Preview

Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Расширенный поиск

Снижение пределов обнаружения примесей при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой

Полный текст:

Аннотация

Для снижения пределов обнаружения (ПО) примесей при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ИСП-АЭС) использовано устройство электротермического испарения (ЭТИ) проб производства ООО «ВМК-Оптоэлектроника». Изучены временные зависимости поступления аналитов в ИСП, выбраны операционные параметры ЭТИ. На примере анализа высокочистого диоксида германия показана эффективность применения устройства ЭТИ, оценены преимущества и недостатки данного способа ввода концентрата примесей в ИСП.

Об авторах

Н. С. Медведев
ФГБУН Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН
Россия


А. Н. Путьмаков
ФГБУН Институт автоматики и электрометрии СО РАН
Россия


А. В. Шаверина
ФГБУН Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН
Россия


А. Р. Цыганкова
ФГБУН Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН; ФГБУ ВПО Новосибирский национальный исследовательский государственный университет
Россия


А. И. Сапрыкин
ФГБУН Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН; ФГБУ ВПО Новосибирский национальный исследовательский государственный университет
Россия


Список литературы

1. Шелпакова И. Р., Сапрыкин А. И., Чанышева Т. А., Юделевич И. Г. / Журн. аналит. химии. 1983. Т. 38. № 4. С. 581.

2. Чанышева Т. А., Шелпакова И. Р., Сапрыкин А. И., Янковская Л. М., Юделевич И. Г. / Журн. аналит. химии. 1983. Т. 38. № 6. С. 979.

3. Gunn A. M., Millard D. L., Kirkbright G. F. / Analyst. 1978. Vol. 103. P. 1066 - 1073.

4. Millard D. L., Shan H. C., Kirkbright G. F. / Analyst. 1980. Vol. 105. P. 502 - 508.

5. Schmertmann S. M., Longt S. E., Browner R. F. / J. Anal. Atom. Spectrom. 1987. Vol. 2. P. 687 - 693.

6. Курилко С. С., Путьмаков А. Н., Лабусов В. А., Боровиков В. М., Селюнин Д. О. / Материалы XIV Международного симпозиума «Применение МАЭС в промышленности». Новосибирск. 2013. С. 40 - 50.

7. Маньшина И. В., Молодык А. Д., Потепалов В. П. / Высокочистые вещества. 1990. № 1. С. 154 - 157.

8. Медведев Н. С., Цыганкова А. Р., Кукарин В. Ф., Сапрыкин А. И. / Журн. аналит. химии. 2014. Т. 69. № 6. С. 652 - 659.

9. Чанышева Т. А., Шелпакова И. Р., Сапрыкин А. И. / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2009. Т. 75. № 1. С. 7 - 10.

10. Карандашев В. К., Безруков Л. Б., Корноухов В. Н., Носенко С. В., Главин Г. Г., Овчинников С. В. / Журн. аналит. химии. 2009. Т. 64. № 3. С. 274 - 282.


Для цитирования:


Медведев Н.С., Путьмаков А.Н., Шаверина А.В., Цыганкова А.Р., Сапрыкин А.И. Снижение пределов обнаружения примесей при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015;81(1):157-160.

For citation:


Medvedev N.S., Put’Makov A.N., Shaverina A.V., Tsygankova A.R., Saprykin A.I. Reduction of the Detection Limits in Trace Analysis of High Purity Substances by ICP-AES. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2015;81(1):157-160. (In Russ.)

Просмотров: 110


ISSN 1028-6861 (Print)
ISSN 2588-0187 (Online)