<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">zldm</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Заводская лаборатория. Диагностика материалов</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Industrial laboratory. Diagnostics of materials</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1028-6861</issn><issn pub-type="epub">2588-0187</issn><publisher><publisher-name>ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">zldm-39</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И СВОЙСТВ. ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ И КОНТРОЛЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>TESTING OF STRUCTURE AND PARAMETERS. PHYSICAL METHODS OF TESTING AND QUALITY CONTROL</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Применение вейвлет-анализа и теории фракталов в исследовании изображений микрошлифов</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Application of Wavelet Analysis and Fractal Theory to the Study of Microetch Images</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ахметханов</surname><given-names>Р. С.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Akhmetkhanov</surname><given-names>R. S.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">mibsts@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Институт машиноведения им. А. А. Благонравова (ИМАШ РАН)</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2015</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>01</day><month>03</month><year>2015</year></pub-date><volume>81</volume><issue>3</issue><fpage>31</fpage><lpage>37</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Ахметханов Р.С., 2015</copyright-statement><copyright-year>2015</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Ахметханов Р.С.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Akhmetkhanov R.S.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.zldm.ru/jour/article/view/39">https://www.zldm.ru/jour/article/view/39</self-uri><abstract><p>Показано применение информационных технологий в механике при анализе изображений микрошлифов. Исследована структура материала по изображению микрошлифов с применением методов теории фракталов (фрактальные оценки) и вейвлет-анализа (кратно-масштабный анализ). Фрактальные оценки и данные, полученные с помощью вейвлет-анализа, позволяют получить количественные характеристики изменений в структуре материала при накоплении повреждений или отличий структуры при различных технологических режимах обработки материалов.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>We demonstrated the use of information technologies in analysis of microetch images. The structure of the material in studied proceeding from analysis of microetch images using the theory of fractals (fractal estimations) and wavelet analysis (a multiple-scale analysis). Fractal estimations and data obtained in wavelet analysis provide quantification of changes in the structural characteristics of the material upon accumulation of damage or structural changed attributed to different material processing technologies.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>микрошлиф</kwd><kwd>структура</kwd><kwd>фазы</kwd><kwd>повреждения</kwd><kwd>изображение</kwd><kwd>фрактальная размерность</kwd><kwd>показатель Хёрста</kwd><kwd>вейвлет-преобразование</kwd><kwd>кратно-масштабный анализ</kwd><kwd>microetch</kwd><kwd>structure</kwd><kwd>phase</kwd><kwd>damage</kwd><kwd>image</kwd><kwd>fractal dimension</kwd><kwd>Hurst coefficient</kwd><kwd>wavelet transforms</kwd><kwd>multiple-scale analysis</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Новейшие методы обработки изображений. / Под ред. А. А. Потапова. - М.: Физматлит, 2008. - 496 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Новейшие методы обработки изображений. / Под ред. А. А. Потапова. - М.: Физматлит, 2008. - 496 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Уэлстид С. Фракталы и вейвлеты для сжатия изображений в действии. - М.: Издательство Триумф, 2003. - 320 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Уэлстид С. Фракталы и вейвлеты для сжатия изображений в действии. - М.: Издательство Триумф, 2003. - 320 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Мандельброт Б. Фрактальная геометрия природы. - М.: Институт компьютерных исследований, 2002. - 656 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Мандельброт Б. Фрактальная геометрия природы. - М.: Институт компьютерных исследований, 2002. - 656 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кроновер Р. М. Фракталы и хаос в динамических системах. - М.: Постмаркет, 2000. - 352 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кроновер Р. М. Фракталы и хаос в динамических системах. - М.: Постмаркет, 2000. - 352 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ахметханов Р. С. Численно-аналитические методы анализа динамических свойств механических систем / Проблемы машиностроения и надежности машин. 2003. № 5. С. 10 - 18.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ахметханов Р. С. Численно-аналитические методы анализа динамических свойств механических систем / Проблемы машиностроения и надежности машин. 2003. № 5. С. 10 - 18.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ахметханов Р. С. Применение теории фракталов и вейвлет-анализа для выявления особенностей временных рядов при диагностике систем / Вестник научно-технического развития - Национальная технологическая группа. 2009. № 1(17). С. 26 - 31.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ахметханов Р. С. Применение теории фракталов и вейвлет-анализа для выявления особенностей временных рядов при диагностике систем / Вестник научно-технического развития - Национальная технологическая группа. 2009. № 1(17). С. 26 - 31.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">http://www.lib.tsu.ru/mminfo/000063105/301/image/ 301_101-107.pdf.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">http://www.lib.tsu.ru/mminfo/000063105/301/image/ 301_101-107.pdf.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kocurova K., Hazlinger M., Stefanikova M. Microstructure and fractographic analysis of damage reasons of cogwheel / Materials Engineering. 2012. N 19. P. 82 - 87.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kocurova K., Hazlinger M., Stefanikova M. Microstructure and fractographic analysis of damage reasons of cogwheel / Materials Engineering. 2012. N 19. P. 82 - 87.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Галаев А. Б. Фрактально-вейвлетные алгоритмы и комплекс программ компьютерного анализа микро-фотоизображений текстуры композиционных наноматериалов. Автореф. дисс.. канд. техн. наук. - М.: 2013. - 17 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Галаев А. Б. Фрактально-вейвлетные алгоритмы и комплекс программ компьютерного анализа микро-фотоизображений текстуры композиционных наноматериалов. Автореф. дисс.. канд. техн. наук. - М.: 2013. - 17 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ахметханов Р. С. Применение компьютерных технологий и теории фракталов в исследовании изображений микрошлифов / Проблемы машиностроения и автоматизации. 2013. № 3. С. 153 - 161.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ахметханов Р. С. Применение компьютерных технологий и теории фракталов в исследовании изображений микрошлифов / Проблемы машиностроения и автоматизации. 2013. № 3. С. 153 - 161.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Дьяконов В. Вейвлеты. От теории к практике. - М.: СОЛОН-Р, 2002. - 448 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Дьяконов В. Вейвлеты. От теории к практике. - М.: СОЛОН-Р, 2002. - 448 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Чуи К. Введение в вейвлеты. - М.: Мир, 2001. - 412 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Чуи К. Введение в вейвлеты. - М.: Мир, 2001. - 412 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ахметханов Р. С., Никифоров А. Н. Применение вейвлет-анализа для исследования нестационарных процессов роторных систем / Проблемы машиностроения и автоматизации. 2005. № 2. С. 53 - 61.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ахметханов Р. С., Никифоров А. Н. Применение вейвлет-анализа для исследования нестационарных процессов роторных систем / Проблемы машиностроения и автоматизации. 2005. № 2. С. 53 - 61.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Воскобойников Ю. Е. Фильтрации сигналов и изображений: фурье и вейвлет-алгоритмы (с примерами в Mathcad). - Новосибирск: НГАСУ (Сибстрин), 2010. - 188 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Воскобойников Ю. Е. Фильтрации сигналов и изображений: фурье и вейвлет-алгоритмы (с примерами в Mathcad). - Новосибирск: НГАСУ (Сибстрин), 2010. - 188 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">http://www.mathworks.com/help/wavelet/ug/ wavelet-packets.html (5.10.2014).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">http://www.mathworks.com/help/wavelet/ug/ wavelet-packets.html (5.10.2014).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ахметханов Р. С. Применение вейвлет-преобразований для анализа одно-, двух- и трехмерных массивов данных / Проблемы машиностроения и надежности машин. 2013. № 5. С. 112 - 119.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ахметханов Р. С. Применение вейвлет-преобразований для анализа одно-, двух- и трехмерных массивов данных / Проблемы машиностроения и надежности машин. 2013. № 5. С. 112 - 119.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
