Preview

Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Расширенный поиск

Применение многослойных диэлектрических покрытий для подавления излучения нерабочих порядков спектра в спектрометрах с дифракционной решеткой

https://doi.org/10.26896/1028-6861-2018-83-1-II-117-122

Аннотация

Представлен расчет конфигурации комбинированного оптического фильтра для подавления (отражения) излучения нерабочих порядков спектра в спектрометрах с дифракционной решеткой. Комбинированный фильтр состоит из подложки с нанесенными отрезающими светофильтрами на основе многослойных оптический покрытий. Расчет учитывает допуски на ширину спектральных переходов в спектрах фильтров и точность позиционирования фильтров на подложке. Рассчитан и изготовлен фильтр для подавления излучения нерабочих порядков дифракционного спектра, получаемого с помощью малогабаритного спектрометра «Колибри-2» с рабочим спектральным диапазоном 190-1100 нм. Созданный фильтр подавляет интенсивность излучения нерабочих порядков спектра не менее чем в 2 • 104 раз. Обнаружены артефакты в спектре, вызванные преломлением излучения на краях многослойных покрытий, и предложен способ уменьшения этого негативного эффекта.

Об авторах

З. В. Семенов
Институт автоматики и электрометрии СО РАН, ООО «ВМК-Оптоэлектроника»
Россия


В. А. Лабусов
Институт автоматики и электрометрии СО РАН, ООО «ВМК-Оптоэлектроника»; Новосибирский государственный технический университет
Россия


И. А. Зарубин
Институт автоматики и электрометрии СО РАН, ООО «ВМК-Оптоэлектроника»; Новосибирский государственный технический университет
Россия


Г. В. Эрг
Институт лазерной физики СО РАН
Россия


Список литературы

1. Зарубин И. А., Гаранин В. Г., Лабусов В. А. Применение малогабаритного спектрометра «Колибри-2» в атомно-эмиссионном анализе / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 1. Ч. II. С. 86 - 89.

2. Пейсахсон И. В. Оптика спектральных приборов. Изд. 2-е, доп. и перераб. -Л.: Машиностроение, 1975. - 312 с.

3. Зарубин И. А. Возможности малогабаритного спектрометра «Колибри-2» в атомно-эмиссионном спектральном анализе / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2017. Т. 83. № 1. Ч. II. С. 114 - 117.

4. Панкратов С. В., Лабусов В. А., Неклюдов О. А., Ващенко П. В. Автоматическая градуировка спектрометров с анализаторами МАЭС по длинам волн (профилирование) / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 128 - 134.

5. Furman Sh. A., Tikhonravov A. V. Basics of optics of multilayer systems. - Gif-sur-Yvette: Editions Frontiers, 1992. - 242 p.

6. Лабусов В. А., Семенов З. В., Зарубин И. А. и др. Система спектрального контроля нанесения многослойных диэлектрических покрытий / Измерительная техника. 2013. № 12. С. 11 - 14.


Рецензия

Для цитирования:


Семенов З.В., Лабусов В.А., Зарубин И.А., Эрг Г.В. Применение многослойных диэлектрических покрытий для подавления излучения нерабочих порядков спектра в спектрометрах с дифракционной решеткой. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2017;83(1 p.II):117-122. https://doi.org/10.26896/1028-6861-2018-83-1-II-117-122

For citation:


Semenov Z.V., Labusov V.A., Zarubin I.A., Erg G.V. Application of Multilayer Dielectric Coatings for Suppression of Non-Working Spectrum Orders in Diffraction Grating Spectrometers. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2017;83(1 p.II):117-122. (In Russ.) https://doi.org/10.26896/1028-6861-2018-83-1-II-117-122

Просмотров: 352


ISSN 1028-6861 (Print)
ISSN 2588-0187 (Online)