BLPP-2000 Array Based High-Speed Multichannel Analyzers of Atomic Emission Spectra
Abstract
A multichannel atomic emission spectrum analyzer based on four BLPP-2000 photodiode arrays has been developed that provides recording a sequence of several thousand spectra with an exposure time of 0.4 during excitation of a powdered geological sample. Signal-to-noise ratio of Au 267.595 nm spectral line scintillation recorded by a BLPP-2000 array is shown to be 10 times higher than that recorded by a BLPP-369M1 array.
Keywords
спектроскопия с временным разрешением,
атомно-эмиссионный спектральный анализ,
порошковые геологические пробы,
сцинтилляция,
твердотельные детекторы излучения,
снижение пределов обнаружения элементов,
time-resolved spectroscopy,
atomic emission spectral analysis,
powdered geological samples,
scintillation,
multi-element solid-state detectors,
detection limit reduction
About the Authors
S. A. Babin
Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»
Russian Federation
Russian Federation
V. A. Labusov
Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»; Новосибирский государственный технический университет
Russian Federation
Russian Federation
D. O. Selyunin
Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»
Russian Federation
Russian Federation
A. A. Dzyuba
Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»; Новосибирский государственный технический университет
Russian Federation
Russian Federation
References
1. Васильева И. Е., Шабанова Е. В., Бусько А. Е., Кунаев А. Б. Методика определения содержания золота и серебра в геологических образцах с использованием сцинтилляционного атомно-эмиссионного анализа с высоким временным разрешением / Аналитика и контроль. 2010. Т. 14. № 4. С. 201 - 213.
2. Шабанова Е. В., Васильева И. Е., Бусько А. Е., Кунаев А. Б. Оценка размера частиц золота и серебра в геологических образцах с использованием сцинтилляционного атомно-эмиссионного анализа с высоким временным разрешением / Аналитика и контроль. 2010. Т. 14. № 4. С. 186 - 200.
3. Шабанова Е. В., Бусько А. Е., Васильева И. Е. Дуговой сцинтилляционный атомно-эмиссионный анализ порошковых проб при использовании МАЭС с высоким временным разрешением / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 24 - 33.
4. Гаранин В. Г., Ращенко В. В. Программируемые генераторы для возбуждения атомно-эмиссионных спектров «Шаровая молния» / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 54 - 58.
5. Селюнин Д. О., Лабусов В. А., Гаранин В. Г. и др. Анализаторы МАЭС для получения последовательности атомно-эмиссионных спектров с временем экспозиции 1 мс / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2011. Т. 77. № 6. С. 21 - 25.
6. Селюнин Д. О., Бабин С. А., Лабусов В. А. Высокоскоростные анализаторы МАЭС с интерфейсом Gigabit Ethernet / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 39 - 43.
7. Лабусов В. А., Бехтерев А. В. Линейки фотодиодов - базовые элементы многоканальных анализаторов атомно-эмиссионных спектров / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. Специальный выпуск. С. 7 - 12.
8. Бабин С. А., Лабусов В. А. Оценка оптимальных параметров многоэлементных твердотельных детекторов для сцинтилляционного атомно-эмиссионного спектрального анализа / Аналитика и контроль. 2014. Т. 18. № 1. С. 40 - 49.
9. Лабусов В. А. Приборы и комплексы для атомно-эмиссионного спектрального анализа компании «ВМК-Оптоэлектроника». Современное состояние / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 12 - 21.
10. Шаталов И. Г., Косых В. П., Лабусов В. А., Неклюдов О. А. Алгоритм обработки последовательности атомно-эмиссионных спектров во времени для снижения пределов обнаружения элементов / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2011. Т. 77. № 7. С. 38 - 43.
Review
For citations:
Babin S.A., Labusov V.A., Selyunin D.O., Dzyuba A.A. BLPP-2000 Array Based High-Speed Multichannel Analyzers of Atomic Emission Spectra. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2015;81(1):108-113. (In Russ.)
Views:
407
Email this article 