Для цитирования:

Павлов В.Ф. Причина уширения брэгговских дифракционных пиков, снятых от шлифованных поверхностей пластин монокристаллического кремния. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015;81(10):27-31.

For citation:

Pavlov V.F. The Reason for Broadening of Bragg Diffraction Peaks Obtained from the Lapped Surfaces of Single-Crystal Silicon Plates. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2015;81(10):27-31. (In Russ.)