. 2012. Т. 67. № 7. С. 697 - 707.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Боровиков В. М., Петроченко Д. В., Путьмаков А. H., Селюнин Д. О. Универсальный генератор «Везувий-3» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1.4. II. С. 62 - 66.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Боровиков В. М., Петроченко Д. В., Путьмаков А. H., Селюнин Д. О. Универсальный генератор «Везувий-3» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1.4. II. С. 62 - 66.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Путьмаков А. H., Пелипасов О. В., Максимов А. Ю. и др. Разработка источника СВ4 плазмы для атомно-эмиссионного спектрального анализа растворов / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 71. № 1. 4. II. С. 117 - 121.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Путьмаков А. H., Пелипасов О. В., Максимов А. Ю. и др. Разработка источника СВ4 плазмы для атомно-эмиссионного спектрального анализа растворов / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 71. № 1. 4. II. С. 117 - 121.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">The method detection limit procedure of the USA environmental protection agency. http//water.usgs.gov/owq/OFR_99-193/detection.html (дата обращения 01.08.2016).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">The method detection limit procedure of the USA environmental protection agency. http//water.usgs.gov/owq/OFR_99-193/detection.html (дата обращения 01.08.2016).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Башилов А. В., Рогова О. Б. Атомно-эмиссионная спектрометрия микроволновой плазмы: позиционирование, возможности, достоинства и ограничения / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2014. Т. 80. № 5. С. 23 - 28.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Башилов А. В., Рогова О. Б. Атомно-эмиссионная спектрометрия микроволновой плазмы: позиционирование, возможности, достоинства и ограничения / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2014. Т. 80. № 5. С. 23 - 28.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Старшинова Н. П., Седых Э. М. Использование многоканального анализатора эмиссионных спектров МЭАС для расширения аналитических возможностей плазменного спектрометра ICAP 9000 / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. Специальный выпуск. С. 61 - 63.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Старшинова Н. П., Седых Э. М. Использование многоканального анализатора эмиссионных спектров МЭАС для расширения аналитических возможностей плазменного спектрометра ICAP 9000 / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. Специальный выпуск. С. 61 - 63.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Pushing the boundaries of ICP performance with the iCAP 6000 Series - 66 Elements with detection limits less than 1 pg/L. https:// static.thermoscientific.com/images/D01567~.pdf (дата обращения 01.08.2016).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pushing the boundaries of ICP performance with the iCAP 6000 Series - 66 Elements with detection limits less than 1 pg/L. https:// static.thermoscientific.com/images/D01567~.pdf (дата обращения 01.08.2016).</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
