Установка для измерения гальваномагнитных параметров полупроводниковых материалов путем поворота образца в поле постоянного магнита

Разработана и изготовлена установка, позволяющая измерять гальваномагнитные параметры образцов полупроводниковых материалов путем вращения образца в поле постоянного магнита. Измерения проводятся при комнатной температуре либо при температуре, близкой к точке кипения жидкого азота (образец находится в парах жидкого азота). Поворот образца осуществляется с помощью блока управления и индикации, изготовленного на базе микроконтроллера, который управляет шаговым двигателем. Направление тока через образец изменяется с помощью коммутатора. Измеряемый сигнал через интерфейс поступает на персональный компьютер, где фиксируется и обрабатывается с помощью специально разработанной программы. Установка опробована на образце германия p-типа электропроводности. Измерения проводились при температурах 300 и 82 ± 3 К. Показано, что при этих температурах зависимости измеряемого сигнала от угла поворота образца близки к синусоидальным. Они проходят через нуль при 0, 180 и 360°, что подтверждает отсутствие гистерезиса. Возможности установки могут быть существенно расширены за счет увеличения индукции магнитного поля до 1,4 Тл путем замены наконечников сердечника. Процесс управления поворотом образца, записи значений измеряемого сигнала и обработки результатов измерений можно автоматизировать посредством разработки соответствующего программного обеспечения.

гальваномагнитные измерения, постоянный магнит, вращение образца в магнитном поле, galvanomagnetic measurements, permanent magnet, sample rotation in magnetic field

1. Белов А. Г., Белогорохов А. И., Лакеенков В. М. Об особенностях электрофизических свойств гетероструктур CdxHg1-xTe/CdZnTe / Физика и техника полупроводников. 2001. Т. 35. №8. С. 917-919.

2. Белов А. Г., Белова И. М., Каневский В. Е., Свиридов М. С., Шленский А. А. О влиянии медленных электронов на полевые зависимости коэффициента Холла для твердых растворов CdxHg1-xTe при T = 77 К / Физика и техника полупроводников. 2007. Т. 41. № 10. С. 1178 - 1181.

3. Van der Pauw L. J. A Method of Measuring Specific Resistivity and Hall Effect of Discs of Arbitrary Shape / Philips Research Reports. 1958. Vol. 13. N 1. P. 1 - 9.

4. Van der Pauw L. J. A Method of Measuring the Resistivity and Hall Coefficient on Lamellae of Arbitrary Shape / Philips Technical Review. 1958. Vol. 20. N 8. P. 220 - 224.