Галиев, Г. Б., Институт сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники РАН, Россия
-
Том 82, № 9 (2016) - ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И СВОЙСТВ ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ И КОНТРОЛЯ
ДИАГНОСТИКА МНОГОСЛОЙНЫХ НАНОМАТЕРИАЛОВ МЕТОДАМИ РЕНТГЕНОВСКОЙ И ЭЛЕКТРОННОЙ КРИСТАЛЛОГРАФИИ
Аннотация PDF (Rus)
ISSN 1028-6861 (Print)
ISSN 2588-0187 (Online)
ISSN 2588-0187 (Online)
