Automatic Wavelength Calibration of the Spectrometers with MAES Analyzers (Profiling)
Abstract
A software for automatic profiling (wavelength calibration) of the spectrometers with MAES analyzers which implements a quality filtering of experimental values is developed. This quality parameter is estimated using an analytic function describing the shape of spectral lines with allowance for the effect of merged spectral lines and other criteria. Integral evaluation of the quality of calibration points provides an automatic significant reduction of the profiling error. The method is implemented in the framework of the «Atom» program.
Keywords
функция кросс-корреляции,
градуировка по длине волны,
многоканальные спектрометры,
атомно-эмиссионные спектры,
анализаторы спектров,
многоэлементные твердотельные детекторы,
линейки фотодиодов,
cross-correlation function,
wavelength calibration,
multichannel spectrometers,
atomic emission spectra,
spectrum analyzers,
multi-element solid-state detectors,
photodiode arrays
About the Authors
S. V. Pankratov
Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»
Russian Federation
Russian Federation
V. A. Labusov
Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»; Новосибирский государственный технический университет
Russian Federation
Russian Federation
O. A. Nekludov
ООО «ВМК-Оптоэлектроника»
Russian Federation
Russian Federation
P. V. Vashchenko
Институт автоматики и электрометрии СО РАН; ООО «ВМК-Оптоэлектроника»
Russian Federation
Russian Federation
References
1. Лабусов В. А., Гаранин В. Г., Шелпакова И. Р. Многоканальные анализаторы атомно-эмиссионных спектров. Современное состояние и аналитические возможности / Журн. аналит. химии. 2012. Т. 67. № 7. С. 697 - 707.
2. Лабусов В. А., Путьмаков А. Н., Зарубин И. А., Гаранин В. Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 7 - 13.
3. Гаранин В. Г., Неклюдов О. А., Петроченко Д. В. и др. Программное обеспечение атомно-эмиссионного спектрального анализа (программа «Атом») / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 69 - 74.
4. Шаталов И. Г., Лабусов В. А., Неклюдов О. А., Панкратов С. В. Автоматическое профилирование многоканальных спектрометров с анализаторами МАЭС / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 74 - 77.
5. Зайдель А. Н. Основы спектрального анализа. - М.: Наука, 1965.
6. Ващенко П. В., Лабусов В. А. Восстановление формы одиночной спектральной линии в дуговых атомно-эмиссионных спектрах / Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности». Новосибирск, 2012. С. 61.
Review
For citations:
Pankratov S.V., Labusov V.A., Nekludov O.A., Vashchenko P.V. Automatic Wavelength Calibration of the Spectrometers with MAES Analyzers (Profiling). Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2015;81(1):128-134. (In Russ.)
Views:
534
Email this article 