Для цитирования:

Николаева И.В., Кравченко А.А., Палесский С.В., Нечепуренко С.Ф., Семенова Д.В. ЭЛЕМЕНТНЫЙ АНАЛИЗ РАСТИТЕЛЬНЫХ СТАНДАРТНЫХ ОБРАЗЦОВ МЕТОДАМИ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИИ АТОМНО-ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ ИНДУКТИВНО-СВЯЗАННОЙ ПЛАЗМОЙ. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2019;85(6):11-24. https://doi.org/10.26896/1028-6861-2019-85-6-11-24

For citation:

Nikolaeva I.V., Kravchenko A.A., Palessky S.V., Nechepurenko S.V., Semenova D.V. ICP-MS AND ICP-AES ANALYSIS OF PLANT REFERENCE MATERIALS. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2019;85(6):11-24. (In Russ.) https://doi.org/10.26896/1028-6861-2019-85-6-11-24