Preview

Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Ахметханов Р.С. Применение вейвлет-анализа и теории фракталов в исследовании изображений микрошлифов. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2015;81(3):31-37.

For citation:


Akhmetkhanov R.S. Application of Wavelet Analysis and Fractal Theory to the Study of Microetch Images. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2015;81(3):31-37. (In Russ.)

Просмотров: 135


ISSN 1028-6861 (Print)
ISSN 2588-0187 (Online)