<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">zldm</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Заводская лаборатория. Диагностика материалов</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Industrial laboratory. Diagnostics of materials</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1028-6861</issn><issn pub-type="epub">2588-0187</issn><publisher><publisher-name>ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">zldm-390</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Однолинзовая система освещения входной щели вакуумного спектрометра «Гранд-Эксперт»</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Single-Lens Entrance Slit Illumination System for a “Grand-Expert” Vacuum Spectrometer</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Бокк</surname><given-names>Д. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Bock</surname><given-names>D. N.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">bokk@vmk.iae.nsk.su</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Лабусов</surname><given-names>В. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Labusov</surname><given-names>V. A.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Зарубин</surname><given-names>И. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Zarubin</surname><given-names>I. A.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Гаранин</surname><given-names>В. Г.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Garanin</surname><given-names>V. G.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»; Новосибирский государственный технический университет</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-3"><institution>ООО «ВМК-Оптоэлектроника»; Конструкторско-технологический институт вычислительной техники СО РАН</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2017</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>01</day><month>01</month><year>2017</year></pub-date><volume>83</volume><issue>1</issue><fpage>122</fpage><lpage>126</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Бокк Д.Н., Лабусов В.А., Зарубин И.А., Гаранин В.Г., 2017</copyright-statement><copyright-year>2017</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Бокк Д.Н., Лабусов В.А., Зарубин И.А., Гаранин В.Г.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Bock D.N., Labusov V.A., Zarubin I.A., Garanin V.G.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.zldm.ru/jour/article/view/390">https://www.zldm.ru/jour/article/view/390</self-uri><abstract><p>Рассмотрены преимущества применения однолинзовой системы освещения входной щели в вакуумном спектрометре «Гранд-Эксперт» по сравнению с трехлинзовой. Показано, что для выбора аналитического промежутка можно использовать диафрагму, расположенную в искровом штативе, продуваемом аргоном. Экспериментальным путем определен рабочий диапазон давления остаточных газов в вакуумном корпусе прибора. Показана возможность расширения рабочего спектрального диапазона спектрометра «Гранд-Эксперт» в область вакуумного ультрафиолета до 130 нм.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The advantages of a single-lens slit illumination system of a “Grand-Expert” vacuum spectrometer compared to a three-lens system are considered. It is shown that the analytical gap can be chosen using a diaphragm located near the excitation source. Operating range of the residual gas pressure in the vacuum case of the device has been determined experimentally. Apossibility of expanding the spectral band of “Grand-Expert” in the vacuum ultraviolet region up to 130 nm is demonstrated.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>optical emission spectroscopy (OES)</kwd><kwd>analysis of steels and alloys</kwd><kwd>spectrum analyzers</kwd><kwd>multi-element solid-state detectors</kwd><kwd>“GrandExpert” spectrometer</kwd><kwd>атомно-эмиссионный спектральный анализ</kwd><kwd>анализ сталей и сплавов</kwd><kwd>анализатор МАЭС</kwd><kwd>спектрометр «Гранд-Эксперт»</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гаранин В. Г., Зарубин И. А., Лабусов В. А. и др. Определение состава металлов и сплавов на вакуумном атомно-эмиссионном спектрометре «Гранд-Эксперт» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 115 - 123.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гаранин В. Г., Зарубин И. А., Лабусов В. А. и др. Определение состава металлов и сплавов на вакуумном атомно-эмиссионном спектрометре «Гранд-Эксперт» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 115 - 123.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гаранин В. Г. Применение спектрометра «Гранд-Эксперт» для определения состава металлов и сплавов на основе магния, титана и алюминия / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 79-88.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гаранин В. Г. Применение спектрометра «Гранд-Эксперт» для определения состава металлов и сплавов на основе магния, титана и алюминия / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 79-88.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лабусов В. А., Путьмаков А. H., Зарубин И. А., Гаранин В. Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 7 - 13.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лабусов В. А., Путьмаков А. H., Зарубин И. А., Гаранин В. Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 7 - 13.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Зайдель А. H., Островская Г. В., Островский Ю. И. Техника и практика спектроскопии. - М.: Наука, 1972. - 376 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Зайдель А. H., Островская Г. В., Островский Ю. И. Техника и практика спектроскопии. - М.: Наука, 1972. - 376 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Зарубин И. А., Лабусов В. А., Бокк Д. Н. Оптимальная система освещения входной щели многоканальных спектрометров «Гранд» и «Экспресс» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 114-116.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Зарубин И. А., Лабусов В. А., Бокк Д. Н. Оптимальная система освещения входной щели многоканальных спектрометров «Гранд» и «Экспресс» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 114-116.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
