zldmЗаводская лаборатория. Диагностика материаловIndustrial laboratory. Diagnostics of materials1028-68612588-0187ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»zldm-473Research ArticleАНАЛИЗ ВЕЩЕСТВАSUBSTANCES ANALYSISОПРЕДЕЛЕНИЕ РЕДКОЗЕМЕЛЬНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ В МИНЕРАЛАХ ЭНЕРГОДИСПЕРСИОННЫМ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫМ МИКРОАНАЛИЗОМDetermination of Rare Earth Elements in Minerals by X-Ray EDX-MicroanalysisНечелюстовГ. Н.NechelyustovG. N.noemail@neicon.ruБыстровИ. Г.BystrovI. G.bysivg@gmail.comВсероссийский научно-исследовательский институт минерального сырья им. Н. М. ФедоровскогоRussian Federation2017010520178351726Copyright © Нечелюстов Г.Н., Быстров И.Г., 20172017Нечелюстов Г.Н., Быстров И.Г.Nechelyustov G.N., Bystrov I.G.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://www.zldm.ru/jour/article/view/473

Изучены метрологические характеристики и сопоставлены результаты электронно-зондового определения состава ряда редкоземельных минералов и синтетических соединений при регистрации рентгеновского излучения методами спектрометрии с волновой (ВДС) и энергетической (ЭДС) дисперсией. Проведенные исследования позволяют сделать заключение об эффективности и достаточной степени надежности микрозондового энергодисперсионного метода при анализе редкоземельных минералов. При определении основных и второстепенных компонентов редкоземельных минералов методы регистрации с помощью ЭДС и ВДС сопоставимы по точности, при определении элементов-примесей (ниже 1 %) метод ЭДС существенно уступает методу ВДС.

We present the results of studying metrological characteristics and comparative analysis of the data of electron probe determination of the composition of rare earth minerals and synthetic compounds obtained both by wavelength-dispersive (WDS) and energy-dispersive X-ray spectrometry (EDS). The measurements are carried out on a JXA-8100 (Jeol) micro-probe with three wave spectrometers and energy-system “Link Pentafet” with “INCA Energy 400” software (Oxford Inst., UK). The results demonstrated the effectiveness and reliability of microprobe EDS method in analysis of rare earth minerals. EDS and WDS are comparable in accuracy upon determination of the major and minor components of rare earth minerals, whereas for trace elements (below 1 wt.%) EDS is substantially behind WDS method.

electron probe microanalysiswavelength-dispersive spectrometryenergy-dispersive spectrometrymetrological characteristicsrare earth mineralsэлектронно-зондовый микроанализспектрометрия с волновой дисперсиейспектрометрия с энергетической дисперсиейметрологические характеристикиредкоземельные минералыReferencesАвдонин А. С., Абрамов М. В., Нечелюстов Г. Н. и др. Методика микрозондового анализа редкоземельных минералов / Расширенные тезисы докладов I Всесоюзной школы-семинара «Микрозонд и прогресс в геологии», 1989. С. 94 - 95.Авдонин А. С., Абрамов М. В., Нечелюстов Г. Н. и др. Методика микрозондового анализа редкоземельных минералов / Расширенные тезисы докладов I Всесоюзной школы-семинара «Микрозонд и прогресс в геологии», 1989. С. 94 - 95.Архангельская В. В., Нечелюстов Г. H., Рябенко С. В. Минералогия лантаноидов и иттрия в процессе редкометалльного щелочного метасоматоза / В кн.: Проблемы генетической и прикладной минералогии. - М., 1990. С. 88 - 106.Архангельская В. В., Нечелюстов Г. H., Рябенко С. В. Минералогия лантаноидов и иттрия в процессе редкометалльного щелочного метасоматоза / В кн.: Проблемы генетической и прикладной минералогии. - М., 1990. С. 88 - 106.Баринский Р. Л. О соотношении четных и нечетных редкоземельных элементов в различных минералах / Доклады АН СССР. 1958. Т. 120. №3. С. 573 -576.Баринский Р. Л. О соотношении четных и нечетных редкоземельных элементов в различных минералах / Доклады АН СССР. 1958. Т. 120. №3. С. 573 -576.Булах А. Г., Золотарев А. А., Кривовичев В. Г. Структура, изоморфизм, формулы, классификация минералов. - СПб.: СПбГУ, 2014. -132 с.Булах А. Г., Золотарев А. А., Кривовичев В. Г. Структура, изоморфизм, формулы, классификация минералов. - СПб.: СПбГУ, 2014. -132 с.Куликова И. М., Набелкин О. А. Рентгеноспектральный микроанализ минералов, содержащих редкоземельные элементы / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2014. №4. Т. 80. С. 20 - 27.Куликова И. М., Набелкин О. А. Рентгеноспектральный микроанализ минералов, содержащих редкоземельные элементы / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2014. №4. Т. 80. С. 20 - 27.Лаврентьев Ю. Г., Карманов Н. С., Усова Л. В. Электроннозондовое определение состава минералов: микроанализатор или сканирующий электронный микроскоп? / Геология и геофизика. 2015. Т. 56. №8. С. 1473 - 1482.Лаврентьев Ю. Г., Карманов Н. С., Усова Л. В. Электроннозондовое определение состава минералов: микроанализатор или сканирующий электронный микроскоп? / Геология и геофизика. 2015. Т. 56. №8. С. 1473 - 1482.Лазарева Е. В., Жмодик С. М., Добрецов Н. Л. и др. Главные рудообразующие минералы аномально богатых руд месторождения Томтор (Арктическая Сибирь) / Геология и геофизика. 2015. Т. 56. №6. С. 1080- 1115.Лазарева Е. В., Жмодик С. М., Добрецов Н. Л. и др. Главные рудообразующие минералы аномально богатых руд месторождения Томтор (Арктическая Сибирь) / Геология и геофизика. 2015. Т. 56. №6. С. 1080- 1115.Лапутина И. П. Микрозонд в минералогии. - М.: Наука, 1991. - 139 с.Лапутина И. П. Микрозонд в минералогии. - М.: Наука, 1991. - 139 с.Рид С. Дж. Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии. - М.: Техносфера, 2008. - 232 с.Рид С. Дж. Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии. - М.: Техносфера, 2008. - 232 с.Рябенко С. В., Нечелюстов Г. H., Завьялов Е. Н. Новые данные об изоморфизме в природной системе CaF2 - TRF3 / Новые данные о минералах. 1988. Вып. 35. С. 151 - 161.Рябенко С. В., Нечелюстов Г. H., Завьялов Е. Н. Новые данные об изоморфизме в природной системе CaF2 - TRF3 / Новые данные о минералах. 1988. Вып. 35. С. 151 - 161.Chehreh Chelgani S., Hart B., Xia L. A TOF-SIMS surface chemical analytical study of rare earth element minerals from micro-flotation tests products / Minerals Eng. 2013. Vol. 45. P. 32 - 40.Chehreh Chelgani S., Hart B., Xia L. A TOF-SIMS surface chemical analytical study of rare earth element minerals from micro-flotation tests products / Minerals Eng. 2013. Vol. 45. P. 32 - 40.Friel J. J., Mott R. B. Energy-Dispersive Spectrometry from Then until Now: A Chronology of Innovation / Microsc. Microanal. 1999. N 4. P. 559-566.Friel J. J., Mott R. B. Energy-Dispersive Spectrometry from Then until Now: A Chronology of Innovation / Microsc. Microanal. 1999. N 4. P. 559-566.Wendt M., Dellith J. M-spectra of rare earth elements measured with an ultra-thin windows Si(Li) detector / Microchim. Acta. 2004. Vol. 145. P. 261 -265.Wendt M., Dellith J. M-spectra of rare earth elements measured with an ultra-thin windows Si(Li) detector / Microchim. Acta. 2004. Vol. 145. P. 261 -265.http://www.oxinst.ru/html/INCAWave.htm (дата обращения 12.08.16).http://www.oxinst.ru/html/INCAWave.htm (дата обращения 12.08.16).

The authors declare that there are no conflicts of interest present.