О технической диагностике качества диодных матриц
Аннотация
Об авторах
В. И. ОрловРоссия
Н. А. Сергеева
Россия
Е. А. Чжан
Россия
Список литературы
1. Орлов А. И. Математические методы исследования и диагностика материалов (обобщающая статья) / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2003. Т. 69. № 3. С. 53 - 64.
2. ГОСТ Р 53711-2009. Изделия электронной техники. Правила приемки // Система стандартов по информации, библиотечному и издательскому делу. - М.: Стандартинформ, 2010.
3. Орлов А. И. Прикладная статистика. - М.: Экзамен, 2006. - 671 с.
4. Новиков Д. А., Орлов А. И. Математические методы классификации / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 4. С. 3.
5. Орлов В. И., Сергеева Н. А., Чжан Е. А. Техническая диагностика электрорадиоизделий / Труды XII Всероссийского совещания по проблемам управления ВСПУ-2014. Москва, 16 - 19 июня, 2014. С. 7676 - 7682.
6. Орлов В. И., Сергеева Н. А. О непараметрической диагностике и управлении процессом изготовления электрорадиоизделий / Вестник Сибирского государственного аэрокосмического университета им. Академика М. Ф. Решетнева. 2013. № 2(48). С. 70 - 75.
Рецензия
Для цитирования:
Орлов В.И., Сергеева Н.А., Чжан Е.А. О технической диагностике качества диодных матриц. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015;81(5):71-76.
For citation:
Orlov V.I., Sergeeva N.A., Chzhan E.A. On the Technical Diagnostics of the Quality of Diode Arrangements. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2015;81(5):71-76. (In Russ.)