Для цитирования:

Мамонтов А.И., Петраков А.П., Зимин С.П. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия пористых слоев PbTe на кремниевой подложке. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2016;82(4):31-35.

For citation:

Mamontov A.I., Petrakov A.P., Zimin S.P. High Resolution X-Ray Diffractometry of Porous PbTe Layers on Silicon Substrates. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2016;82(4):31-35. (In Russ.)