Разработка ИСП-АЭС методик анализа кремния, германия и их оксидов
Аннотация
Ключевые слова
Об авторах
Н. Н. ХомиченкоРоссия
А. В. Шаверина
Россия
А. Р. Цыганкова
Россия
А. И. Сапрыкин
Россия
Список литературы
1. Чанышева Т. А., Шелпакова И. Р., Сапрыкин А. И. Определение примесей в высокочистом диоксиде германия атомно-эмиссионным спектральным методом / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2009. Т. 75. № 1. С. 7 - 10.
2. Карпов Ю. А., Орлова В. А. Современные методы автоклавной пробоподготовки в химическом анализе веществ и материалов / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2007. Т. 73. № 1. С. 4 - 11.
3. Dash K., Thangavel S. Multichannel Vapor Phase Digestion (MCVPD) of High Purity Quartz Powder and the Determination of Trace Impurities by ICP-AES and ICP-MS / Atom. Spectrosc. 2003. Vol. 24. N 4. P. 143 - 148.
4. Пименов В. Г. и др. Химико-атомно-эмиссионный анализ высокочистого германия с концентрированием примесей путем парофазного автоклавного разложения пробы в электроде / Журн. аналит. химии. 1984. Т. 39. № 9. С. 1636 - 1639.
5. Карандашев В. К. и др. Анализ образцов германия и диоксида германия методами масс-спектрометрии и атомной эмиссии / Журн. аналит. химии. 2009. Т. 64. № 3. С. 274 - 282.
6. Максимов Г. А., Пименов В. Г., Тимонин Д. А. Анализ высокочистого германия атомно-абсорбционным методом с использованием для концентрирования примесей парогазового автоклавного вскрытия пробы дифторидом ксенона / Высокочистые вещества. 1988. № 1. С. 149 - 154.
7. Максимов Г. А., Пименов В. Г., Тимонин Д. А. Химико-атомно-абсорбционный анализ высокочистого кремния с пределом обнаружения примесей на уровне 10-9 - 10-11 % / Высокочистые вещества. 1993. № 3. С. 127 - 134.
8. ГОСТ 26239.0-84. Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Методы анализа. - М.: Издательство стандартов. 1985. - 127 с.
9. Пупышев А. А., Данилова Д. А. Использование атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой для анализа материалов и продуктов черной металлургии. - Екатеринбург: Изд-во УГТУ-УПИ, 2002. - 202 с.
10. Цыганкова А. Р., Макашова Г. В., Шелпакова И. Р. Зависимость интенсивности спектральных линий элементов от мощности ИСП-плазмы и расхода аргона / Методы и объекты химического анализа. 2012. Т. 7. № 3. С. 138 - 142.
11. Лебедева Р. В. и др. Влияние матричного компонента при атомно-эмиссионном определении примесей в никеле и его соединениях / Вестник ННГУ. 2013. № 1. С. 96 - 99.
Рецензия
Для цитирования:
Хомиченко Н.Н., Шаверина А.В., Цыганкова А.Р., Сапрыкин А.И. Разработка ИСП-АЭС методик анализа кремния, германия и их оксидов. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015;81(6):10-15.
For citation:
Khomichenko N.N., Shaverina A.V., Tsygankova A.R., Saprykin A.I. Development of ICP-AES Analysis of Silicon, Germanium and Their Oxides. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2015;81(6):10-15. (In Russ.)