Preview

Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Сиротинкин В.П., Буш А.А., Спицин А.И., Сегалла А.Г. ПРИМЕНЕНИЕ ПРОФИЛЬНОГО АНАЛИЗА ДИФРАКЦИОННЫХ ПИКОВ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФАЗОВЫХ СООТНОШЕНИЙ В СИСТЕМЕ (1 - 2x)BiScO3хРbТIO3xPbMg1/3Nb2/3O3 ВБЛИЗИ МОРФОТРОПНОЙ ГРАНИЦЫ. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2019;85(4):22-27. https://doi.org/10.26896/1028-6861-2019-85-4-22-27

For citation:


Sirotinkin V.R., Bush A.A., Spitsin A.I., Segalla A.G. THE USE OF THE PROFILE ANALYSIS OF DIFFRACTION PEAKS FOR DETERMINATION OF THE PHASE RELATIONSHIPS IN THE SYSTEM (1 -2x)BiScO3 xPbTiO3xPbMg1/3Nb2/3O3 NEAR THE MORPHOTROPIC BOUNDAR. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2019;85(4):22-27. (In Russ.) https://doi.org/10.26896/1028-6861-2019-85-4-22-27

Просмотров: 2


ISSN 1028-6861 (Print)
ISSN 2588-0187 (Online)