Preview

Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Расширенный поиск
Доступ открыт Открытый доступ  Доступ закрыт Только для подписчиков

Диагностика материалов дифракционными оптическими методами

https://doi.org/10.26896/1028-6861-2022-88-3-23-28

Аннотация

Внутреннее состояние материала, достигнутое в результате технологической обработки, косвенно отражается на состоянии его поверхности. Для бесконтактного метода неразрушающего контроля состояния материала, основанного на визуальном анализе поверхности, необходимы высококачественные изображения, которые могут быть получены либо с использованием линзовых объективов, либо с помощью безлинзовых технологий. В работе представлены результаты исследования обработки изображений, полученные при применении безлинзовых технологий. Использовали методы моделирования фазовых масок и обработки изображений, основанные на итерационных алгоритмах Герчберга – Секстона, адаптивно-аддитивном и алгоритме, использующем вращение фазовой маски. Анализировали такие материалы, как гранит, графит, песок и углеродистая сталь. Показано, что построение фотокамер позволяет существенно уменьшить их габариты с сохранением или даже улучшением характеристик. Полученные с помощью безлинзовых технологий изображения и предлагаемые методы обработки дают возможность значительно повысить точность визуального контроля материалов. Полученные результаты могут быть использованы для совершенствования безлинзовых технологий, улучшения качества изображений и сокращения времени их обработки.

Об авторах

В. И. Марчук
Донской государственный технический университет
Россия

Владимир Иванович Марчук

346500, Ростовская обл., г. Шахты, ул. Шевченко, д. 147



А. И. Окорочков
Донской государственный технический университет
Россия

Александр Иванович Окорочков

346500, Ростовская обл., г. Шахты, ул. Шевченко, д. 147



В. В. Семенов
Донской государственный технический университет
Россия

Владимир Владимирович Семенов

346500, Ростовская обл., г. Шахты, ул. Шевченко, д. 147



И. А. Садртдинов
Донской государственный технический университет
Беларусь

Илья Айдарович Садртдинов

346500, Ростовская обл., г. Шахты, ул. Шевченко, д. 147



И. О. Никишин
Донской государственный технический университет
Россия

Иван Олегович Никишин

346500, Ростовская обл., г. Шахты, ул. Шевченко, д. 147



Список литературы

1. Грудин Б. Н., Плотников В. С., Пустовалов Е. В. и др. Моделирование и анализ изображений с использованием спектральных характеристик / Известия РАН. Серия физическая. 2012. Т. 76. № 9. С. 1134 – 1134.

2. Грейсух Г. И., Данилов В. А., Ежов Е. Г. и др. Дифракционные элементы в оптических системах среднего и двойного ИК-диапазона / Фотоника. 2020. Т. 14. № 2. С. 160 – 169.

3. Zheng Y., Asif M. Joint image and depth estimation with mask-based lensless cameras / IEEE Transact. Comput. Imaging. 2020. Vol. 6. P. 1167 – 1178.

4. Волков А. В., Казанский Н. Л., Головашин Д. Л. и др. Методы компьютерной оптики. — М.: Физматлит, 2003. — 688 с.

5. Потапов А. А., Гуляев Ю. В., Никитов С. А. и др. Новейшие методы обработки изображений. — М.: Физматлит, 2008. — 496 с.

6. Monakhova K., Yurtsever J., Kuo G., et al. Learned reconstructions for practical mask-based lensless imaging / Optics express. 2019. Vol. 27. N 20. P. 28075 – 28090. DOI: 10.1364/OE.27.028075

7. Wu J., Zhang H., Zhang W., et al. Single-shot lensless imaging with Fresnel zone aperture and incoherent illumination / Light Sci. Appl. 2020. Vol. 9. N 1. P. 1 – 11. DOI: 10.1038/s41377-020-0289-9

8. Ba C., Tsang J., Mertz J. Fast hyperspectral phase and amplitude imaging in scattering tissue / Optics Lett. 2018. Vol. 43. N 9. P. 2058 – 2061. DOI: 10.1364/OL.43.002058

9. Shevkunov I., Katkovnik V., Claus D., et al. Spectral object recognition in hyperspectral holography with complex-domain denoising / Sensors. 2019. Vol. 19. N 23. P. 5188.

10. Katkovnik V., Egiazarian K. Sparse phase imaging based on complex domain nonlocal BM3D techniques / Digital Signal Proc. 2017. Vol. 63. P. 72 – 85. DOI: 10.1016/j.dsp.2017.01.002

11. Jin S., Hui W., Wang Y., et al. Hyperspectral imaging using the single-pixel Fourier transform technique / Sci. Rep. 2017. Vol. 7. N 1. P. 1 – 7. DOI: 10.1038/srep45209

12. Tajima K., Nakamura Y., Yamaguchi K., et al. Optimization design for improving resolution of lensless imaging with Fresnel zone aperture / Optical Rev. 2019. Vol. 26. N 5. P. 507 – 511. DOI: 10.1007/s10043-019-00545-z

13. Paoletti M. E., Haunt J. M., Plaza J., et al. Deep learning classifiers for hyperspectral imaging: A review / ISPRS J. Photogram. Remote Sens. 2019. Vol. 158. P. 279 – 317. DOI: 10.1016/j.isprsjprs.2019.09.006

14. Kocsis P., Shevkunov I., Katkovnik V., et al. Single exposure lensless subpixel phase imaging: optical system design, modelling, and experimental study / Optics express. 2020. Vol. 28. N 4. P. 4625 – 4637. DOI: 10.1364/OE.379785

15. Khonina S. N., Karpeev S. V., Porfirev A. P. Wavefront aberration sensor based on a multichannel diffractive optical element / Sensors. 2020. Vol. 20. N 14. P. 3850. DOI: 10.3390/s20143850

16. Головашин Д. Л., Досколович Л. Л., Казанский Н. Л. и др. Дифракционная компьютерная оптика. — М.: Физматлит, 2007. — 734 с.

17. Сойфер В. А. Введение в дифракционную микрооптику. — Самара: СНИУ, 1996. — 94 с.

18. Huang G., Wu D., Luo J., et al. Generalizing the Gerchberg – Saxton algorithm for retrieving complex optical transmission matrices / Photonics Res. 2021. Vol. 9. N 1. P. 34 – 42. DOI: 10.1364/PRJ.406010

19. Roig-Solvas B., Makowski L., Brooks D. A proximal operator for multispectral phase retrieval problems / SIAM J. Optimiz. 2019. Vol. 29. N 4. P. 2594 – 2607. DOI: 10.1137/18M120227X SJOPE8.1095-7189

20. Shevkunov I., Katkovnik V., Claus D., et al. Hyperspectral phase imaging based on denoising in complex-valued eigensubspace / Opt. Lasers Eng. 2020. Vol. 127. P. 105973. DOI: 10.1016/j.optlaseng.2019.105973


Рецензия

Для цитирования:


Марчук В.И., Окорочков А.И., Семенов В.В., Садртдинов И.А., Никишин И.О. Диагностика материалов дифракционными оптическими методами. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2022;88(3):23-28. https://doi.org/10.26896/1028-6861-2022-88-3-23-28

For citation:


Marchuk V.I., Okorochkov A.I., Semenov V.V., Sadrtdinov I.A., Nikishin I.O. Diagnostics of materials by diffraction optical methods. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2022;88(3):23-28. (In Russ.) https://doi.org/10.26896/1028-6861-2022-88-3-23-28

Просмотров: 371


ISSN 1028-6861 (Print)
ISSN 2588-0187 (Online)