Контроль функциональных слоев ВТСП-2 с помощью текстурной приставки рентгеновского дифрактометра «Дифрей-401»

1. Wu X. D., Foltin S. R., Arendt P. N., et al. Properties of Y Ва2Си3O7 x thick films on flexible buffered metallic substrates / Appl. Phys. Lett. 1995. Vol. 67. P. 2397-2400.

2. Arendt P. N., Foltin S. R., Wu X. D., et al. Fabrication of biaxially oriented YSZ on polycrystalline substrates / AIP Conf. Proc. Vol. 824. P. 743-747.

3. Стекольщиков А. А., Максимова Л. H., Архипов C. H., Пьянкова Л. А., Сидохин Е. Ф. Рентгенодифрактометрический комплекс «ДИФРЕИ-402» для определения криолитового отношения, фторидов кальция и магния в электролитах ВАЗА / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2006. Т. 72. № 9. С. 34 - 36.

4. Лобанов М. Л., Юровских А. С., Кардонина Н. И., Русаков Г. М. Методы исследования текстур в материалах: учеб.-метод. пособие. - Екатеринбург: Изд-во урал. ун-та, 2014. - 115 с.

5. Шамрай В. Ф., Лифшиц В. А., Серебряный В. H., Грушко О. Е., Гордеев А. С. Опыт использования дифрактометра ДРОН-7 с приставкой ПГТМ для исследования текстур / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2009. Т. 75. № 1. С. 32 - 35.