Влияние высокотемпературного отжига на анизотропию микротвердости кристаллов семейства лангасита

Исследована микротвердость монокристаллов семейства лантан-галлиевого силиката тригонального класса симметрии 32 пространственной группы Р₃₂₁ по методу Кнуппа. Обнаружена анизотропия микротвердости II рода (микротвердость различных кристаллографических плоскостей кристалла) на кристаллографических плоскостях (1120), (0110), (0001). Изучено влияние высокотемпературного отжига на восстановление отпечатка после индентирования по методу Кнуппа. Установлено влияние атмосферы отжига на анизотропию микротвердости II рода на основных кристаллографических плоскостях (1120), (0110), (0001) монокристаллов семейства лангасита.

microhardness, microhardness anisotropy, Knoop method, mass transfer, single crystals of the langasite family, annealing in vacuum and in air, atomic-force microscopy (AFM), микротвердость, анизотропия микротвердости, метод Кнуппа, массоперенос, монокристаллы семейства лангасита, отжиг в вакууме и на воздухе, атомно-силовой микроскоп (АСМ)

1. Гринев Б.В., Дубовик М.Ф., Толмачев А.В. Оптические монокристаллы сложных оксидных соединений. - Харьков: Институт монокристаллов, 2002. - 251 с.

2. Mill B.V., Pisarevsky Yu.V. Langasite-type materials: from discovery to present state / Proc. 2000 IEEE Inter. Frequency Control Symp. 2000. P. 133 - 144.

3. Милль Б.В., Буташин А.В., Ходжабагян Г.Г. и др. Модифицированные редкоземельные галлаты со структурой Ca3Ga2Ge4O14 / Доклады Академии Наук СССР. 1982. Т. 264. № 6.С. 1385- 1389.

4. Кугаенко О.М., Уварова С.С., Бузанов О.А. и др. Основные теплофизические параметры монокристаллов лангасита (LajGajSiO14, лангатата (La3Ta0,5Ga5,5O14) и катангасита (Ca3Ga2Ge4O14) в интервале температур от комнатной до 1000 °С / Известия РАН. Серия физическая. 2012. Т. 76. С. 1406- 1411.

5. Андреев И.А. Монокристаллы семейства лангасита - необычное сочетание свойств для применения в акустоэлектронике / Журнал технической физики. 2006. Т. 76. № 76. С. 80-86.

6. Аронова А.М., Бережкова Г. В., Буташин А.В. и др. Прочность и пластичность монокристаллов La3Ga5SiO14 / Кристаллография. 1990. С. 93.

7. Кугаенко О.М., Уварова С. С., Бузанов О.А. и др. Пластическая деформация пьезоэлектрических кристаллов лантан-галлиевого танталата при циклических механических воздействиях / Деформация и разрушение материалов. 2012. № 2. С. 16-21.

8. Колесников Ю.В., Морозов Е.М. Механика контактного разрушения. - М.: Наука, 1989. - 224 с.

9. Sakharov S., Pisarevsky Y., Medvedev A. Surface and volume defects in langasite crystals / Proc. IEEE International Frequency Control Symposium. 1995. P. 642 - 646.

10. Доморощина Е.H., Кузьмичева Г.М., Рыбаков В.Б., Дубовский А.Б., Тюнина Е.А., Степанов С.Ю. Связь между условиями выращивания, строением и оптическими свойствами кристаллов лангасита - La3Ga5SiO14 / Перспективные материалы. 2004. № 4. С. 17 - 30.

11. Бузанов О.А., Диденко И.С., Козлова Н.С., Скрылева Е.А., Козлова А.П., Симинел Н.А. Влияние изотермического отжига на оптические параметры лантан-галлиевого танталата / Известия вузов. Материалы электронной техники. 2012. № 1. С. 22-25.

12. Физико-химические свойства окислов. Справочник под редакцией Г.В. Самсонова. - М.: Металлургия, 1978. - 472 с.

13. Кугаенко О.М., Петраков В.С., Сагалова Т. Б. и др. Рентгеноструктурные исследования температурной устойчивости структуры кристаллов семейства лангасита / Сборник материалов Третьей международной молодежной научной школы-семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии) и актуальные проблемы рентгеновской оптики». - В. Новгород, 2011. С. 68 - 69.

14. Акчурин М.Ш., Галстян В.Г., Регель В.Р., Рожанский В.Н. Микрокадотолюминесцентное исследование перемещения точечных дефектов при индентировании тугоплавких кристаллов / Поверхность. Физика, химия, механика. 1983. № 3. С. 119-123.

15. Акчурин М.Ш., Галстян В.Г., Регель В.Р. О природе деформирования кристаллов сосредоточенной нагрузкой. РЭМ исследования / Изв. АН СССР. Сер. Физика. 1991. Т. 5. № 8. С. 1556- 1567.