Reduction of the Detection Limits in Trace Analysis of High Purity Substances by ICP-AES
Abstract
Application of a device for electrothermal sample vaporization («VMK-Optoelectronika» Ltd., Russia) used to reduce the detection limits in determination of trace elements by ICP-AES is considered. Dependences of the analytical signal vs time for trace elements are studied. Operating conditions of electrothermal vaporization (ETV) are specified. The efficiency of using ETV in combination with ICP-AES is exemplified in analysis of high purity germanium dioxide with preliminary concentration of trace elements. Advantages and limitations of using ETV-ICP-AES procedure for trace analysis of high purity substances are discussed.
Keywords
атомно-эмиссионный спектральный анализ с индуктивно-связанной плазмой,
электротермическое испарение проб,
концентрирование примесей,
пределы обнаружения аналитов,
atomic emission spectrometry,
inductively coupled plasma,
electrothermal vaporization,
trace analysis,
preconcentration of trace elements,
detection limits
About the Authors
N. S. Medvedev
ФГБУН Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН
Russian Federation
Russian Federation
A. N. Put’Makov
ФГБУН Институт автоматики и электрометрии СО РАН
Russian Federation
Russian Federation
A. V. Shaverina
ФГБУН Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН
Russian Federation
Russian Federation
A. R. Tsygankova
ФГБУН Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН; ФГБУ ВПО Новосибирский национальный исследовательский государственный университет
Russian Federation
Russian Federation
A. I. Saprykin
ФГБУН Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН; ФГБУ ВПО Новосибирский национальный исследовательский государственный университет
Russian Federation
Russian Federation
References
1. Шелпакова И. Р., Сапрыкин А. И., Чанышева Т. А., Юделевич И. Г. / Журн. аналит. химии. 1983. Т. 38. № 4. С. 581.
2. Чанышева Т. А., Шелпакова И. Р., Сапрыкин А. И., Янковская Л. М., Юделевич И. Г. / Журн. аналит. химии. 1983. Т. 38. № 6. С. 979.
3. Gunn A. M., Millard D. L., Kirkbright G. F. / Analyst. 1978. Vol. 103. P. 1066 - 1073.
4. Millard D. L., Shan H. C., Kirkbright G. F. / Analyst. 1980. Vol. 105. P. 502 - 508.
5. Schmertmann S. M., Longt S. E., Browner R. F. / J. Anal. Atom. Spectrom. 1987. Vol. 2. P. 687 - 693.
6. Курилко С. С., Путьмаков А. Н., Лабусов В. А., Боровиков В. М., Селюнин Д. О. / Материалы XIV Международного симпозиума «Применение МАЭС в промышленности». Новосибирск. 2013. С. 40 - 50.
7. Маньшина И. В., Молодык А. Д., Потепалов В. П. / Высокочистые вещества. 1990. № 1. С. 154 - 157.
8. Медведев Н. С., Цыганкова А. Р., Кукарин В. Ф., Сапрыкин А. И. / Журн. аналит. химии. 2014. Т. 69. № 6. С. 652 - 659.
9. Чанышева Т. А., Шелпакова И. Р., Сапрыкин А. И. / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2009. Т. 75. № 1. С. 7 - 10.
10. Карандашев В. К., Безруков Л. Б., Корноухов В. Н., Носенко С. В., Главин Г. Г., Овчинников С. В. / Журн. аналит. химии. 2009. Т. 64. № 3. С. 274 - 282.
Review
For citations:
Medvedev N.S., Put’Makov A.N., Shaverina A.V., Tsygankova A.R., Saprykin A.I. Reduction of the Detection Limits in Trace Analysis of High Purity Substances by ICP-AES. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2015;81(1):157-160. (In Russ.)
Views:
351
Email this article 