<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">zldm</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Заводская лаборатория. Диагностика материалов</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Industrial laboratory. Diagnostics of materials</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1028-6861</issn><issn pub-type="epub">2588-0187</issn><publisher><publisher-name>ООО «Издательство «ТЕСТ-ЗЛ»</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.26896/1028-6861-2019-85-1-II-112-116</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">zldm-893</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>МНОГОКАНАЛЬНЫЕ АНАЛИЗАТОРЫ ЭМИССИОННЫХ СПЕКТРОВ МАЭС</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>MAÉS MULTICHANNEL ANALYZERS OF EMISSION SPECTRA</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Расширение диапазона определяемых содержаний элементов за счет использования линий с самопоглощением</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Expansion of the analyte concentration range using self-absorption lines</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ващенко</surname><given-names>П. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Vashchenko</surname><given-names>P. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>г. Новосибирск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Novosibirsk</p></bio><email xlink:type="simple">vaschenko@vmk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Лабусов</surname><given-names>В. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Labusov</surname><given-names>V. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>г. Новосибирск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Novosibirsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Гаранин</surname><given-names>В. Г.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Garanin</surname><given-names>V. G.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>г. Новосибирск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Novosibirsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Борисов</surname><given-names>А. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Borisov</surname><given-names>A. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>г. Новосибирск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Novosibirsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Институт автоматики и электрометрии СО РАН;&#13;
ООО «ВМК-Оптоэлектроника»</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Institute of Automation and Electrometry, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences;&#13;
«VMK-Optoélektronika»</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru"><institution>Институт автоматики и электрометрии СО РАН;&#13;
ООО «ВМК-Оптоэлектроника»;&#13;
Новосибирский государственный технический университет</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Institute of Automation and Electrometry, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences;&#13;
«VMK-Optoélektronika»;&#13;
Novosibirsk State Technical University</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-3"><aff xml:lang="ru"><institution>ООО «ВМК-Оптоэлектроника»</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>«VMK-Optoélektronika»</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2019</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>15</day><month>02</month><year>2019</year></pub-date><volume>85</volume><issue>1(II)</issue><fpage>112</fpage><lpage>116</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Ващенко П.В., Лабусов В.А., Гаранин В.Г., Борисов А.В., 2019</copyright-statement><copyright-year>2019</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Ващенко П.В., Лабусов В.А., Гаранин В.Г., Борисов А.В.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Vashchenko P.V., Labusov V.A., Garanin V.G., Borisov A.V.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.zldm.ru/jour/article/view/893">https://www.zldm.ru/jour/article/view/893</self-uri><abstract><p>В атомно-эмиссионном спектральном анализе при использовании дуговых источников излучения ширина спектральной линии, как правило, много меньше аппаратной функции спектрального прибора. Таким образом, контур спектральной линии определяется аппаратной функцией прибора и может быть аппроксимирован, например, функцией Фойгта. Однако при анализе стандартных образцов с широким диапазоном концентраций элементов нередко возникает проблема самопоглощения, из-за которой приходится менять аналитическую линию, что не всегда возможно. В данной работе предлагается модифицировать функцию Фойгта путем добавления множителя, описывающего самопоглощение, по аналогии с законом Бугера – Ламберта. Возможность применения предлагаемой функции оценили при анализе стандартных образцов горных пород, руд и песчаников с использованием спектрального комплекса «Гранд-Поток» с анализатором МАЭС и линейками фотодетекторов БЛПП-2000: удалось увеличить рабочий диапазон градуировочных графиков для определения меди по линиям 327,3954 и 324,7532 нм, свинца по линии 287,3311 нм, никеля по линии 305,0818 нм и молибдена по линии 313,2594 нм на 1 – 3 порядка величины.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The width of a spectral line in atomic emission spectral analysis with arc radiation sources is, as a rule, much smaller than the hardware function of the spectral device. Thus, the spectral line shape is determined by the hardware function of the spectral device and can be approximated, for example, by the Voigt function. However, when analyzing standard samples with a wide range of element concentrations, the problem of self-absorption often occurs, due to which the analytical line has to be changed, which is not always possible. We propose to modify the Voigt function by adding a factor that describes self-absorption, by analogy with the Bouguer-Lambert law. The possibility of using the proposed function was evaluated in analysis of standard samples of rocks, ores and sandstones on a Grand-Potok spectral system with a MAÉS analyzer and BLPP-2000 linear photodetector arrays. The use of proposed approximating function is shown to provide an increase in the working range of the calibration curves of Cu 327.3954 nm, Cu 324.7532 nm, Pb 287.3311 nm, Ni 305.0818 nm, and Mo 313.2594 nm by 1 – 3 orders of magnitude.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>атомно-эмиссионная спектрометрия</kwd><kwd>линейный фотодетектор</kwd><kwd>форма контура линии</kwd><kwd>самопоглощение</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>atomic emission spectrometry</kwd><kwd>linear photodetector</kwd><kwd>line shape</kwd><kwd>self-absorption</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Stancik A. L., Brauns E. B. A simple asymmetric lineshape for fitting infrared absorption spectra / Vibr. Spectrosc. 2008. Vol. 47. P. 66 – 69.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Stancik A. L., Brauns E. B. A simple asymmetric lineshape for fitting infrared absorption spectra / Vibr. Spectrosc. 2008. Vol. 47. P. 66 – 69.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лабусов В. А., Путьмаков А. Н., Зарубин И. А., Гаранин В. Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 7 – 13.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Labusov V. A., Put’makov A. N., Zarubin I. A., Garanin V. G. New Multichannel Optical Spectrometers Based on MAES Analyzers / Zavod. Lab. Diagn. Mater. 2012. Vol. 78. N 1. Part II. P. 7 – 13 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Шабанова Е. В., Бусько А. Е., Васильева И. Е. Дуговой сцинтилляционный атомно-эмиссионный анализ порошковых проб при использовании МАЭС с высоким временным разрешением / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 24 – 33.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Shabanova E. V., Bus’ko A. E., Vasil’eva I. E. Scintillation Arc Atomic Emission Analysis of Powder Samples Using MAES with High Temporal Resolution / Zavod. Lab. Diagn. Mater. 2012. Vol. 78. N 1. Part II. P. 24 – 33 [in Russian].</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
