Для цитирования:

Нарцев В.М., Аткарская А.Б. РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ АНАЛИЗ СОСТАВА ТОНКИХ ПОКРЫТИЙ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ МЕТОДА ФУНДАМЕНТАЛЬНЫХ ПАРАМЕТРОВ. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2016;82(3):29-35.

For citation:

Nartsev V.M., Atkarskaya A.B. X-ray Fluorescence Analysis of the thin Coatings Using the Method of Fundamental Parameters. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2016;82(3):29-35. (In Russ.)