Preview

Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Расширенный поиск
Доступ открыт Открытый доступ  Доступ закрыт Только для подписчиков

Методики обработки результатов измерения спектров интенсивности источников излучения спектрофотометра СФ-56

https://doi.org/10.26896/1028-6861-2019-85-3-36-40

Полный текст:

Аннотация

Приведены экспериментальные результаты тестирования работы спектрофотометра СФ-56. Предложены методики обработки данных измерения интенсивности источников излучения с помощью программ Maxima и Gnuplot. Установлено, что применение гауссовой функции для аппроксимации кривой излучения газовых ламп низкого давления в случае номинальной ширины щели прибора 0,3 нм повышает точность определения длины волны максимума линий излучения по сравнению с паспортными данными в 2,5 раза. Вместе с тем эффективная ширина щели, определенная как полуширина реперной линии 486,0 (или 656,1) нм, всегда превышает паспортные значения в среднем на 15 - 20 %, а в случае номинальной щели 1 нм — в 1,5 раза. Длина волны максимума реперной линии СФ-56 (в течение времени измерений до 6000 с) линейно зависит от времени. Интенсивность реперной линии со временем прогрева прибора меняется нелинейно и хорошо аппроксимируется формулой для осциллятора с декрементом затухания, равным его собственной частоте. Получено аналитическое выражение для спектра коэффициента излучения вольфрама в интервале длин волн 300 - 1100 нм. Планковская кривая для испускате-льной способности вольфрама описывает спектр сигнала штатной лампы накаливания СФ-56 только в интервале 300 - 420 нм. Также определена спектральная функция прибора. Отмечено, что с помощью СФ-56 можно измерять спектры источников излучения, размещаемых в осветительном блоке. Представленные данные могут быть использованы как для совершенствования данного типа приборов, так и для повышения точности и достоверности результатов измерения.

Об авторах

Л. Г. Скорняков
Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина
Россия

Лев Геннадьевич Скорняков

Екатеринбург



А. В. Дёмин
Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина
Россия

Андрей Вячеславович Дёмин

Екатеринбург


О. В. Денисова
Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина
Россия

Ольга Владимировна Денисова

Екатеринбург



Список литературы

1. Спектрофотометр СФ-56. Техническое описание и руководство по эксплуатации. — СПб.: ЛОМО-Спектр, 2007. — 16 с.

2. Никитин В. А. Теоретические основы методологии прецизионной спектрофотометрии. — Л., 1991.

3. Никитин В. А. Форма спектральных линий. https://boura-bai.ru/physics/3795.html (дата обращения 10.11.2017).

4. Зайдель А. Н., Островская Г. В., Островский Ю. И. Техника и практика спектроскопии. — М.: Наука, 1976. — 392 с.

5. Зайдель А. Н., Прокофьев В. К., Райский С. М. и др. Таблицы спектральных линий. Изд. 2-е, испр. и доп. — М.: Физ-матгиз, 1962. — 608 с.

6. Ландау Л. Д., Лифшиц И. М. Механика. — М.: ГИФМЛ, 1958. — 207 с.

7. Латыев Л. Н., Петров В. А., Чеховская В. Я. и др. Излучательные свойства твердых материалов: справочник. — М.: Энергия, 1974. — 472 с.

8. Джэмисон Дж. Э., МакФи Р. X., Пласс Дж. Н. и др. Физика и техника инфракрасного излучения. — М.: Советское радио, 1965. — 639 с.

9. Гуревич М. М. Фотометрия (теория, методы и приборы). — Изд 2-е. — Л.: Энергоатомиздат, 1983. — 268 с.


Для цитирования:


Скорняков Л.Г., Дёмин А.В., Денисова О.В. Методики обработки результатов измерения спектров интенсивности источников излучения спектрофотометра СФ-56. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2019;85(3):36-40. https://doi.org/10.26896/1028-6861-2019-85-3-36-40

For citation:


Skornyakov L.G., Dyomin A.V., Denisova O.V. Approximation methods used for processing measurements of the intensity spectra of radiation sources of SF-56 spectrophotometers. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2019;85(3):36-40. (In Russ.) https://doi.org/10.26896/1028-6861-2019-85-3-36-40

Просмотров: 79


ISSN 1028-6861 (Print)
ISSN 2588-0187 (Online)