Исследование матричных помех в атомно-эмиссионной спектрометрии с дуговым аргоновым двухструйным плазмотроном
https://doi.org/10.26896/1028-6861-2018-83-1-II-90-97
Аннотация
Изучено влияние матричных элементов Rb, K, Na, Ba, Sr, Ca, Ce, La, Y на условия возбуждения спектров в плазменной струе дугового аргонового двухструйного плазмотрона. Выявлены доминирующие механизмы возбуждения атомов и ионов аналита с различными энергетическими характеристиками в присутствии той или иной матрицы. Обнаружен новый вид матричных помех, обусловленных низким вторым ионизационным потенциалом матричных элементов. Такие элементы, особенно имеющие низколежащие уровни двухзарядного иона, уменьшают заселенность возбужденного состояния атома аргона в плазме, что приводит к ослаблению эффективности возбуждения ионной эмиссии аналита через ионизацию Пеннинга.
Ключевые слова
two-jet arc argon plasmatron,
matrix interference,
electronic configuration,
Penning ionization,
charge transfer,
ion-electron recombination,
дуговой аргоновый двухструйный плазмотрон,
матричные помехи,
электронная конфигурация,
ионизация Пеннинга,
перенос заряда,
ион-электронная рекомбинация
Об авторах
А. С. Черевко
Институт почвоведения и агрохимии СО РАН
Россия
Россия
А. А. Морозова
Институт почвоведения и агрохимии СО РАН
Россия
Россия
Список литературы
1. Zaksas N. P. Comparison of excitation mechanisms in the analytical regions of a high-power two-jet plasma / Spectrochim. Acta. Part B. 2015. Vol. 109. P. 39 - 43.
2. Черевко А. С. Исследование степени нарушения локального термодинамического равновесия в аналитической зоне дугового двухструйного плазмотрона / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015. Т. 81. № 1. Ч. II. С. 42 - 47.
3. Тагильцев А. П. Спектральный и химико-спектральный методы анализа проб сложного состава с использованием двухструйного плазмотрона: дис.. канд. техн. наук. - Новосибирск: ИНХ СО РАН, 1986.
4. Лабусов В. А., Гаранин В. Г., Шелпакова И. Р. Многоканальные анализаторы атомно-эмиссионных спектров. Современное состояние и возможности / Журн. аналит. химии. 2012. Т. 67. № 7. С. 697 -707.
5. Черевко А. С., Полякова Г. Е. К вопросу о механизме возбуждения спектров запыленной твердым аэрозолем плазменной струи дугового аргонового двухструйного плазмотрона / Журн. аналит. химии. 2002. Т. 57. № 12. С. 1262 1266.
6. Yudelevich I. G., Cherevko A. S., Engelsht V. S. at. al. Atwo-jet plasmatron for the spectrochemical analesis of geological samples / Spectrochim. Acta. Part B. 1984. Vol. 39. P. 777 785.
7. Черевко А. С., Сысо А. И. Атомно-эмиссионное спектрографическое определение микроэлементов в объектах окружающей среды с дуговым аргоновым двухструйным плазмотроном / Журн. аналит. химии. 2009. Т. 64. № 8. С. 828 836.
8. Vanhaecke F., Vandecasteele C., Vanhoe H., Dams R. Study of the intensity of M+, M2+, MO+ signals in ICP-MS as a function of instrumental parameters / Microchim. Acta. 1992. Vol. 108. P. 41 51.
9. Moore C. E. Atomic energy levels as derived from the analyses of optical spectra. - Washington: National Bureau of Standards, 1971.
10. Martin M. C., Zalubas R., Hagan L. Atomic energy levels - The Rare-Earth Elements. -Washington: National Bureau of Standards, 1978.
11. Ralchenko Yu., Kramida A. E., Reader J., and Team (2011). NIST Atomic Spectra Database (ver. 4.1.0). URL: http://physics.nist.gov/asd (2012, April 25).
12. Hellentin P. The spectrum of doubly ionized barium / Physica Scripta. 1976. Vol. 13. P. 155 165.
13. Persson W., Valind S. The spectrum of doubly ionized strontium / Physica Scripta. 1972. Vol. 5. P. 187 - 200.
Рецензия
Для цитирования:
Черевко А.С., Морозова А.А. Исследование матричных помех в атомно-эмиссионной спектрометрии с дуговым аргоновым двухструйным плазмотроном. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2017;83(1 p.II):90-97. https://doi.org/10.26896/1028-6861-2018-83-1-II-90-97
For citation:
Cherevko A.S., Morozova A.A. Study of Matrix Interference in Atomic Emission Spectrometry with a Two-Jet Arc Argon Plasmatron. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2017;83(1 p.II):90-97. (In Russ.) https://doi.org/10.26896/1028-6861-2018-83-1-II-90-97
Просмотров:
419
Послать статью по эл. почте 