zldmЗаводская лаборатория. Диагностика материаловIndustrial laboratory. Diagnostics of materials1028-68612588-0187ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»10.26896/1028-6861-2018-83-1-II-51-54zldm-402Research ArticleСтатьиСовершенствование атомно-эмиссионной методики анализа графитового коллектора микропримесейImprovement of the Atomic-Emission Method for Analyzing Graphite Collector of Trace ImpuritiesДомбровскаяМ. А.DombrovskayaM. A.margodomb@yandex.ruЛисиенкоД. Г.LisienkoD. G.noemail@neicon.ruГильмуллинаЧ. Г.Gil’MullinaCh. G.noemail@neicon.ruКубринаЕ. Д.KubrinaE. D.noemail@neicon.ruУральский федеральный университет им. первого Президента России Б. Н. ЕльцинаRussian Federation201715012017831 p.II5154Copyright © Домбровская М.А., Лисиенко Д.Г., Гильмуллина Ч.Г., Кубрина Е.Д., 20172017Домбровская М.А., Лисиенко Д.Г., Гильмуллина Ч.Г., Кубрина Е.Д.Dombrovskaya M.A., Lisienko D.G., Gil’Mullina C.G., Kubrina E.D.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://www.zldm.ru/jour/article/view/402

Оптимизированы условия атомно-эмиссионного спектрального определения примесей в порошковом графите методом фракционной дистилляции в дуговом разряде переменного тока. Регистрация спектров выполнена с использованием спектрометра PGS-2, оснащенного анализатором МАЭС. Изучено влияние силы тока разряда, состава и концентрации буферной добавки, способа дозирования пробы на результаты анализа.

Conditions for atomic emission spectroscopic determination oftrace impurities in graphite powder using fractional distillation in arc AC discharge are optimized. A PGS-2 spectrometer with MAES analyzer are used for spectra recording. The effect of the discharge current, composition and concentration of buffering agents, as well as sample dispensing process on the results of analysis is studied.

graphite collector of trace impuritiesatomic emission spectral analysisfractional distillationграфитовый коллектор микропримесейатомно-эмиссионный спектральный анализфракционная дистилляцияReferencesСпектральный анализ чистых веществ / Под ред. Х. И. Зильберштейна. - СПб.: Химия, 1994. - 327 с.Спектральный анализ чистых веществ / Под ред. Х. И. Зильберштейна. - СПб.: Химия, 1994. - 327 с.Отмахов В. И., Петрова Е. В. Оптимизация условий проведения атомно-эмиссионного спектрального анализа порошковых проб сложного состава на графитовой основе / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 82 - 85.Отмахов В. И., Петрова Е. В. Оптимизация условий проведения атомно-эмиссионного спектрального анализа порошковых проб сложного состава на графитовой основе / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 82 - 85.Золотарева Н. И., Гражулене С. С. Использование реакций фторирования в кратере электрода дуги постоянного тока для снижения пределов обнаружения и повышения надежности атомно-эмиссионного определения элементов / Журн. аналит. химии. 2003. Т. 58. № 5. С. 504 - 509.Золотарева Н. И., Гражулене С. С. Использование реакций фторирования в кратере электрода дуги постоянного тока для снижения пределов обнаружения и повышения надежности атомно-эмиссионного определения элементов / Журн. аналит. химии. 2003. Т. 58. № 5. С. 504 - 509.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.