Preview

Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Расширенный поиск

Автоматическая градуировка спектрометров с анализаторами МАЭС по длинам волн (профилирование)

Полный текст:

Аннотация

Описана разработанная программа автоматического профилирования (градуировки по длине волны) спектрометров с анализаторами МАЭС, в которой реализована фильтрация экспериментальных значений по параметру качества. Для оценки этого параметра применена аналитическая функция, описывающая форму спектральных линий, учтены влияние слившихся спектральных линий и другие критерии. Интегральная оценка качества градуировочных точек позволяет в автоматическом режиме существенно снизить погрешность получаемого профилирования. Метод реализован в программе «Атом».

Об авторах

С. В. Панкратов
Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»
Россия


В. А. Лабусов
Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»; Новосибирский государственный технический университет
Россия


О. А. Неклюдов
ООО «ВМК-Оптоэлектроника»
Россия


П. В. Ващенко
Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»
Россия


Список литературы

1. Лабусов В. А., Гаранин В. Г., Шелпакова И. Р. Многоканальные анализаторы атомно-эмиссионных спектров. Современное состояние и аналитические возможности / Журн. аналит. химии. 2012. Т. 67. № 7. С. 697 - 707.

2. Лабусов В. А., Путьмаков А. Н., Зарубин И. А., Гаранин В. Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 7 - 13.

3. Гаранин В. Г., Неклюдов О. А., Петроченко Д. В. и др. Программное обеспечение атомно-эмиссионного спектрального анализа (программа «Атом») / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 69 - 74.

4. Шаталов И. Г., Лабусов В. А., Неклюдов О. А., Панкратов С. В. Автоматическое профилирование многоканальных спектрометров с анализаторами МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 74 - 77.

5. Зайдель А. Н. Основы спектрального анализа. - М.: Наука, 1965.

6. Ващенко П. В., Лабусов В. А. Восстановление формы одиночной спектральной линии в дуговых атомно-эмиссионных спектрах / Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности». Новосибирск, 2012. С. 61.


Для цитирования:


Панкратов С.В., Лабусов В.А., Неклюдов О.А., Ващенко П.В. Автоматическая градуировка спектрометров с анализаторами МАЭС по длинам волн (профилирование). Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015;81(1):128-134.

For citation:


Pankratov S.V., Labusov V.A., Nekludov O.A., Vashchenko P.V. Automatic Wavelength Calibration of the Spectrometers with MAES Analyzers (Profiling). Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2015;81(1):128-134. (In Russ.)

Просмотров: 108


ISSN 1028-6861 (Print)
ISSN 2588-0187 (Online)