Preview

Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Расширенный поиск

ПРИМЕНЕНИЕ ПРОФИЛЬНОГО АНАЛИЗА ДИФРАКЦИОННЫХ ПИКОВ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФАЗОВЫХ СООТНОШЕНИЙ В СИСТЕМЕ (1 - 2x)BiScO3хРbТIO3xPbMg1/3Nb2/3O3 ВБЛИЗИ МОРФОТРОПНОЙ ГРАНИЦЫ

https://doi.org/10.26896/1028-6861-2019-85-4-22-27

Аннотация

Представлены результаты определения фазовых соотношений в системе (1 - 2x)BiSc03 х х xPbTi03 • xPbMg1/3Nb2/303 вблизи морфотропной границы. Проведено рентгенодифракционное исследование керамических образцов для х 0,34 и х = 0,46. Профили девяти участков рентгенодифракционных спектров обрабатывали с помощью программы WinFit. В обоих случаях лучшее совпадение с экспериментальными данными фиксировали при введении дополнительных фаз с кубической симметрией. Моделирование полных рентгенодифракционных спектров по методу Ле Бэйля показало, что в исследованных образцах присутствуют две фазы: основная — с кубической (а = 4,0432 А) (х = 0,34) и тетрагональной (а = 3,9963 А, с = 4,0580 А) (х = 0,46) элементарными ячейками и дополнительная. При этом дополнительные фазы, имеющие широкие дифракционные пики, можно рассматривать как кубические (параметры элементарных ячеек: а = 4,045 и а = 4,017 А соответственно).

Об авторах

Владимир Петрович Сиротинкин
Институт металлургии и материаловедения имени А. А. Байкова РАН, Москва
Россия


Александр Андреевич Буш
Московский технологический университет (МИРЭА), Москва
Россия


Александр Игоревич Спицин
Московский технологический университет (МИРЭА), Москва
Россия


Андрей Генрихович Сегалла
НИИ «ЭЛПА», г. Зеленоград, Москва
Россия


Список литературы

1. Eitel R. Е., Randall С. A., Shrout Т. R., et al. New High Temperature Morphotropic Phase Boundary Piezoelectrics Based on Bi(Me)03 - PbTi03 Ceramics / Jpn. J. Appl. Phys. 2001. Vol. 40. N 10. P 5999 - 6002.

2. Stringer C. J., Donnelly N. J., Shrout T. R., et al. Dielectric Characteristics of Perovskite-Structured High-Temperature Relaxor Ferroelectrics: The BiSc0 3 - Pb(Mg1 / 3Nb2 / 3)03 - PbTi03 Ternary System / J. Am. Ceram. Soc. 2008. Vol. 91. P 1781 - 1787.

3. Б у ш А. А., К а м е н ц е в К. E., Л а в р е н т ь е в A. M. и др. Диэлектрические и пьезоэлектрические свойства твердых растворов (1 - 2x)BiSc03 • PbTi03 • PbMg1 / 3Nb2 / 303 (0,30 < х < < 0,46) / Неорганические материалы. 2011. Т. 47. №7. С. 865-871.

4. С и р о т и н к и н В. П., Б у ш А. А., С п и ц и н А. И. и др. Структура сегнетоэлектрика-релаксора (1 - 2x)BiSc03 • PbTi03 х х PbMg0 3 3 N b 0 g703 с х = 0,42 в поляризованном и деполяризованном состояниях / Кристаллография. 2018. Т. 63. № 1. С. 93 - 98.

5. Talanov М. V, Bush A. A., Kamentsev К. Е., et al. Structure-property relationships in BiSc03 - PbTi03 - PbMg1 / 3Nb2 / 303 ceramics near the morphotropic phase boundary / J. Am. Ceram. Soc. 2018. Vol. 101. E 683 - 693.

6. С и р о т и н к и н В. П., Б у ш А. А., К а м е н ц е в К. Е. и др. Структура и свойства керамических сегнетоэлектриков-релаксоров системы BiSc03 - PbTi03 с добавками Мп02 в области морфотропного перехода / Российский технологический журнал. 2017. Т. 5. № 1. С. 15 - 22.

7. Le Bail A., Duroy Н., Fourquet J. L. Ab-initio structure determination of LiSbWOg by X-ray powder diffraction / Mat. Res. Bull. 1988. Vol. 23. E 447 - 452.


Рецензия

Для цитирования:


Сиротинкин В.П., Буш А.А., Спицин А.И., Сегалла А.Г. ПРИМЕНЕНИЕ ПРОФИЛЬНОГО АНАЛИЗА ДИФРАКЦИОННЫХ ПИКОВ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФАЗОВЫХ СООТНОШЕНИЙ В СИСТЕМЕ (1 - 2x)BiScO3хРbТIO3xPbMg1/3Nb2/3O3 ВБЛИЗИ МОРФОТРОПНОЙ ГРАНИЦЫ. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2019;85(4):22-27. https://doi.org/10.26896/1028-6861-2019-85-4-22-27

For citation:


Sirotinkin V.R., Bush A.A., Spitsin A.I., Segalla A.G. THE USE OF THE PROFILE ANALYSIS OF DIFFRACTION PEAKS FOR DETERMINATION OF THE PHASE RELATIONSHIPS IN THE SYSTEM (1 -2x)BiScO3 xPbTiO3xPbMg1/3Nb2/3O3 NEAR THE MORPHOTROPIC BOUNDAR. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2019;85(4):22-27. (In Russ.) https://doi.org/10.26896/1028-6861-2019-85-4-22-27

Просмотров: 365


ISSN 1028-6861 (Print)
ISSN 2588-0187 (Online)