ВЫЯВЛЕНИЕ ДЕФЕКТОВ СПЛОШНОСТИ В ОБРАЗЦАХ ИЗ АЛЮМИНИЯ МАГНИТОИМПУЛЬСНЫМ МЕТОДОМ

Представлены результаты определения зависимости электрического напряжения от времени U(t) для разной глубины залегания искусственных дефектов сплошности (прорезей) шириной (1,0 - 10,0) • 10^-5 м в пластинах из алюминия толщиной 1,5 • 10^-6 - 2,0 • 10^-3 м. Значения напряжения снимали с индукционной магнитной головки при сканировании ею магнитного носителя, на котором записывались магнитные поля дефектов, возникающие при воздействии на пластины импульса магнитного поля плоского индуктора (время действия — менее 10^-4 с). Запись мгновенных распределений магнитных полей осуществляли на площади поверхности порядка 10^-3 м². Предлагаемый магнитоимпульсный метод включал определение амплитуды основного импульса поля, времени его нарастания, формы переднего и заднего фронтов, а также амплитуды, времени нарастания, числа и полярности выбросов магнитного поля. Алгоритм учитывал выбор направления приложенного поля, операции сглаживания, вычисления, выделения полезного сигнала и распознания записанных на магнитном носителе данных о дефектах с анализом зависимостей U(t). Разработанный подход позволяет существенно повысить точность и скорость контроля дефектов сплошности в объектах из диа- и парамагнитных металлов.

1. Ф а л ь к е в и ч А. С , Х у с а н о в М. X. Магнитографический контроль сварных соединений. — М.: Машиностроение, 1966. — 176 с.

2. К о з л о в В. С. Техника магнитографической дефектоскопии. — Ми.: Вышэйшая школа, 1976. — 256 с.

3. М и х а й л о в С. П., Щ е р б и н и н В. Е. Физические основы магнитографической дефектоскопии. — М.: Наука, 1992. — 238 с.

4. Шур М. Л., Н о в о с л у г и н а А . П., С м о р о д и н с к и й Я. Г. Магнитное поле дефекта произвольной формы в плоскопараллельной пластине / Дефектоскопия. 2015. № 11. С. 14 - 27.

5. П е ч е н к о в А. Н., Щ е р б и н и н В. Е., Ш л е е н к о в С. А., Бул ы ч е в О. А. Расчетные соотношения для разработки программного обеспечения расчета магнитостатических полей дефектов в ферромагнитных изделиях произвольной формы / Дефектоскопия. 2017. № 11. С. 3 - 12.

6. Г р у з и н ц е в А . А., М и х а й л о в С. П. Самосогласованный расчет магнитного поля для задач магнитной дефектоскопии. I. Исходная модель для расчета поля магнитной ленты, намагниченной от проводника с током / Дефектоскопия. 2011. № 2. С. 22 - 30.

7. Л у х в и ч А. А., Б у л а т о в О. В., Л у к ь я н о в А. Л. и др. Контроль магнитодинамическим методом толщины никелевых покрытий подхромовыми на двухслойных (неферромагнетик — ферромагнетик) основаниях / Дефектоскопия. 2015. № 1. С. 3 - 10.

8. С у х а н о в Д. Я., С о в п е л ь Е. С. Магнитоиндукционный интроскоп для дефектоскопии металлических объектов / Дефектоскопия. 2015. № 5. С. 56 - 62.

9. П е ч е н к о в А. Н., Щ е р б и н и н В. Е. Вихревые токи и поля проводящих и намагничивающихся шаровых включений в немагнитную среду / Дефектоскопия. 2016. № 4. С. 48 - 55.

10. А т а в и н В. Г., Узких А. А., И с х у ж и н Р. Р. Отстройка от электропроводности основания при измерении толщины токопроводящих покрытий методом вихревых токов / Дефектоскопия. 2018. № 1. С. 58 - 64.

11. Пат 12742 Респ. Беларусь, МПК CI BY, G 01 N 27/72. Павлюченко В. В., Дорошевич Е. С. Магнитооптический дефектоскоп; заявитель и патентообладатель БИТУ. — № а20071581; заявл. 19.12.2007; опубл. 07.10.2009. Бюл. № 6.

12. П а в л ю ч е н к о В. В., Д о р о ш е в и ч Е. С. Неразрушающий контроль объектов из электропроводящих материалов в импульсных магнитных полях / Дефектоскопия. 2010. № 11. С. 29 - 40.

13. П а в л ю ч е н к о В. В., Д о р о ш е в и ч Е. С. Компьютерные методы нахождения распределений импульсных магнитных полей вблизи объектов из электропроводящих материалов / Дефектоскопия. 2016. № 3. С. 48 - 56.

14. Пат. 18254 Респ. Беларусь, МПК CI BY, G 01N 27/72. Павлюченко В. В., Дорошевич Е. С. Способ магнитоимпульсного контроля электрических и магнитных свойств, в частности, удельной электропроводности и магнитной проницаемости, дефектности, а также толщины объекта из электропроводящего магнитного материала; заявитель и патентообладатель БИТУ. — № а20111733; заявл. 15.12.2011; опубл. 30.06.2014. Бюл. № 3.

15. П а в л ю ч е н к о В. В., Д о р о ш е в и ч Е. С. Применение пленочных флюкс-детекторов для определения свойств электропроводящих и магнитных объектов / Дефектоскопия. 2018. № 1. С. 5 2 - 5 7 .

16. П а в л ю ч е н к о В. В., Д о р о ш е в и ч Е. С , П и в о в а р о в В. Л. Расчеты распределений импульсных магнитных полей при гистерезисной интерференции / Дефектоскопия. 2018. № 2. С. 4 1 - 4 7 .