Рентгенофлуоресцентный экспресс-анализ технического тантала и ниобия: от сырья до продукта
https://doi.org/10.26896/1028-6861-2023-89-6-5-12
Аннотация
Существующие подходы к определению примесей в материалах на основе Ta и Nb предполагают перевод пробы в раствор с последующим выделением примесей. Эта процедура является достаточно сложной и занимает много времени. В связи с этим представляет интерес исследование возможностей прямого, в частности, рентгенофлуоресцентного анализа (РФА) твердых проб этих материалов. Обычная схема РФА, предполагающая экспериментальное построение градуировочных характеристик для каждого определяемого элемента, требует большого количества образцов сравнения, содержащих весьма широкий набор примесей. В настоящей работе проведена предварительная характеризация образцов технического тантала и ниобия и изделий на их основе. Показано, что для исходных материалов методом РФА можно установить только значимое отсутствие примесей, однако уже для спеченного гидрида ниобия и порошка тантала РФА можно использовать для экспресс-оценки состава. Для анализа предложено применять кристалл-дифракционный спектрометр «Спектроскан Макс-GVM», а для построения градуировки использовать штатное программное обеспечение, реализующее метод фундаментальных параметров (МФП). В этом случае получаемые содержания примесей могут отличаться на 1 – 2 порядка величины от опорных значений. Такой точности часто достаточно для корректировки технологических процессов. Установлены пределы обнаружения примесей методом РФА в материалах на основе Ta и Nb: для элементов, определяемых по линиям K-серии (от Ti до Co), предел обнаружения лежит в диапазоне от 30 до 60 млн–1. Для элементов, определяемых по линиям M-серии (Ta), предел обнаружения составляет примерно 200 млн–1, по линиям L-серии (Nb) — от 100 до 150 млн–1.
Об авторах
Л. Ю. МежеваяРоссия
Лилия Юрьевна Межевая
119049, Москва, Ленинский проспект, д. 4
М. Н. Филиппов
Россия
Михаил Николаевич Филиппов
119049, Москва, Ленинский проспект, д. 4
Москва, 119991, Ленинский проспект, д. 31
О. И. Лямина
Россия
Ольга Игоревна Лямина
Москва, 119991, Ленинский проспект, д. 31
Г. Е. Марьина
Россия
Галина Евгеньевна Марьина
Москва, 119991, Ленинский проспект, д. 31
А. А. Архипенко
Россия
Василиса Борисовна Барановская
Москва, 119991, Ленинский проспект, д. 31
В. Б. Барановская
Россия
119049, Москва, Ленинский проспект, д. 4
Москва, 119991, Ленинский проспект, д. 31
Список литературы
1. Мосичев В. И., Николаев Г. И., Калинин Б. Д. Металлы и сплавы. Анализ и исследование. Методы атомной спектроскопии. Атомно-эмиссионный, атомно-абсорбционный и рентгенофлуоресцентный анализ: справ. Т. 2. — СПб.: НПО «Профессионал», 2006. — 716 с.
2. Карпов Ю. А., Барановская В. Б. Проблемы стандартизации методов химического анализа в металлургии / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2019. Т. 85. № 1. Ч. II. С. 5 – 14. DOI: 10.26896/1028-6861-2019-85-1-II-5-14
3. Карпов Ю. А., Барановская В. Б. Методы анализа редких и благородных металлов — пути развития / Аналитика. 2019. Т. 9. С. 40 – 47. DOI: 10.22184/2227-572X.2019.09.1.40.47
4. Суворова Д. С., Худоногова Е. В., Ревенко А. Г. Разработка методики рентгенофлуоресцентного определения содержаний Ga, Hf и Ta в редкоземельных рудах / Аналитика и контроль. 2016. Т. 20. ¹ 4. С. 344 – 354. DOI: 10.15826/analitika.2016.20.4.009
5. Suvorova D., Khudonogova E., Revenko A. X-ray fluorescence determination of Cs, Ce, Nd, and Ta concentrations in rocks of various composition / X-Ray Spectrom. 2017. Vol. 46. N 3. P. 200 – 208. DOI: 10.1002/xrs.2747
6. Лосев Н. Ф. Количественный рентгеноспектральный флуоресцентный анализ. — М.: Наука, 1969. — 336 с.
7. Ревенко А. Г. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ природных материалов. — Новосибирск: Наука, 1994. — 264 с.
8. Жижин И. П., Калинин Б. Д., Литинский А. В. и др. Рентгенофлуоресцентные спектрометры серии «Спектроскан Макс». Аналитические характеристики / Аналитика и контроль. 2002. Т. 6. № 4. С. 463 – 469.
9. Борходоев В. Я. О связи пределов обнаружения и определения в рентгенофлуоресцентном анализе / Журн. аналит. химии. 2015. Т. 70. № 11. С. 1143 – 1148. DOI: 10.7868/S0044450215090042
10. Борходоев В. Я. О пределе обнаружения в рентгенофлуоресцентном анализе / Журн. аналит. химии. 2014. Т. 69. ¹ 11. С. 1141 – 1146. DOI: 10.7868/S0044450214110024
11. Sherman J., Winifred J. M. Adjustment of an Inverse Matrix Corresponding to Changes in the Elements of a Given Column or a Given Row of the Original Matrix / Ann. Math. Stat. 1950. Vol. 21. N 1. P. 124 – 127. DOI: 10.1214/aoms/1177729893
12. Бондаренко А. В., Белоновский А. В., Кацман Я. М. Применение метода фундаментальных параметров при рентгенофлуоресцентном анализе пульповых продуктов обогащения руд / Горная промышленность. 2021. ¹ 5 – 2. С. 84 – 88.
13. Mantler M., Willis J., Lachance G., et al. Quantitative analysis / Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis, B. Beckhoff, B. Kanngießer, N. Langhoff, R. Wedell, H. Wolff, Eds. — Berlin – Heidelberg: Springer, 2006. P. 309 – 410. DOI: 10.1007/978-3-540-36722-2_5
14. Борходоев В. Я. Рентгенофлуоресцентный анализ горных пород способом фундаментальных параметров. — Магадан: СВКНИИ ДВО РАН, 1999. — 279 с.
15. Rousseau R. Corrections for matrix effects in X-ray fluorescence analysis — A tutorial / Spectrochim. Acta. B. 2006. Vol. 7. P. 759 – 777. DOI: 10.1016/j.sab.2006.06.014
Рецензия
Для цитирования:
Межевая Л.Ю., Филиппов М.Н., Лямина О.И., Марьина Г.Е., Архипенко А.А., Барановская В.Б. Рентгенофлуоресцентный экспресс-анализ технического тантала и ниобия: от сырья до продукта. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2023;89(6):5-12. https://doi.org/10.26896/1028-6861-2023-89-6-5-12
For citation:
Mezhevaya L.Yu., Filippov M.N., Lyamina O.I., Mar’ina G.E., Arkhipenko A.A., Baranovskaya V.B. Express X-ray fluorescent analysis of technical-grade tantalum and niobium: from raw materials to products. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2023;89(6):5-12. (In Russ.) https://doi.org/10.26896/1028-6861-2023-89-6-5-12