On the Technical Diagnostics of the Quality of Diode Arrangements
Abstract
A problem of quality control of electronic components by the results of non-destruction testing is considered. An example of grouping diode arrangements proceeding from the results of burn-in testing is presented. We have shown that diodes of the same matrix have different properties and can be devided into two groups and propose to optimize the process of the diode manufacture within the framework of process specifications.
About the Authors
V. I. Orlov
ОАО «Испытательный технический центр - НПО ПМ»
Russian Federation
Russian Federation
N. A. Sergeeva
Сибирский федеральный университет
Russian Federation
Russian Federation
E. A. Chzhan
Сибирский федеральный университет
Russian Federation
Russian Federation
References
1. Орлов А. И. Математические методы исследования и диагностика материалов (обобщающая статья) / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2003. Т. 69. № 3. С. 53 - 64.
2. ГОСТ Р 53711-2009. Изделия электронной техники. Правила приемки // Система стандартов по информации, библиотечному и издательскому делу. - М.: Стандартинформ, 2010.
3. Орлов А. И. Прикладная статистика. - М.: Экзамен, 2006. - 671 с.
4. Новиков Д. А., Орлов А. И. Математические методы классификации / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012. Т. 78. № 4. С. 3.
5. Орлов В. И., Сергеева Н. А., Чжан Е. А. Техническая диагностика электрорадиоизделий / Труды XII Всероссийского совещания по проблемам управления ВСПУ-2014. Москва, 16 - 19 июня, 2014. С. 7676 - 7682.
6. Орлов В. И., Сергеева Н. А. О непараметрической диагностике и управлении процессом изготовления электрорадиоизделий / Вестник Сибирского государственного аэрокосмического университета им. Академика М. Ф. Решетнева. 2013. № 2(48). С. 70 - 75.
Review
For citations:
Orlov V.I., Sergeeva N.A., Chzhan E.A. On the Technical Diagnostics of the Quality of Diode Arrangements. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2015;81(5):71-76. (In Russ.)
Views:
279
Email this article 