Microwave Gauge for Measuring Thickness and Dielectric Constant of Coatings with a Cylindrical Cavity Resonator and Asymmetric Perturbations
Abstract
About the Authors
V. V. VolkovRussian Federation
M. A. Suslin
Russian Federation
References
1. Неразрушающий контроль и диагностика. Справочник. - Изд. 3-е, перераб. и доп. / Под ред. В. В. Клюева. - М.: Машиностроение, 2005. - 656 с.
2. Пат. 2193184 РФ, МПК G01 N 22/00, G01R27/26. СВЧ-способ определения диэлектрической проницаемости и толщины диэлектрических покрытий на металле / Суслин М. А., Дмитриев Д. А.; заявитель и патентообладатель ТВАИИ. №2001102116/09; заявл. 23.01.01; опубл. 20.11.02. Бюл. № 32.
3. Гордиенко Ю. Е., Гуд Ю. И., Дудкин Ю. А., Старостенко В. В. Микроволновый измеритель толщины пленок на низкоомных подложках / Приборы и техника эксперимента. 1981. № 3. С. 231 - 234.
4. Федоров H. Н. Основы электродинамики. - М.: Высшая школа, 1980. -399 с.
Review
For citations:
Volkov V.V., Suslin M.A. Microwave Gauge for Measuring Thickness and Dielectric Constant of Coatings with a Cylindrical Cavity Resonator and Asymmetric Perturbations. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2017;83(3):41-45. (In Russ.)