О некоторых возможностях улучшения метрологических характеристик методики атомно-эмиссионного анализа донных отложений
Аннотация
Исследовано влияние на параметры плазмы различных носителей в системе «графитовый порошок - носитель» при определении тяжелых металлов. Оптимизированы качественный и количественный состав спектроскопического буфера и условия спектрального анализа донных отложений. Полученные результаты использованы для разработки методики определения тяжелых металлов в шламах очистных сооружений.
Об авторах
О. Л. Ахсанова
ПАО «Нижнекамскнефтехим»
Россия
Россия
Г. В. Гилаева
ПАО «Нижнекамскнефтехим»
Россия
Россия
Р. М. Загитов
ПАО «Нижнекамскнефтехим»
Россия
Россия
В. Н. Никонорова
ПАО «Нижнекамскнефтехим»
Россия
Россия
Список литературы
1. Мур Дж., Рамамурти С. Тяжелые металлы в природных водах. - М.: Мир, 1987. - 285 с.
2. Отмахов В. И. Методика оценки экологической безопасности водного бассейна по загрязнению донных отложений / Известия ТПУ. 2003. Т. 306. № 6. С. 39 -41.
3. Отмахов В. И., Петрова Е. В., Варламова Н. В., Аношкина Ю. В. Оптимизация условий прямого атомно-эмиссионного анализа оксидно-силикатных материалов / Журн. аналит. химии. 2012. Т. 67. № 8. С. 799 - 804.
4. Тарасевич Н. И., Семененко К. А., Хлыстова А. Д. Методы спектрального и химико-спектрального анализа. - М.: МГУ, 1973. - 275 с.
5. Отмахов В. И. Структурно-методологическая схема создания методик анализа оксидных материалов с применением метода атомно-эмиссионной спектроскопии / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2008. Т. 74. № 8. С. 15 - 17.
6. Зайдель А. Н. Основы спектрального анализа. - М.: Наука, 1965. - 322 с.
7. Спектральный анализ чистых веществ / Под ред. Х. И. Зильберштейна. - Л.: Химия, 1971. - 415 с.
8. Русанов А. К. Основы количественного спектрального анализа руд и минералов. - М.: Недра, 1978. С. 23.
9. Рабинович В. А., Хавин З. Я. Краткий химический справочник. - Л.: Химия, 1977. - 376 с.
Для цитирования:
Ахсанова О.Л., Гилаева Г.В., Загитов Р.М., Никонорова В.Н. О некоторых возможностях улучшения метрологических характеристик методики атомно-эмиссионного анализа донных отложений. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015;81(3):16-18.
For citation:
Akhsanova O.L., Gilaeva G.V., Zagitov R.M., Nikonorova V.N. On the Capabilities of Improving Metrological Characteristics of Atomic-Emission Analysis of Bottom Sediments. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2015;81(3):16-18. (In Russ.)
Просмотров: 44
Послать статью по эл. почте 