Preview

Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Расширенный поиск
Доступ открыт Открытый доступ  Доступ закрыт Только для подписчиков

WORLD METROLOGY DAY — 20th MAY 2019 MESSAGE FROM THE BIPM AND BIML DIRECTORS “THE SI — FUNDAMENTALLY BETTER”

Полный текст:

Аннотация

.

Об авторах

M. Milton

Россия


А. Donnellan

Россия


Для цитирования:


Milton M., Donnellan А. WORLD METROLOGY DAY — 20th MAY 2019 MESSAGE FROM THE BIPM AND BIML DIRECTORS “THE SI — FUNDAMENTALLY BETTER”. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2019;85(6):69.

For citation:


Milton M., Donnellan A. WORLD METROLOGY DAY — 20th MAY 2019 MESSAGE FROM THE BIPM AND BIML DIRECTORS “THE SI — FUNDAMENTALLY BETTER”. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2019;85(6):69.

Просмотров: 30


ISSN 1028-6861 (Print)
ISSN 2588-0187 (Online)