zldmЗаводская лаборатория. Диагностика материаловIndustrial laboratory. Diagnostics of materials1028-68612588-0187ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»zldm-76Research ArticleМАТЕМАТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯMATHEMATICAL METHODS OF INVESTIGATIONО технической диагностике качества диодных матрицOn the Technical Diagnostics of the Quality of Diode ArrangementsОрловВ. И.OrlovV. I.noemail@neicon.ruСергееваН. А.SergeevaN. A.noemail@neicon.ruЧжанЕ. А.ChzhanE. A.ekach@list.ruОАО «Испытательный технический центр - НПО ПМ»Russian FederationСибирский федеральный университетRussian Federation2015010520158157176Copyright © Орлов В.И., Сергеева Н.А., Чжан Е.А., 20152015Орлов В.И., Сергеева Н.А., Чжан Е.А.Orlov V.I., Sergeeva N.A., Chzhan E.A.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://www.zldm.ru/jour/article/view/76

Рассмотрена задача диагностики качества электрорадиоизделий по результатам испытаний неразрушающего контроля. Приведен пример группировки диодных матриц по данным испытаний электротермотренировки. Установлено, что диоды одной матрицы могут быть отнесены к двум группам. Данное заключение позволило оптимизировать ведение технологического процесса изготовления диодов в рамках технологического регламента.

A problem of quality control of electronic components by the results of non-destruction testing is considered. An example of grouping diode arrangements proceeding from the results of burn-in testing is presented. We have shown that diodes of the same matrix have different properties and can be devided into two groups and propose to optimize the process of the diode manufacture within the framework of process specifications.

диагностикаэлектрорадиоизделиядиодная матрицагруппировкаиспытания электротермотренировкитехнологический регламентdiagnosticselectronic componentdiode arrangementgroupingburn-in testingmanufacturing instructionsnonparametric density estimationReferencesОрлов А. И. Математические методы исследования и диагностика материалов (обобщающая статья) / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2003. Т. 69. № 3. С. 53 - 64.Орлов А. И. Математические методы исследования и диагностика материалов (обобщающая статья) / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2003. Т. 69. № 3. С. 53 - 64.ГОСТ Р 53711-2009. Изделия электронной техники. Правила приемки // Система стандартов по информации, библиотечному и издательскому делу. - М.: Стандартинформ, 2010.ГОСТ Р 53711-2009. Изделия электронной техники. Правила приемки // Система стандартов по информации, библиотечному и издательскому делу. - М.: Стандартинформ, 2010.Орлов А. И. Прикладная статистика. - М.: Экзамен, 2006. - 671 с.Орлов А. И. Прикладная статистика. - М.: Экзамен, 2006. - 671 с.Новиков Д. А., Орлов А. И. Математические методы классификации / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 4. С. 3.Новиков Д. А., Орлов А. И. Математические методы классификации / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 4. С. 3.Орлов В. И., Сергеева Н. А., Чжан Е. А. Техническая диагностика электрорадиоизделий / Труды XII Всероссийского совещания по проблемам управления ВСПУ-2014. Москва, 16 - 19 июня, 2014. С. 7676 - 7682.Орлов В. И., Сергеева Н. А., Чжан Е. А. Техническая диагностика электрорадиоизделий / Труды XII Всероссийского совещания по проблемам управления ВСПУ-2014. Москва, 16 - 19 июня, 2014. С. 7676 - 7682.Орлов В. И., Сергеева Н. А. О непараметрической диагностике и управлении процессом изготовления электрорадиоизделий / Вестник Сибирского государственного аэрокосмического университета им. Академика М. Ф. Решетнева. 2013. № 2(48). С. 70 - 75.Орлов В. И., Сергеева Н. А. О непараметрической диагностике и управлении процессом изготовления электрорадиоизделий / Вестник Сибирского государственного аэрокосмического университета им. Академика М. Ф. Решетнева. 2013. № 2(48). С. 70 - 75.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.