Preview

Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Расширенный поиск

Контроль функциональных слоев ВТСП-2 с помощью текстурной приставки рентгеновского дифрактометра «Дифрей-401»

Полный текст:

Об авторах

Л. А. Пьянкова
АО «Научные приборы»
Россия


В. А. Елохин
АО «Научные приборы»
Россия


С. Н. Архипов
АО «Научные приборы»
Россия


А. А. Комиссаров
АО «Научные приборы»
Россия


А. А. Авдиенко
АО «Русский сверхпроводник»
Россия


О. В. Парфиров
НИИ технической физики и автоматизации
Россия


С. Е. Кривицкий
НИИ технической физики и автоматизации
Россия


Список литературы

1. Wu X. D., Foltin S. R., Arendt P. N., et al. Properties of Y Ва2Си3O7 x thick films on flexible buffered metallic substrates / Appl. Phys. Lett. 1995. Vol. 67. P. 2397-2400.

2. Arendt P. N., Foltin S. R., Wu X. D., et al. Fabrication of biaxially oriented YSZ on polycrystalline substrates / AIP Conf. Proc. Vol. 824. P. 743-747.

3. Стекольщиков А. А., Максимова Л. H., Архипов C. H., Пьянкова Л. А., Сидохин Е. Ф. Рентгенодифрактометрический комплекс «ДИФРЕИ-402» для определения криолитового отношения, фторидов кальция и магния в электролитах ВАЗА / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2006. Т. 72. № 9. С. 34 - 36.

4. Лобанов М. Л., Юровских А. С., Кардонина Н. И., Русаков Г. М. Методы исследования текстур в материалах: учеб.-метод. пособие. - Екатеринбург: Изд-во урал. ун-та, 2014. - 115 с.

5. Шамрай В. Ф., Лифшиц В. А., Серебряный В. H., Грушко О. Е., Гордеев А. С. Опыт использования дифрактометра ДРОН-7 с приставкой ПГТМ для исследования текстур / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2009. Т. 75. № 1. С. 32 - 35.


Для цитирования:


Пьянкова Л.А., Елохин В.А., Архипов С.Н., Комиссаров А.А., Авдиенко А.А., Парфиров О.В., Кривицкий С.Е. Контроль функциональных слоев ВТСП-2 с помощью текстурной приставки рентгеновского дифрактометра «Дифрей-401». Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2016;82(10):44-46.

Просмотров: 74


ISSN 1028-6861 (Print)
ISSN 2588-0187 (Online)