Открытый доступ
Только для подписчиков
ВЫЯВЛЕНИЕ ДЕФЕКТОВ СПЛОШНОСТИ В ОБРАЗЦАХ ИЗ АЛЮМИНИЯ МАГНИТОИМПУЛЬСНЫМ МЕТОДОМ
Аннотация
Представлены результаты определения зависимости электрического напряжения от времени U(t) для разной глубины залегания искусственных дефектов сплошности (прорезей) шириной (1,0 - 10,0) • 10-5 м в пластинах из алюминия толщиной 1,5 • 10-6 - 2,0 • 10-3 м. Значения напряжения снимали с индукционной магнитной головки при сканировании ею магнитного носителя, на котором записывались магнитные поля дефектов, возникающие при воздействии на пластины импульса магнитного поля плоского индуктора (время действия — менее 10-4 с). Запись мгновенных распределений магнитных полей осуществляли на площади поверхности порядка 10-3 м2. Предлагаемый магнитоимпульсный метод включал определение амплитуды основного импульса поля, времени его нарастания, формы переднего и заднего фронтов, а также амплитуды, времени нарастания, числа и полярности выбросов магнитного поля. Алгоритм учитывал выбор направления приложенного поля, операции сглаживания, вычисления, выделения полезного сигнала и распознания записанных на магнитном носителе данных о дефектах с анализом зависимостей U(t). Разработанный подход позволяет существенно повысить точность и скорость контроля дефектов сплошности в объектах из диа- и парамагнитных металлов.
Ключевые слова
Об авторах
Владимир Васильевич Павлючеико
Белорусский национальный технический университет, г. Минск
Беларусь
Беларусь
Елена Сергеевна Дорошевич
Белорусский национальный технический университет, г. Минск
Беларусь
Беларусь
Список литературы
1. Ф а л ь к е в и ч А. С , Х у с а н о в М. X. Магнитографический контроль сварных соединений. — М.: Машиностроение, 1966. — 176 с.
2. К о з л о в В. С. Техника магнитографической дефектоскопии. — Ми.: Вышэйшая школа, 1976. — 256 с.
3. М и х а й л о в С. П., Щ е р б и н и н В. Е. Физические основы магнитографической дефектоскопии. — М.: Наука, 1992. — 238 с.
4. Шур М. Л., Н о в о с л у г и н а А . П., С м о р о д и н с к и й Я. Г. Магнитное поле дефекта произвольной формы в плоскопараллельной пластине / Дефектоскопия. 2015. № 11. С. 14 - 27.
5. П е ч е н к о в А. Н., Щ е р б и н и н В. Е., Ш л е е н к о в С. А., Бул ы ч е в О. А. Расчетные соотношения для разработки программного обеспечения расчета магнитостатических полей дефектов в ферромагнитных изделиях произвольной формы / Дефектоскопия. 2017. № 11. С. 3 - 12.
6. Г р у з и н ц е в А . А., М и х а й л о в С. П. Самосогласованный расчет магнитного поля для задач магнитной дефектоскопии. I. Исходная модель для расчета поля магнитной ленты, намагниченной от проводника с током / Дефектоскопия. 2011. № 2. С. 22 - 30.
7. Л у х в и ч А. А., Б у л а т о в О. В., Л у к ь я н о в А. Л. и др. Контроль магнитодинамическим методом толщины никелевых покрытий подхромовыми на двухслойных (неферромагнетик — ферромагнетик) основаниях / Дефектоскопия. 2015. № 1. С. 3 - 10.
8. С у х а н о в Д. Я., С о в п е л ь Е. С. Магнитоиндукционный интроскоп для дефектоскопии металлических объектов / Дефектоскопия. 2015. № 5. С. 56 - 62.
9. П е ч е н к о в А. Н., Щ е р б и н и н В. Е. Вихревые токи и поля проводящих и намагничивающихся шаровых включений в немагнитную среду / Дефектоскопия. 2016. № 4. С. 48 - 55.
10. А т а в и н В. Г., Узких А. А., И с х у ж и н Р. Р. Отстройка от электропроводности основания при измерении толщины токопроводящих покрытий методом вихревых токов / Дефектоскопия. 2018. № 1. С. 58 - 64.
11. Пат 12742 Респ. Беларусь, МПК CI BY, G 01 N 27/72. Павлюченко В. В., Дорошевич Е. С. Магнитооптический дефектоскоп; заявитель и патентообладатель БИТУ. — № а20071581; заявл. 19.12.2007; опубл. 07.10.2009. Бюл. № 6.
12. П а в л ю ч е н к о В. В., Д о р о ш е в и ч Е. С. Неразрушающий контроль объектов из электропроводящих материалов в импульсных магнитных полях / Дефектоскопия. 2010. № 11. С. 29 - 40.
13. П а в л ю ч е н к о В. В., Д о р о ш е в и ч Е. С. Компьютерные методы нахождения распределений импульсных магнитных полей вблизи объектов из электропроводящих материалов / Дефектоскопия. 2016. № 3. С. 48 - 56.
14. Пат. 18254 Респ. Беларусь, МПК CI BY, G 01N 27/72. Павлюченко В. В., Дорошевич Е. С. Способ магнитоимпульсного контроля электрических и магнитных свойств, в частности, удельной электропроводности и магнитной проницаемости, дефектности, а также толщины объекта из электропроводящего магнитного материала; заявитель и патентообладатель БИТУ. — № а20111733; заявл. 15.12.2011; опубл. 30.06.2014. Бюл. № 3.
15. П а в л ю ч е н к о В. В., Д о р о ш е в и ч Е. С. Применение пленочных флюкс-детекторов для определения свойств электропроводящих и магнитных объектов / Дефектоскопия. 2018. № 1. С. 5 2 - 5 7 .
16. П а в л ю ч е н к о В. В., Д о р о ш е в и ч Е. С , П и в о в а р о в В. Л. Расчеты распределений импульсных магнитных полей при гистерезисной интерференции / Дефектоскопия. 2018. № 2. С. 4 1 - 4 7 .
Для цитирования:
Павлючеико В.В., Дорошевич Е.С. ВЫЯВЛЕНИЕ ДЕФЕКТОВ СПЛОШНОСТИ В ОБРАЗЦАХ ИЗ АЛЮМИНИЯ МАГНИТОИМПУЛЬСНЫМ МЕТОДОМ. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2019;85(4):28-32. https://doi.org/10.26896/1028-6861-2019-85-4-28-32
For citation:
Pavlyuchenko V.V., Doroshevich E.S. DETECTION OF INTEGRITY DEFECTS IN ALUMINUM SPECIMENS BY THE MAGNETIC PULSE METHOD. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2019;85(4):28-32. (In Russ.) https://doi.org/10.26896/1028-6861-2019-85-4-28-32
Просмотров: 53
Послать статью по эл. почте 