Optimum System for Illuminating the Entrance Slit of Grand and Ékspress Multichannel Spectrometers
Abstract
Achromatic lenses and a system for illuminating the entrance slit are developed for the spectrometers operating in the range of 190 - 470 nm. The dependence of the residual chromatic aberrations of the achromatic lenses on the wavelength is presented. It is shown that the illumination of the entrance slit is insensitive to the discharge displacement within ±3 mm.
About the Authors
I. A. Zarubin
Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»
Russian Federation
Russian Federation
V. A. Labusov
Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»; Новосибирский государственный технический университет
Russian Federation
Russian Federation
D. N. Bock
Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»
Russian Federation
Russian Federation
References
1. Прокофьев В. К. Фотографические методы количественного спектрального анализа металлов и сплавов. Ч. 1. - М.: Гостехиздат, 1951. С. 156 - 162.
2. Лабусов В. А., Путьмаков А. Н., Зарубин И. А., Гаранин В. Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 7 - 13.
3. Нагибина И. М., Прокофьев В. К. Спектральные приборы и техника спектроскопии. Изд. 2-е, доп. и перераб. - Л.: «Машиностроение», 1967. - 324 с.
Review
For citations:
Zarubin I.A., Labusov V.A., Bock D.N. Optimum System for Illuminating the Entrance Slit of Grand and Ékspress Multichannel Spectrometers. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2015;81(1):114-116. (In Russ.)
Views:
278
Email this article 