Исследование монохроматичности рентгеновского излучения в широком диапазоне энергий
https://doi.org/10.26896/1028-6861-2025-91-11-49-55
Аннотация
Для количественного исследования поглощения рентгеновского излучения в диапазоне длин волн от единиц до десятых долей ангстрема (приблизительно соответствует энергиям от 5 до 50 кэВ) и калибровки энергетической шкалы детекторов рентгеновских лучей необходимо иметь источник монохроматичного излучения. В работе представлены результаты исследования характеристик созданного монохроматора рентгеновского излучения в широком диапазоне энергий. Принцип работы прибора основан на использовании явления дифракции рентгеновского излучения. В качестве дифрагирующего элемента использовали кристалл пиролитического графита. При его повороте на заданный угол происходит выделение монохроматичного излучения из тормозного спектра рентгеновской трубки. Установлено, что с помощью прибора можно получать монохроматичный рентгеновский пучок с энергией в диапазоне 15 – 100 кэВ и монохроматичностью на уровне 1,5 – 9 % (соответствует требованиям к точности энергетической калибровки детекторов). Кроме того, показано, что для генерации регулируемого монохроматичного излучения возможно применение доступных лабораторных компонентов. Полученные результаты и предложенный подход могут быть использованы при дефектоскопии, томографии и других задачах, требующих спектрально селективного рентгеновского анализа.
Об авторах
Фи Х.Б. ЧыонгРоссия
Чыонг Хоай Бао Фи
Лаборатория ядерных проблем им. В. П. Джелепова ОИЯИ
141980, Московская обл., г. Дубна, ул. Жолио-Кюри, д. 20;
Вьетнам, Ханой, 10 Дао Тан, Ба Динь
Б. С. Рощин
Россия
Борис Сергеевич Рощин
Отделение «Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова» Курчатовского комплекса кристаллографии и фотоники
119333, Москва, Ленинский просп., д. 59
С Абдельшакур
Россия
Саид Абдельшакур
Лаборатория ядерных проблем им. В. П. Джелепова
141980, Московская обл., г. Дубна, ул. Жолио-Кюри, д. 20
Ю. М. Дымшиц
Россия
Юрий Меерович Дымшиц
Отделение «Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова» Курчатовского комплекса кристаллографии и фотоники
119333, Москва, Ленинский просп., д. 59
В. Г. Кручонок
Россия
Владимир Геннадьевич Кручонок
Лаборатория ядерных проблем им. В. П. Джелепова ОИЯИ
141980, Московская обл., г. Дубна, ул. Жолио-Кюри, д. 20;
Республика Беларусь, 220072, г. Минск, просп. Независимости, д. 68-2
Г. К. Лавров
Россия
Георгий Константинович Лавров
Лаборатория ядерных проблем им. В. П. Джелепова ОИЯИ
141980, Московская обл., г. Дубна, ул. Жолио-Кюри, д. 20;;
141982, Московская обл., г. Дубна, Университетская ул., д. 19
А. В. Лапкин
Россия
Александр Викторович Лапкин
Лаборатория ядерных проблем им. В. П. Джелепова
141980, Московская обл., г. Дубна, ул. Жолио-Кюри, д. 20
С. А. Малинин
Россия
Сергей Алексеевич Малинин
Лаборатория ядерных проблем им. В. П. Джелепова
141980, Московская обл., г. Дубна, ул. Жолио-Кюри, д. 20
В. А. Рожков
Россия
Владислав Андреевич Рожков
Лаборатория ядерных проблем им. В. П. Джелепова
141980, Московская обл., г. Дубна, ул. Жолио-Кюри, д. 20
Р. В. Сотенский
Россия
Ростислав Владиславович Сотенский
Лаборатория ядерных проблем им. В. П. Джелепова
141980, Московская обл., г. Дубна, ул. Жолио-Кюри, д. 20
В. Е. Асадчиков
Россия
Виктор Евгеньевич Асадчиков
Отделение «Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова» Курчатовского комплекса кристаллографии и фотоники
119333, Москва, Ленинский просп., д. 59
Г. А. Шелков
Россия
Георгий Александрович Шелков
Лаборатория ядерных проблем им. В. П. Джелепова
141980, Московская обл., г. Дубна, ул. Жолио-Кюри, д. 20
Список литературы
1. Kheiker D. M. Single-crystal X-ray diffractometry. — Leningrad: Mashinostroenie, 1973. — 256 p. [in Russian].
2. Bowen D. K., Tanner B. K. High resolution X-ray diffractometry and topography. — CRC Press, 2019. — 264 p.
3. Seidler G. T., Mortensen D. R., Remesnik A. J., et al. A laboratory-based hard X-ray monochromator for high-resolution X-ray emission spectroscopy and X-ray absorption near edge structure measurements / Rev. Sci. Instrum. 2014. Vol. 85. P. 113906. DOI: 10.1063/1.4901599
4. Astolfo A., Endrizzi M., Vittoria F., et al. Large field of view, fast and low dose multimodal phase-contrast imaging at high X-ray energy / Sci. Rep. 2017. Vol. 7. P. 2187. DOI: 10.1038/s41598-017-02412-w
5. Kalender W. A. Computed tomography. Fundamentals, system technology, image quality, applications. — Wiley, 2011. — 373 p.
6. Mele F., Quercia J., Abbene L., et al. Advances in high-energy-resolution CdZnTe linear array pixel detectors with fast and low noise readout electronics / Sensors. 2023. Vol. 23. No. 4. P. 2167. DOI: 10.3390/s23042167
7. Chiriotti S., Barten R., Bergamaschi A., et al. High-spatial resolution measurements with a GaAs:Cr sensor using the charge integrating MÖNCH detector with a pixel pitch of 25 μm / J. Instr. 2022. Vol. 17. No. 04. P. P04007. DOI: 10.1088/1748-0221/17/04/p04007
8. Aad G., Aakvaag E., Abbott B., et al. Sensor response and radiation damage effects for 3D pixels in the ATLAS IBL detector / J. Instr. 2024. Vol. 19. No. 10. P. P10008. DOI: 10.1088/1748-0221/19/10/p10008
9. Gustavino G., Allport P., Asensi I., et al. Timing performance of radiation hard MALTA monolithic pixel sensors / J. Instr. 2023. Vol. 18. P. C03011. DOI: 10.1088/1748-0221/18/03/c03011
10. Sonneveld J. ITS3: a truly cylindrical inner tracker for ALICE / Proc. of the 11th Int. Conf. on Hard and Electromagnetic Probes of High-Energy Nuclear Collisions. — Aschaffenburg, Germany, 2023. DOI: 10.22323/1.438.0077
11. Cadoux F., Cardella R., Iacobucci G., et al. The 100μPET project: a small-animal PET scanner for ultra-high resolution molecular imaging with monolithic silicon pixel detectors / Nucl. Inst. Meth. Phys. Res. Sect. A: Accel. Spectrom. Detect. Assoc. Equip. 2023. Vol. 1048. P. 167952. DOI: 10.1016/j.nima.2022.167952
12. Greffier J., Viry A., Robert A., et al. Photon-counting CT systems: a technical review of current clinical possibilities / Diagn. Intervent. Imaging. 2025. Vol. 106. No. 2. P. 53 – 59. DOI: 10.1016/j.diii.2024.09.002
13. Sotenskii R. V., Rozhkov V. A., Shashurin D. A., et al. Novel algorithm for qualitative and quantitative material analysis by the K-edges for photon-counting computed tomography / J. Instr. 2024. Vol. 19. No. 4. P. 04009. DOI: 10.1088/1748-0221/19/04/p04009
14. Hagino K., Hayashida M., Kohmura T., et al. Single event tolerance of X-ray silicon-on-insulator pixel sensors / J. Astron. Telesc. Instr. Syst. 2022. Vol. 8. No. 4. P. 046001. DOI: 10.1117/1.jatis.8.4.046001
15. Takahashi S., Arimoto M., Goto H., et al. Radiation tolerance test and performance verification of pnCCD at high temperatures for future satellite mission HiZ-GUNDAM / Nucl. Inst. Meth. Phys. Res. Sect. A: Accel. Spectrom. Detect. Assoc. Equip. 2024. Vol. 1064. P. 169413. DOI: 10.1016/j.nima.2024.169413
16. Feruglio A., Biesuz N., Bolzonella R., et al. Timepix4 calibration and energy resolution evaluation with fluorescence photons / Il Nuovo Cimento. 2024. Vol. 47C. P. 314. DOI: 10.1393/ncc/i2024-24314-6
17. Delogu P., Biesuz N., Bolzonella R., et al. Validation of Timepix4 energy calibration procedures with synchrotron X-ray beams / Nucl. Inst. Meth. Phys. Res. Sect. A: Accel. Spectrom. Detect. Assoc. Equip. 2024. Vol. 1068. P. 169716. DOI: 10.1016/j.nima.2024.169716
18. X-ray dynamical diffraction data on the Web. https://x-server. gmca.aps.anl.gov/cgi/www_form.exe?template=x0h_form.htm (accessed 03/19/2025).
19. Asadchikov V. E., Babak V. G., Buzmakov A. V., et al. X-ray diffractometer with a mobile emitter-detector system / Instr. Exp. Techniques. 2005. Vol. 48. No. 3. P. 364 – 372. DOI: 10.1007/s10786-005-0064-4
20. X123 User Manual. Amptek Inc. https://www.amptek.com/ products/x-ray-detectors (accessed 04/05/2025).
21. Poikela T., Plosila J., Westerlund T., et al. Timepix3: a 65K channel hybrid pixel readout chip with simultaneous ToA/ToT and sparse readout / J. Instr. 2014. Vol. 9. No. 05. P. C05013. DOI: 10.1088/1748-0221/9/05/c05013
22. Smolyanskiy P., Burian P., Sitarz M., et al. Experimental determination of the charge carrier transport models for improving the simulation of the HR GaAs:Cr detectors’ response / Sensors. 2023. Vol. 23. P. 6886. DOI: 10.3390/s23156886
23. Redus R. H., Pantazis J. A., Pantazis T. J., et al. Characterization of CdTe detectors for quantitative X-ray spectroscopy / IEEE Trans. Nucl. Sci. 2009. Vol. 56. No. 4. P. 2524 – 2532. DOI: 10.1109/tns.2009.2024149
Рецензия
Для цитирования:
Чыонг Ф.Х., Рощин Б.С., Абдельшакур С., Дымшиц Ю.М., Кручонок В.Г., Лавров Г.К., Лапкин А.В., Малинин С.А., Рожков В.А., Сотенский Р.В., Асадчиков В.Е., Шелков Г.А. Исследование монохроматичности рентгеновского излучения в широком диапазоне энергий. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2025;91(11):49-55. https://doi.org/10.26896/1028-6861-2025-91-11-49-55
For citation:
Truong P.H., Roshchin B.S., Abou El-Azm S., Dymshits Yu.M., Kruchonok V.G., Lavrov G.K., Lapkin A.V., Malinin S.A., Rozhkov V.A., Sotensky R.V., Asadchikov V.E., Shelkov G.A. Research of the monochromaticity of x-ray radiation in a wide range of energies. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2025;91(11):49-55. (In Russ.) https://doi.org/10.26896/1028-6861-2025-91-11-49-55






























