Preview

Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Имамов Р.М., Клечковская В.В., Галиев Г.Б., Пушкарев С.С., Ганин Г.В., Мальцев П.П. ДИАГНОСТИКА МНОГОСЛОЙНЫХ НАНОМАТЕРИАЛОВ МЕТОДАМИ РЕНТГЕНОВСКОЙ И ЭЛЕКТРОННОЙ КРИСТАЛЛОГРАФИИ. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2016;82(9):31-42.

For citation:


Imamov R.M., Klechkovskaya V.V., Galiev G.B., Pushkarev S.S., Ganin G.V., Maltsev P.P. Diagnostics of Multilayer Nanomaterials Using Methods of X-Ray and Electron Crystallography. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2016;82(9):31-42. (In Russ.)

Просмотров: 21


ISSN 1028-6861 (Print)
ISSN 2588-0187 (Online)