

Диагностика материалов дифракционными оптическими методами
https://doi.org/10.26896/1028-6861-2022-88-3-23-28
Аннотация
Внутреннее состояние материала, достигнутое в результате технологической обработки, косвенно отражается на состоянии его поверхности. Для бесконтактного метода неразрушающего контроля состояния материала, основанного на визуальном анализе поверхности, необходимы высококачественные изображения, которые могут быть получены либо с использованием линзовых объективов, либо с помощью безлинзовых технологий. В работе представлены результаты исследования обработки изображений, полученные при применении безлинзовых технологий. Использовали методы моделирования фазовых масок и обработки изображений, основанные на итерационных алгоритмах Герчберга – Секстона, адаптивно-аддитивном и алгоритме, использующем вращение фазовой маски. Анализировали такие материалы, как гранит, графит, песок и углеродистая сталь. Показано, что построение фотокамер позволяет существенно уменьшить их габариты с сохранением или даже улучшением характеристик. Полученные с помощью безлинзовых технологий изображения и предлагаемые методы обработки дают возможность значительно повысить точность визуального контроля материалов. Полученные результаты могут быть использованы для совершенствования безлинзовых технологий, улучшения качества изображений и сокращения времени их обработки.
Об авторах
В. И. МарчукРоссия
Владимир Иванович Марчук
346500, Ростовская обл., г. Шахты, ул. Шевченко, д. 147
А. И. Окорочков
Россия
Александр Иванович Окорочков
346500, Ростовская обл., г. Шахты, ул. Шевченко, д. 147
В. В. Семенов
Россия
Владимир Владимирович Семенов
346500, Ростовская обл., г. Шахты, ул. Шевченко, д. 147
И. А. Садртдинов
Беларусь
Илья Айдарович Садртдинов
346500, Ростовская обл., г. Шахты, ул. Шевченко, д. 147
И. О. Никишин
Россия
Иван Олегович Никишин
346500, Ростовская обл., г. Шахты, ул. Шевченко, д. 147
Список литературы
1. Грудин Б. Н., Плотников В. С., Пустовалов Е. В. и др. Моделирование и анализ изображений с использованием спектральных характеристик / Известия РАН. Серия физическая. 2012. Т. 76. № 9. С. 1134 – 1134.
2. Грейсух Г. И., Данилов В. А., Ежов Е. Г. и др. Дифракционные элементы в оптических системах среднего и двойного ИК-диапазона / Фотоника. 2020. Т. 14. № 2. С. 160 – 169.
3. Zheng Y., Asif M. Joint image and depth estimation with mask-based lensless cameras / IEEE Transact. Comput. Imaging. 2020. Vol. 6. P. 1167 – 1178.
4. Волков А. В., Казанский Н. Л., Головашин Д. Л. и др. Методы компьютерной оптики. — М.: Физматлит, 2003. — 688 с.
5. Потапов А. А., Гуляев Ю. В., Никитов С. А. и др. Новейшие методы обработки изображений. — М.: Физматлит, 2008. — 496 с.
6. Monakhova K., Yurtsever J., Kuo G., et al. Learned reconstructions for practical mask-based lensless imaging / Optics express. 2019. Vol. 27. N 20. P. 28075 – 28090. DOI: 10.1364/OE.27.028075
7. Wu J., Zhang H., Zhang W., et al. Single-shot lensless imaging with Fresnel zone aperture and incoherent illumination / Light Sci. Appl. 2020. Vol. 9. N 1. P. 1 – 11. DOI: 10.1038/s41377-020-0289-9
8. Ba C., Tsang J., Mertz J. Fast hyperspectral phase and amplitude imaging in scattering tissue / Optics Lett. 2018. Vol. 43. N 9. P. 2058 – 2061. DOI: 10.1364/OL.43.002058
9. Shevkunov I., Katkovnik V., Claus D., et al. Spectral object recognition in hyperspectral holography with complex-domain denoising / Sensors. 2019. Vol. 19. N 23. P. 5188.
10. Katkovnik V., Egiazarian K. Sparse phase imaging based on complex domain nonlocal BM3D techniques / Digital Signal Proc. 2017. Vol. 63. P. 72 – 85. DOI: 10.1016/j.dsp.2017.01.002
11. Jin S., Hui W., Wang Y., et al. Hyperspectral imaging using the single-pixel Fourier transform technique / Sci. Rep. 2017. Vol. 7. N 1. P. 1 – 7. DOI: 10.1038/srep45209
12. Tajima K., Nakamura Y., Yamaguchi K., et al. Optimization design for improving resolution of lensless imaging with Fresnel zone aperture / Optical Rev. 2019. Vol. 26. N 5. P. 507 – 511. DOI: 10.1007/s10043-019-00545-z
13. Paoletti M. E., Haunt J. M., Plaza J., et al. Deep learning classifiers for hyperspectral imaging: A review / ISPRS J. Photogram. Remote Sens. 2019. Vol. 158. P. 279 – 317. DOI: 10.1016/j.isprsjprs.2019.09.006
14. Kocsis P., Shevkunov I., Katkovnik V., et al. Single exposure lensless subpixel phase imaging: optical system design, modelling, and experimental study / Optics express. 2020. Vol. 28. N 4. P. 4625 – 4637. DOI: 10.1364/OE.379785
15. Khonina S. N., Karpeev S. V., Porfirev A. P. Wavefront aberration sensor based on a multichannel diffractive optical element / Sensors. 2020. Vol. 20. N 14. P. 3850. DOI: 10.3390/s20143850
16. Головашин Д. Л., Досколович Л. Л., Казанский Н. Л. и др. Дифракционная компьютерная оптика. — М.: Физматлит, 2007. — 734 с.
17. Сойфер В. А. Введение в дифракционную микрооптику. — Самара: СНИУ, 1996. — 94 с.
18. Huang G., Wu D., Luo J., et al. Generalizing the Gerchberg – Saxton algorithm for retrieving complex optical transmission matrices / Photonics Res. 2021. Vol. 9. N 1. P. 34 – 42. DOI: 10.1364/PRJ.406010
19. Roig-Solvas B., Makowski L., Brooks D. A proximal operator for multispectral phase retrieval problems / SIAM J. Optimiz. 2019. Vol. 29. N 4. P. 2594 – 2607. DOI: 10.1137/18M120227X SJOPE8.1095-7189
20. Shevkunov I., Katkovnik V., Claus D., et al. Hyperspectral phase imaging based on denoising in complex-valued eigensubspace / Opt. Lasers Eng. 2020. Vol. 127. P. 105973. DOI: 10.1016/j.optlaseng.2019.105973
Рецензия
Для цитирования:
Марчук В.И., Окорочков А.И., Семенов В.В., Садртдинов И.А., Никишин И.О. Диагностика материалов дифракционными оптическими методами. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2022;88(3):23-28. https://doi.org/10.26896/1028-6861-2022-88-3-23-28
For citation:
Marchuk V.I., Okorochkov A.I., Semenov V.V., Sadrtdinov I.A., Nikishin I.O. Diagnostics of materials by diffraction optical methods. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2022;88(3):23-28. (In Russ.) https://doi.org/10.26896/1028-6861-2022-88-3-23-28